会员体验
专利管家(专利管理)
工作空间(专利管理)
风险监控(情报监控)
数据分析(专利分析)
侵权分析(诉讼无效)
联系我们
交流群
官方交流:
QQ群: 891211   
微信请扫码    >>>
现在联系顾问~
热词
    • 3. 发明授权
    • 박막 트랜지스터 및 그 제조 방법
    • 薄膜晶体管及其制造方法
    • KR101812702B1
    • 2018-01-30
    • KR1020100139190
    • 2010-12-30
    • 주성엔지니어링(주)
    • 김재호오동건최도현
    • H01L29/786
    • 본발명은박막트랜지스터및 그제조방법에관한것으로, 게이트전극과, 게이트전극과상하방향으로이격되고, 수평방향으로서로이격된소오스전극및 드레인전극과, 게이트전극과소오스전극및 드레인전극사이에형성된게이트절연막과, 게이트절연막과소오스전극및 드레인전극사이에형성된활성층을포함하고, 활성층은 IGZO 박막을이용하여형성하며, IGZO 박막은화학적증착공정을이용하여적어도이중구조로형성하는박막트랜지스터및 그제조방법이제시된다.
    • 本发明是薄膜晶体管,并且涉及一种制造方法中,在栅极和间隔开的电极和一栅极电极和一垂直方向上,在源电极和漏电极,栅电极和源电极和漏电极的水平方向上间隔开的间形成彼此 包括栅绝缘膜之间形成的有源层,栅极绝缘膜与所述源极电极和漏极电极,活性层,并使用IGZO薄膜形成,IGZO薄膜的薄膜晶体管及其制造通过使用化学气相沉积工艺,以形成至少一个双重结构, 提出了一种方法。
    • 5. 发明公开
    • 박막 트랜지스터 및 그 제조 방법
    • 半导体层叠结构及其制造方法及其薄膜晶体管
    • KR1020110087457A
    • 2011-08-03
    • KR1020100006881
    • 2010-01-26
    • 주성엔지니어링(주)
    • 김재호오동건
    • H01L29/786
    • H01L29/7869H01L29/04H01L29/78696
    • PURPOSE: A semiconductor stacking structure using a zinc oxide thin film, a manufacturing method thereof, and a thin film transistor including the same are provided to complementarily improve the property of a ZnO film by stacking a crystalline ZnO film with low stability, high mobility, and low resistivity on a non-crystalline ZnO film with high stability, low mobility, and high resistivity. CONSTITUTION: Two or more layers with different crystalline structure are formed by being stacked on a substrate(100). At least one layer is included a crystalline ZnO film(110b) and the other layer is included a non-crystalline ZnO film(110a). The non-crystalline ZnO film is formed below 300 degrees of temperature using a source gas and oxygen. The crystalline ZnO film is formed below 300 degrees of temperature using a source gas, oxygen and hydrogen. A step for forming ZnO comprises a step for forming a first non-crystalline ZnO film, a step for forming a crystalline ZnO film, and a step for forming a second non-crystalline ZnO film on the crystalline ZnO film.
    • 目的:提供一种使用氧化锌薄膜的半导体堆叠结构体及其制造方法以及包括该氧化锌薄膜晶体管的薄膜晶体管,以通过堆叠具有低稳定性,高迁移率的结晶ZnO膜来互补地改善ZnO膜的性能, 并且在具有高稳定性,低迁移率和高电阻率的非晶ZnO膜上具有低电阻率。 构成:通过堆叠在基板(100)上形成具有不同晶体结构的两层或更多层。 至少一层包含结晶ZnO膜(110b),另一层包括非结晶ZnO膜(110a)。 使用源气体和氧气将非结晶ZnO膜形成在300度以下的温度。 使用源气体,氧气和氢气,在300度以下的温度下形成结晶ZnO薄膜。 用于形成ZnO的步骤包括用于形成第一非晶ZnO膜的步骤,用于形成结晶ZnO膜的步骤以及在所述结晶ZnO膜上形成第二非晶ZnO膜的步骤。
    • 6. 发明公开
    • 박막 트랜지스터 및 그 제조 방법
    • 薄膜晶体管及其制造方法
    • KR1020120077288A
    • 2012-07-10
    • KR1020100139190
    • 2010-12-30
    • 주성엔지니어링(주)
    • 김재호오동건최도현
    • H01L29/786
    • H01L29/7869H01L21/205H01L29/06H01L29/78696
    • PURPOSE: A thin film transistor and a manufacturing method thereof are provided to improve a working speed by forming an IGZO(Indium Gallium Zinc Oxide) thin film used as an active layer with chemical vapor deposition mode. CONSTITUTION: A gate electrode(110) is formed on a substrate(100). A gate insulating layer(120) is formed on the gate electrode. An active layer(130) is formed on the gate insulating layer. The active layer comprises a first IGZO thin film(132) and a second IGZO thin film(134). A source electrode(140a) and a drain electrode(140b) are formed on the active layer. A protective layer is formed on the active layer between the source electrode and the drain electrode.
    • 目的:提供薄膜晶体管及其制造方法,以通过化学气相沉积模式形成用作有源层的IGZO(铟镓锌氧化物)薄膜来提高工作速度。 构成:在基板(100)上形成栅电极(110)。 栅极绝缘层(120)形成在栅电极上。 在栅极绝缘层上形成有源层(130)。 有源层包括第一IGZO薄膜(132)和第二IGZO薄膜(134)。 源极电极(140a)和漏电极(140b)形成在有源层上。 在源电极和漏电极之间的有源层上形成保护层。