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    • 4. 发明申请
    • BELEUCHTUNGSANORDNUNG
    • 照明装置
    • WO2003029875A2
    • 2003-04-10
    • PCT/EP2002/010849
    • 2002-09-27
    • CARL ZEISS MICROELECTRONIC SYSTEMS GMBHERDMANN, LarsSTEINER, ReinhardBRUNNER, RobertBURKHARDT, MatthiasBISCHOFF, Jörg
    • ERDMANN, LarsSTEINER, ReinhardBRUNNER, RobertBURKHARDT, MatthiasBISCHOFF, Jörg
    • G02B26/06
    • G02B27/4244G02B27/425G02B27/48
    • Bei einer Beleuchtungsanordnung mit einem einen Spiegel (2) aufweisenden Kohärenzminderer (1), der mittels des Spiegels (2) einem zugeführten kohärenten Strahlenbündel (10) unterschiedliche Phasenverschiebungen in Abhängigkeit von der Position im Strahlquerschnitt einprägt und als Beleuchtungsstrahlenbündel (11) abgibt, und mit einer dem Kohärenzminderer (1) nachgeordneten Beleuchtungsoptik zum Beleuchten eines Objektfeldes, die eine Mikrooptik (4; 19) mit einer Vielzahl von Optikelementen (9; 20), die rasterartig angeordnet sind, und eine der Mikrooptik (4; 19) nachgeordnete Abbildungsoptik (5) umfasst, umfasst der Spiegel ein Spiegelelement (2), dessen Oberfläche in mehrere Spiegelteilflächen (8) aufgeteilt ist, die zueinander parallel angeordnet und in Richtung ihrer Flächennormalen versetzt sind, wobei das zugeführte Strahlenbündel (10) an den Spiegelteilflächen (8) derart reflektiert wird, dass von den Spiegelteilflächen (8) Beleuchtungsteilstrahlenbündel (11) ausgehen, die zusammen das Beleuchtungsstrahlenbündel mit den unterschiedlichen Phasenverschiebungen bilden.
    • 在具有一个反射镜(2),具有相干性减速器的照明装置(1),由反射镜的装置(2)所提供的相干辐射束(10)印象取决于在光束横截面中的位置不同的相移,并作为照明光束(11)的输出,并 相干减速器(1)的照明光学部件的下游,用于照明物场,微光学器件(4; 19),其具有多个光学元件(9; 20)(4; 19),其被布置网格状的方式,和一个微光学下游的成像光学器件(5 包括),反射镜包括反射镜元件(2),其表面的多个反射镜表面部分(8)被分割,其被相互平行地布置,并抵消在它们的表面的法线方向,其特征在于,所提供的辐射光束(10)(到反射镜表面部分8)反射的这样 是反射镜表面部分(8)的部分照明光束(11)比其它 地址,它们共同形成与不同相移的照明光束。
    • 5. 发明申请
    • ANAODNUNG ZUR VERMINDERUNG DER KOHÄRENZ EINES LICHTBÜNDELS
    • ANAODNUNG以减少光束的协调性
    • WO2004031838A1
    • 2004-04-15
    • PCT/EP2003/010075
    • 2003-09-11
    • CARL ZEISS MICROELECTRONIC SYSTEMS GMBHMENCK, AlexanderBISCHOFF, Jörg
    • MENCK, AlexanderBISCHOFF, Jörg
    • G02B27/48
    • G02B27/144G02B27/143G02B27/48
    • Die Erfindung bezieht sich auf eine Anordnung zur Verminderung der Kohärenz eines Lichtbündels, insbesondere eines Laserlichtbündels zur Beleuchtung einer Bildfläche oder einer Probe. Erfindungsgemäß umfaßt eine solche Anordnung einen Strahlteiler (2), an dem ein einfallendes Lichtbündel (1) in zwei orthogonale Teilbündel (4,6) aufgespalten wird, und zwei reflektierende Elemente, von denen mindestens eines als Umkehrprisma (7) ausgebildet ist. Dabei ist jeweils ein Teilbündel (4,6) auf ein reflektierendes Element gerichtet und wird von dort zum Strahlteiler (2) zurückgeworfen. Die reflektierenden Elemente sind in unterschiedlichen Abständen vom Strahlteiler (2) positioniert, so daß die Teilbündel (4,6) den Strahlteiler (2) in umgekehrter Richtung wieder passieren und dabei zu einem abgehenden Lichtbündel (8) vereinigt werden, in dem die Kohärenz vermindert ist.
