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1. 发明授权

KR100486410B1 회로기판 검사장치용 자동티칭방법 有权
标题翻译：印刷电路板安装检查系统的自动教学方法
公开(公告)号：KR100486410B1
公开(公告)日：2005-04-29
申请号：KR1020020023483
申请日：2002-04-29
申请人： 주식회사 미르기술
发明人： 주병오 , 박상후 , 정준영
IPC分类号： G01R31/309
CPC分类号： H05K13/08 , G09B19/00 , G09B23/183
摘要： 본 발명은 회로기판 검사장치용 자동티칭방법에 관한 것으로서, 실장데이터를 티칭용데이터로 변환하는 데이터변환단계와; 상기 데이터변환단계를 통해 변환된 티칭용데이터에 대한 좌표를 검사장치좌표로 일치시켜 주는 좌표변환단계 및; 상기 데이터변환단계와 좌표변환단계를 통해 생성된 부품좌표, 부품이름, 참조이름, 부품각도등의 티칭용데이터를 기초로하여 검사할 내용을 프로그래밍하는 티칭단계를 포함한다.
상술한 바와 같이 실제 회로기판에 실장되는 부품의 실장데이터를 활용하여 자동티칭이 가능하도록 하여 티칭 작업을 짧은 시간 내에 완료함과 아울러 새로운 회로기판에 대한 셋업 시간을 획기적으로 줄일 수 있다.

2. 发明公开

KR1020050091570A 초점조절수단을 구비한 비전검사장치 및 비전검사방법 有权
标题翻译：视觉检查装置及其使用方法
公开(公告)号：KR1020050091570A
公开(公告)日：2005-09-15
申请号：KR1020040017057
申请日：2004-03-12
申请人： 주식회사 미르기술
发明人： 정준영
IPC分类号： H05K13/08
CPC分类号： H05K13/08 , G01N21/95684 , G01R31/309
摘要： 초점조절수단을 구비한 비전검사장치 및 비전검사방법이 개시된다. 개시된 비전검사장치는 카메라를 광경로방향으로 이동시키는 초점조절수단을 구비한다. 이러한 구성에 따르면, 검사대상물(인쇄회로기판)의 검사위치에 적합하게 렌즈의 초점거리를 가변하며 정확한 영상을 획득할 수 있다. 그리고, 검사대상물(인쇄회로기판)을 동일초점영역을 기준으로 분할한 상태에서 초점조절을 수행하는 비전검사방법을 구현할 수 있어, 고속검사를 수행할 수 있는 효과가 있다.

3. 发明公开

KR1020030085616A 회로기판 검사장치용 자동티칭방법 有权
标题翻译： PCB测试装置的自动教学方法
公开(公告)号：KR1020030085616A
公开(公告)日：2003-11-07
申请号：KR1020020023483
申请日：2002-04-29
申请人： 주식회사 미르기술
发明人： 주병오 , 박상후 , 정준영
IPC分类号： G01R31/309
CPC分类号： H05K13/08 , G09B19/00 , G09B23/183
摘要： PURPOSE: An automatic teaching method for PCB test device is provided to perform an automatic teaching operation by utilizing the mounting data of components mounted on a PCB(Printed Circuit Board). CONSTITUTION: An automatic teaching method for PCB test device includes a data conversion process(S1000), a coordinate transformation process(S2000), and a teaching process(S3000). The data conversion process(S1000) is to convert the mounting data to the teaching data. The coordinate transformation process(S2000) is to transform the coordinates of the converted data of the data conversion process(S1000) to the coordinates of a test device. The teaching process(S3000) is to teach components on the basis of the transformed coordinates.
摘要翻译：目的：提供PCB测试装置的自动教学方法，通过利用安装在PCB（印刷电路板）上的组件的安装数据执行自动教学操作。构成：PCB测试装置的自动教学方法包括数据转换处理（S1000），坐标变换处理（S2000）和教学处理（S3000）。数据转换处理（S1000）将安装数据转换为教学数据。坐标变换处理（S2000）是将数据转换处理的转换数据（S1000）的坐标变换为测试装置的坐标。教学过程（S3000）是基于变换的坐标来教导组件。

