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热词
    • 3. 发明公开
    • 이미지 센서
    • 图像传感器
    • KR1020120090352A
    • 2012-08-17
    • KR1020110010725
    • 2011-02-07
    • 삼성전자주식회사
    • 신종철
    • H01L27/146
    • H01L27/14643H01L27/14607H01L27/14614H01L27/14616H01L27/14638H01L27/1464H01L27/14645H01L27/14689H01L27/14625
    • PURPOSE: An image sensor is provided to reduce a dark current and a white spot phenomenon due to surface defect by inserting a transfer gate electrode into a semiconductor substrate. CONSTITUTION: A semiconductor substrate has a light-receiving region. A gate electrode(123) is inserted within a semiconductor substrate. The light-receiving region comprises a bottom impurity region, a top impurity region, and a channel region. The gate electrode is inserted into the channel region. The gate electrode is formed into a ring shape surrounding the top impurity region. The upper surface of the gate electrode is lower than or equal to the upper surface of the semiconductor substrate. The boundary surface of the bottom impurity region and the channel region is flat.
    • 目的:提供一种图像传感器,用于通过将传输栅电极插入到半导体衬底中来减少由于表面缺陷引起的暗电流和白点现象。 构成:半导体衬底具有光接收区域。 栅电极(123)插入半导体衬底内。 光接收区域包括底部杂质区域,顶部杂质区域和沟道区域。 栅电极插入沟道区。 栅电极形成为围绕顶部杂质区域的环形。 栅电极的上表面低于或等于半导体衬底的上表面。 底部杂质区域和沟道区域的边界表面是平坦的。
    • 4. 发明公开
    • 다이내믹 랜덤 액세스 메모리의 부분 액세스 장치 및 방법
    • 部分访问动态随机访问记忆的装置和方法
    • KR1020080047907A
    • 2008-05-30
    • KR1020060117910
    • 2006-11-27
    • 삼성전자주식회사
    • 양상준신종철
    • G11C11/4076
    • G06F13/1684G06F12/0253G06F13/1642Y02D10/13Y02D10/14
    • A partial access apparatus of a dynamic random access memory and a method thereof are provided to obtain higher data transmission rate, by reducing garbage cycle in case of access request for a DRAM. According to a partial access apparatus of a dynamic random access memory including a memory controller(302) to control the dynamic random access memory, the memory controller includes a first sub controller(303) and a second sub controller(304). The first sub controller controls a first dynamic random access memory, and the second sub controller controls a second dynamic random access memory. The first sub controller allocates first continuous data with length smaller than or equal to burst length of the dynamic random access memories to a first dynamic random access memory(104).
    • 提供了一种动态随机存取存储器的部分存取装置及其方法,用于通过在对DRAM进行访问请求的情况下减少垃圾循环来获得更高的数据传输速率。 根据包括用于控制动态随机存取存储器的存储器控​​制器(302)的动态随机存取存储器的部分存取装置,存储器控制器包括第一子控制器(303)和第二副控制器(304)。 第一子控制器控制第一动态随机存取存储器,第二子控制器控制第二动态随机存取存储器。 第一子控制器将长度小于或等于动态随机存取存储器的突发长度的第一连续数据分配给第一动态随机存取存储器(104)。
    • 7. 发明公开
    • 휴대용 단말기의 회전성 카메라 모듈
    • 便携式终端可旋转相机模块
    • KR1020060087160A
    • 2006-08-02
    • KR1020050008047
    • 2005-01-28
    • 삼성전자주식회사
    • 장유철신종철
    • H04B1/38
    • 본 발명은 휴대용 단말기의 회전성 카메라 모듈에 있어서, 렌즈 하우징; 상기 렌즈 하우징으로부터 연장되어 단말기 상에 상기 렌즈 하우징을 회전 가능하게 결합시키는 회전 지지축; 상기 렌즈 하우징과 단말기 사이에 개재되어 상기 렌즈 하우징 회전시 마찰력을 제공하는 실리콘 패드; 상기 회전 지지축 상에 돌출 형성된 적어도 하나 이상의 돌기; 및 상기 단말기 상에 탄성 지지되고, 상기 렌즈 하우징이 회전함에 따라 상기 돌기와 간섭되는 캠을 구비함을 특징으로 하는 휴대용 단말기의 회전성 카메라 모듈을 개시한다. 상기와 같이 구성된 실리콘 패드가 렌즈 하우징이 회전하는 동안 마찰력을 제공하여 사용자에게 안정감을 제공하고, 렌즈 하우징의 회전이 멈춰진 상태에서도 고정 상태를 안정되게 유지시킬 수 있다. 또한, 회전 지지축 상에 형성된 돌기와 탄성력을 제공받는 캠이 상호 간섭되어 렌즈 하우징의 제한된 회전 범위를 사용자가 쉽게 인지할 수 있게 하여 카메라 모듈의 가요성 회로의 파손을 방지할 수 있다.
