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热词
    • 5. 发明公开
    • 유도 가열 조리기기
    • 感应加热烹饪机
    • KR1020150060425A
    • 2015-06-03
    • KR1020130144821
    • 2013-11-26
    • 삼성전자주식회사
    • 이지형강준석사이먼이영석
    • H05B6/12A47J27/00
    • H05B6/1218G06F3/14G06T11/00G06T11/20G09G3/002H05B2206/022
    • 유도가열조리기기는조리용기가올려놓이는강화내열유리와, 상기강화내열유리의아래에위치되고자기장을발생시키는유도코일부와, 유도코일부의반경방향외측및 강화내열유리의수직방향아래측에원주방향을따라상호이격되도록마련되는다수의엘이디들과, 다수의엘이디들의전면에각각마련되는다수의볼록렌즈들과, 강화내열유리의저면에마련되는광차단필름과, 다수의엘이디들에서발산된빛이통과하도록광차단필름에형성되는슬릿을포함하여, 엘이디들에서발산되는빛은경사투영되어조리용기의측면하단부에실제와유사한불꽃이미지를형성한다.
    • 一个感应加热烹调器包括一个耐热钢化玻璃,烹饪容器位于该耐火钢化玻璃上; 感应线圈部分,其位于耐热钢化玻璃下方并产生磁场; 多个LED,其在所述耐热钢化玻璃的垂直方向的周向上分别形成在所述感应线圈部的半径方向外侧; 多个凸透镜,形成在LED的前侧; 形成在耐热钢化玻璃的下侧的遮光膜; 以及形成在遮光膜上以透射从LED发射的光的狭缝。 通过倾斜投影从LED发射的光,在烹饪容器的侧面的下侧形成类似于真实火焰的火焰图像。
    • 6. 发明公开
    • LDPC 부호 복호기 및 복호 방법
    • 低密度奇偶校验码解码器和解码方法
    • KR1020130118162A
    • 2013-10-29
    • KR1020120041138
    • 2012-04-19
    • 삼성전자주식회사광운대학교 산학협력단
    • 양호이현석서성삼이영석
    • H03M13/11
    • H03M13/13H03M13/1117H03M13/1122H03M13/114
    • PURPOSE: A low density parity-check code (LDPC) decoder and a decoding method thereof are provided to decode an LDPC by using the minimum memory. CONSTITUTION: An LDPC decoder (100) comprises a first calculator (101), a second calculator (102), and a third calculator (103). The first calculator calculates the message of a variable node. The second calculator calculates the message of a check node. The third calculator calculates log likelihood ratio (LLR) data of a channel by using the message of the variable node and the message of the check node. [Reference numerals] (100) LDPC encoder and decoder; (101) First calculator; (102) Second calculator; (103) Third calculator
    • 目的:提供一种低密度奇偶校验码(LDPC)解码器及其解码方法,以便通过使用最小存储器解码LDPC。 构成:LDPC解码器(100)包括第一计算器(101),第二计算器(102)和第三计算器(103)。 第一个计算器计算变量节点的消息。 第二个计算器计算校验节点的消息。 第三计算器通过使用变量节点的消息和校验节点的消息来计算信道的对数似然比(LLR)数据。 (100)LDPC编码器和解码器; (101)第一计算器; (102)第二计算器; (103)第三计算器
    • 9. 发明公开
    • 반도체 장치의 테스트 장치
    • 半导体存储器件的测试装置
    • KR1020100065683A
    • 2010-06-17
    • KR1020080124145
    • 2008-12-08
    • 삼성전자주식회사
    • 이영석조세욱
    • G01R31/26H01L21/66
    • G01R31/286G01R31/2879G01R31/31924
    • PURPOSE: A testing device of a semiconductor device is provided to conduct a high speed power up test by independently controlling a power up slope of the semiconductor device in automatic testing equipment. CONSTITUTION: A first power source(120) supplies a first testing equipment power supply voltage. A first power supply voltage generator is comprised of a first switching unit(140), which outputs a first semiconductor device power supply voltage that drastically rises in response to a first power supply voltage enabling signal. A bulk capacitor enhances the retention property of a power supply voltage by receiving the first testing equipment power supply voltage and maintaining the level. A first bypass capacitor(Cp1) prevents the phenomenon of the first testing equipment supply voltage being instantaneously knocked down. A second bypass capacitor(Cp2) eliminates the noise of a high frequency and outputs it.
    • 目的:提供半导体器件的测试装置,通过独立控制自动测试设备中的半导体器件的上电斜率进行高速上电测试。 规定:第一电源(120)提供第一测试设备电源电压。 第一电源电压发生器包括第一开关单元(140),其输出响应于第一电源电压使能信号急剧上升的第一半导体器件电源电压。 大容量电容器通过接收第一测试设备电源电压并维持电平来增强电源电压的保持性能。 第一旁路电容器(Cp1)防止第一测试设备电源电压瞬间被击倒的现象。 第二个旁路电容(Cp2)消除了高频噪声并输出。