4. 外观设计

KR3002990500000S 失效
公开(公告)号：KR3002990500000S
公开(公告)日：2002-06-03
申请号：KR3020010015380
申请日：2001-06-07
申请人： 주식회사 미르기술
设计人： 홍성철 , 정준영 , 박찬화

5. 发明公开

KR1020080029205A 레이저 변위센서를 구비한 비전 검사 시스템 및 비전 검사방법 失效
标题翻译：传感器等离子体检测系统
公开(公告)号：KR1020080029205A
公开(公告)日：2008-04-03
申请号：KR1020060094968
申请日：2006-09-28
申请人： 주식회사 미르기술
发明人： 정준영 , 이동현 , 한용우
IPC分类号： G01B11/24 , G01N21/88 , G01B11/30
摘要： A vision inspection system equipped with a laser displacement sensor and a method thereof are provided to increase measurement accuracy by rotating a three-dimensional measurement device in a direction for canceling interference in an optical path. A vision inspection system equipped with a laser displacement sensor comprises as follows. A main body is equipped with a transfer unit. A movable member(20) installed on the main body moves in a scan direction of an X-Y axis. A two-dimensional measurement unit(30) is moved in a scan direction of an X-axis or a Y-axis by the movable member. A three-dimensional measurement unit(40) is equipped with a light emitting unit and a light receiving unit to measure mounting height of objects. A rotation motor(50) is driven by turning on/off a switch. And, a main controller(60) determines normal mounting state of objects by reading an image obtained from the two-dimensional measurement unit and a measurement signal transmitted from the three-dimensional measurement unit.
摘要翻译：提供了配备有激光位移传感器及其方法的视觉检查系统，以通过在消除光路中的干扰的方向上旋转三维测量装置来提高测量精度。配备有激光位移传感器的视觉检查系统包括如下。主体配有转运单元。安装在主体上的可动构件（20）在X-Y轴的扫描方向上移动。二维测量单元（30）通过可动构件在X轴或Y轴的扫描方向上移动。三维测量单元（40）配备有发光单元和用于测量物体的安装高度的光接收单元。旋转马达（50）通过开/关开关来驱动。并且，主控制器（60）通过读取从二维测量单元获得的图像和从三维测量单元发送的测量信号来确定对象的正常安装状态。

6. 发明授权

KR100715293B1 한조의 Ｘ축 전반사 거울을 이용한 비전검사방법 有权
标题翻译：视力检查方法使用相同
公开(公告)号：KR100715293B1
公开(公告)日：2007-05-08
申请号：KR1020040017062
申请日：2004-03-12
申请人： 주식회사 미르기술
发明人： 정준영
IPC分类号： H05K13/08
摘要： 한조의 X축 전반사 거울을 이용한 비전검사방법이 개시된다. 개시된 비전검사장치는 촬영위치 제어모듈에 한조의 X축 전반사 거울이 설치된다. 이와 같은 구성에 따르면, 2개의 광경로를 통해 검사대상물의 영상을 획득할 수 있는 비전검사방법을 구현할 수 있어, X축 방향으로 면적이 큰 검사대상물의 비전검사시 표면실장부품의 형상왜곡정도를 최소화할 수 있다.

7. 发明授权

KR100903882B1 레이저 변위센서를 구비한 비전 검사 시스템 및 비전 검사방법 失效
标题翻译：配备激光位移传感器的视觉检测系统及其方法
公开(公告)号：KR100903882B1
公开(公告)日：2009-06-24
申请号：KR1020060094968
申请日：2006-09-28
申请人： 주식회사 미르기술
发明人： 정준영 , 이동현 , 한용우
IPC分类号： G01B11/24 , G01N21/88 , G01B11/30
摘要： 본 발명은 레이저 변위센서를 구비한 비전 검사 시스템 및 비전 검사 방법에 관한 것이다.
이 같은 본 발명은, 검사대상물에 의한 3차원 측정장치의 광경로상에 간섭이 일어날 때 3차원 측정장치를 회전시켜 그 측정방향을 변경함으로써, 광경로의 간섭 문제를 해소하고, 이를 통해 검사 대상물의 들뜸 현상을 보다 정밀하게 검사함은 물론, 검사 대상물에 대한 비전 검사시 조명에 의한 난반사를 해소한 것이다.
비전 시스템, 2차원 측정부, 3차원 측정부, 회전모터,