      단말기, 카메라, 회전, 실리콘 패드, 캠
    • 8. 发明公开
    • CMOS 이미지 센서 및 그 제조 방법
    • CMOS图像传感器及其制造方法
    • KR1020060040065A
    • 2006-05-10
    • KR1020040089255
    • 2004-11-04
    • 삼성전자주식회사
    • 박찬신종철
    • H01L27/146H01L31/10
    • H01L27/14616H01L27/1461H01L27/14689
    • N형의 포토다이오드 위에 있는 HAD (hole accumulated device) 영역의 표면에 얕은 표면 확산 영역이 형성되어 있는 CMOS 이미지 센서 및 그 제조 방법에 관하여 개시한다. 본 발명에 따른 CMOS 이미지 센서는 반도체 기판에 그 표면으로부터 제1 깊이까지 형성되어 있는 제1 도전형의 포토다이오드와, 상기 포토다이오드의 위에서 상기 반도체 기판의 표면으로부터 상기 제1 깊이보다 얕은 제2 깊이까지 형성된 제1 도전형과 반대인 제2 도전형의 HAD 영역과, 상기 HAD 영역 위에서 상기 반도체 기판의 표면으로부터 상기 제2 깊이보다 얕은 제3 깊이까지 형성된 상기 제1 도전형의 표면 확산 영역을 포함한다.
      CMOS 이미지 센서, 포토다이오드, HAD, 백점, 계면 결함
    • 一种CMOS图像传感器及其制造方法,其中,在NAD光电二极管上的HAD(空穴积累元件)区域的表面上形成浅表面扩散区域。 根据本发明的CMOS图像传感器包括:半导体衬底,具有在半导体衬底上从其表面到第一深度形成的第一导电类型光电二极管;以及第二深度 以及从半导体衬底的表面到比第二深度浅的第三深度形成在HAD区域上的第二导电型表面扩散区域。 的。
    • 9. 发明授权
    • 전하결합소자형이미지센서
    • KR100515019B1
    • 2005-11-29
    • KR1019970042218
    • 1997-08-28
    • 삼성전자주식회사
    • 신종철
    • H01L27/146
    • 본 발명의 따른 CCD형 이미지 센서의 단위 화소는 N형의 반도체 기판과; 상기 반도체 기판 상에 형성된 게이트 산화막과; 상기 게이트 산화막 상에 형성된 게이트 전극과; 상기 반도체 기판 내에 형성된 P형의 웰 영역과; 상기 게이트 전극 하부의 상기 P형의 웰 영역 내에 형성되어 있되, 상기 게이트 전극의 폭 보다 상대적으로 작은 폭을 갖도록 형성된 N형의 제 1 불순물 영역과; 상기 게이트 전극의 일측 하부의 상기 웰 영역 내에 상기 게이트 전극과 소정 부분이 중첩되도록 형성된 N형의 제 2 불순물 영역과; 상기 게이트 전극 하부에 형성되어 있되, 상기 제 1 및 제 2 불순물 영역들 사이에 형성된 P형의 제 3 불순물 영역 및; 상기 제 1 불순물 영역 하부의 중앙부에 형성되어 있되, 상기 제 1 불순물 영역의 폭 보다 상대적으로 작은 폭을 갖도록 형성된 P형의 제 4 불순물 영역을 포함한다.