    • 本发明涉及一种装置,用于减少光束的相干性,特别是激光束用于照射的图像区域或样品。 根据本发明,这样的装置包括在其上的入射光束(1)被划分为两个正交子光束(4,6),和两个反射元件,它们被作为反向棱镜(7)的至少一种形成的分束器(2)。 在此,子光束(4,6)是在每种情况下针对一个反射元件并且从那里向分束器(2)反射。 反射元件被定位在从分束器(2)不同的距离,从而使子光束(4,6)穿过在相反方向上的光束分离器(2)再次,从而出射光束(8)相结合,在降低的一致性 是。
    • 7. 发明申请
    • MESSANORDNUNG
    • 测量装置
    • WO2003029793A2
    • 2003-04-10
    • PCT/EP2002/010474
    • 2002-09-18
    • CARL ZEISS MICROELECTRONIC SYSTEMS GMBHDOBSCHAL, Hans-JürgenSTEINER, ReinhardBISCHOFF, Jörg
    • DOBSCHAL, Hans-JürgenSTEINER, ReinhardBISCHOFF, Jörg
    • G01N21/55
    • G01N21/55G01N21/211G01N21/4788G01N2021/4711G01N2021/4714G01N2021/4735G01N2021/4792G01N2201/0635
    • Bei einer Messanordnung mit einer Strahlungsquelle (1), einer dieser nachgeordneten Ablenkeinrichtung (5), die mit einem von der Strahlungsquelle (1) ausgehenden Strahl (2) beaufschlagbar ist und diesen zeitlich nacheinander in unterschiedliche Richtungen abgelenkt, und weiter mit einer ersten und einer zweiten Optikeinrichtung (9, 10) sowie einem Detektor (6), wobei die erste Optikeinrichtung (9) die von der Ablenkeinrichtung (5) kommenden Strahlen jeweils als Messstrahl auf einen Punkt (P) einer in einer Messposition anzuordnenden Probe (11) derart umlenkt, dass der Einfallswinkel des Messstrahls auf die Probe (11) in Abhängigkeit der Richtung variiert, und wobei von der Probe (11) aufgrund der Wechselwirkung der Messstrahlen mit der Probe ausgehende Probenstrahlen mittels der Wechselwirkung der Messstrahlen mit der Probe ausgehende Probenstrahlen mittels der zweiten Optikeinrichtung (10) auf den Detektor (11) umlenkt werden, weist zumindest eine der beiden Optikeinrichtungen (9, 10) ein diffraktives Element (7) zur Umlenkung auf, das die aus unterschiedlichen Richtungen einfallenden Strahlen derart beugt, dass die gebeugten Strahlen einer vorbestimmten Beugungsordnung in einen Punkt (P, D) fokussiert werden.
    • 与辐射源(1),这些下游导流器(5)中的一个,输出与(1)光束(2)的作用时和偏转这些一个接一个地在不同的方向后,辐射源的一个,和另外的第一与一个和​​一个测量装置 第二光学装置(9,10)和一个检测器(6),其中,所述第一光学装置(9)的偏转器(5)的射线分别来作为测量光束的一个点(P)在一个测量位置被安装样品(11)偏转以这样的方式 使得测量光束的入射在样品(11)的角度的变化取决于方向,并且其中所述样品(11)由于通过样品试样光束射出与样品由测量光束的相互作用的装置发射的测量辐射的相互作用由第二光学装置标本光束 (10)偏转到所述检测器(11)包括所述两个光学器件(9中的至少一个,10 )用于偏转上的衍射元件(7)衍射光束入射从不同的方向,使得衍射的预定顺序的衍射光束(在点P,D)被聚焦。