8. 发明公开

KR1020080029206A 분할 조명을 이용한 비전 검사 시스템 无效
标题翻译：使用分光照射的视觉检查系统
公开(公告)号：KR1020080029206A
公开(公告)日：2008-04-03
申请号：KR1020060094969
申请日：2006-09-28
申请人： 주식회사 미르기술
发明人： 정준영 , 민현석
IPC分类号： G01B11/24 , G01N21/88
摘要： A vision inspection system using divided lighting is provided to detect mounting state of an object by dividing a lighting unit into a plurality of areas and lighting the areas independently. A vision inspection system using divided lighting comprises a main body(10), a lighting unit(20), a camera module(30) and a vision processing unit(40). The vision inspection system inspects a state of a component mounted on a printed circuit board(PCB). The lighting unit is divided into a plurality of areas to discriminate mounting state of the component using shadow phenomenon. The areas of the lighting unit are selectively turned on/off by a lighting control program embedded in the vision processing unit.
摘要翻译：提供使用分光的视觉检查系统，通过将照明单元分割成多个区域并独立照明区域来检测物体的安装状态。使用分光的视觉检查系统包括主体（10），照明单元（20），照相机模块（30）和视觉处理单元（40）。视觉检查系统检查安装在印刷电路板（PCB）上的部件的状态。照明单元被划分为多个区域以区分使用阴影现象的部件的安装状态。通过嵌入在视觉处理单元中的照明控制程序来选择性地打开/关闭照明单元的区域。

9. 发明授权

KR100609604B1 초점조절수단을 구비한 비전검사장치 및 비전검사방법 有权
标题翻译：视觉检查装置及其使用方法
公开(公告)号：KR100609604B1
公开(公告)日：2006-08-08
申请号：KR1020040017057
申请日：2004-03-12
申请人： 주식회사 미르기술
发明人： 정준영
IPC分类号： H05K13/08
摘要： 초점조절수단을 구비한 비전검사장치 및 비전검사방법이 개시된다. 개시된 비전검사장치는 카메라를 광경로방향으로 이동시키는 초점조절수단을 구비한다. 이러한 구성에 따르면, 검사대상물(인쇄회로기판)의 검사위치에 적합하게 렌즈의 초점거리를 가변하며 정확한 영상을 획득할 수 있다. 그리고, 검사대상물(인쇄회로기판)을 동일초점영역을 기준으로 분할한 상태에서 초점조절을 수행하는 비전검사방법을 구현할 수 있어, 고속검사를 수행할 수 있는 효과가 있다.

10. 发明公开

KR1020050091574A 한조의 Ｘ축 전반사 거울을 이용한 비전검사방법 有权
标题翻译：视觉检查方法使用一组X轴全反射镜
公开(公告)号：KR1020050091574A
公开(公告)日：2005-09-15
申请号：KR1020040017062
申请日：2004-03-12
申请人： 주식회사 미르기술
发明人： 정준영
IPC分类号： H05K13/08
CPC分类号： H05K13/08 , G01N21/95684 , G01R31/309
摘要： 한조의 X축 전반사 거울을 이용한 비전검사장치 및 비전검사방법이 개시된다. 개시된 비전검사장치는 촬영위치 제어모듈에 한조의 X축 전반사 거울이 설치된다. 이와 같은 구성에 따르면, 2개의 광경로를 통해 검사대상물의 영상을 획득할 수 있는 비전검사방법을 구현할 수 있어, X축 방향으로 면적이 큰 검사대상물의 비전검사시 표면실장부품의 형상왜곡정도를 최소화할 수 있다.

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