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1. 发明授权

KR102005483B1 박막 트랜지스터 기판 및 그의 수리 방법 有权
公开(公告)号：KR102005483B1
公开(公告)日：2019-07-31
申请号：KR1020120116738
申请日：2012-10-19
申请人： 삼성디스플레이 주식회사
发明人： 김광해 , 김동규 , 정관욱 , 김무진
IPC分类号： H01L51/56 , H01L29/786

2. 发明授权

KR101944916B1 박막 트랜지스터 어레이 기판, 이를 포함하는 유기 발광 표시 장치 및 그 제조 방법 有权
公开(公告)号：KR101944916B1
公开(公告)日：2019-02-08
申请号：KR1020110076574
申请日：2011-08-01
申请人： 삼성디스플레이 주식회사
发明人： 김광해 , 정관욱 , 박종현
IPC分类号： H01L29/786 , H01L51/50

3. 发明授权

KR101910080B1 주사 구동 회로 및 이의 리페어 방법 有权
公开(公告)号：KR101910080B1
公开(公告)日：2018-12-20
申请号：KR1020110131119
申请日：2011-12-08
申请人： 삼성디스플레이 주식회사
发明人： 김광해 , 최재범 , 정관욱 , 이준우 , 김무진 , 최종현
IPC分类号： G09G3/30
摘要： 본 발명은 주사 구동 회로 및 이의 리페어 방법을 개시한다.
본 발명의 주사 구동 회로는, 한 프레임의 기간 중 일부 구간에 대해 각 주사선 별로 순차적으로 인가되는 제1주사신호를 제1출력선으로 출력하는 쉬프트 레지스터; 상기 일부 구간 이외의 구간에서는 전체 주사선에 대해 동시에 인가되는 제2주사신호를 제2출력선으로 출력하는 동시구동회로; 상기 제2출력선과 전기적으로 연결된 스위칭 소자; 및 상기 제1출력선 및 상기 제2출력선과 교차하도록 형성된 리페어선;을 포함할 수 있다.

4. 发明授权

KR101924078B1 유기 발광 표시 장치 및 유기 발광 표시 장치의 리페어 방법 有权
公开(公告)号：KR101924078B1
公开(公告)日：2018-12-03
申请号：KR1020120033397
申请日：2012-03-30
申请人： 삼성디스플레이 주식회사
发明人： 김광해 , 최재범 , 정관욱 , 이준우 , 김무진 , 김희경
IPC分类号： H01L51/50 , H01L51/56
摘要： 제1 전극, 상기 제1 전극 상에 위치하는 유기 발광층 및 상기 유기 발광층 상에 위치하는 제2 전극을 포함하는 유기 발광 표시 장치는 기판, 상기 기판 상에 위치하는 액티브층, 상기 액티브층 상에 위치하며 상기 제1 전극과 동일한 층에 위치하는 게이트 전극, 상기 게이트 전극 상에 위치하며 상기 액티브층과 연결된 소스 전극 및 드레인 전극을 포함하는 박막 트랜지스터, 상기 소스 전극 및 드레인 전극과 상기 제2 전극 사이에 위치하며, 상기 제1 전극을 노출하는 화소 개구부 및 상기 소스 전극과 드레인 전극 중 하나 이상을 노출하는 핀홀 개구부를 포함하는 화소 정의층, 및 상기 핀홀 개구부에 채워진 도포부를 포함한다.

5. 发明授权

KR101848884B1 유기 발광 표시 장치 및 유기 발광 표시 장치 패턴 검사 방법 有权
标题翻译：有机发光显示装置和有机发光显示装置图案检查方法
公开(公告)号：KR101848884B1
公开(公告)日：2018-04-16
申请号：KR1020110120345
申请日：2011-11-17
申请人： 삼성디스플레이 주식회사
发明人： 이준우 , 최재범 , 정관욱 , 김광해 , 김가영
IPC分类号： H01L51/50 , H01L51/56
CPC分类号： H01L27/3276 , H01L22/30 , H01L51/0031 , H05B33/10
摘要： 전기적특성을용이하게향상하도록본 발명은표시영역및 비표시영역이정의되는기판, 상기표시영역상에배치되는제1 전극, 상기제1 전극상에배치되고유기발광층을구비하는중간층, 상기중간층상에배치되는제2 전극및 상기비표시영역에배치되고상기제1 전극과동일한재료로형성되는제1 도전패턴층및 상기제1 도전패턴층상에형성되는제2 도전패턴층을각각구비하는복수의검출패턴을구비하는검출부를포함하는유기발광표시장치및 유기발광표시장치패턴검사방법을제공한다.

6. 发明授权

KR101834464B1 유기 발광 표시 장치 및 그 제조방법 有权
标题翻译：有机发光显示装置及其制造方法
公开(公告)号：KR101834464B1
公开(公告)日：2018-03-06
申请号：KR1020110124400
申请日：2011-11-25
申请人： 삼성디스플레이 주식회사
发明人： 김광해 , 최재범 , 정관욱 , 이준우 , 김무진
IPC分类号： H01L51/50 , H01L51/56
CPC分类号： H01L33/08 , H01L27/1222 , H01L27/124 , H01L27/1288 , H01L27/326 , H01L33/38
摘要： 유기발광표시장치및 그제조방법이개시된다. 개시된유기발광표시장치는기판상의전체영역에걸쳐서활성층을균일하게형성하는단계와; 활성층상부에화소전극과게이트전극및 상부전극의패턴을각각형성하는제1마스크공정단계와; 화소전극과, 상부전극및, 박막트랜지스터영역의활성층을각각노출시키는개구가있는절연층을형성하는제2마스크공정단계와; 활성층의노출된부위에접촉하는소스드레인전극을형성하는제3마스크공정단계; 및, 화소전극을노출시키고박막트랜지스터와커패시터영역은덮는화소정의막을형성하는제4마스크공정단계;를통해제조된다. 이러한방식에의하면활성층의마스크패터닝과정이생략되므로마스크수의저감에따른비용의절감및 제조공정의단순화를실현할수 있다.
摘要翻译：公开了一种有机发光显示器及其制造方法。所公开的有机发光显示器包括：在衬底上的整个区域上均匀地形成有源层; 第一掩模处理步骤，分别在有源层上形成像素电极，栅电极和上电极的图案; 第二掩模处理步骤，形成具有暴露所述薄膜晶体管区域的所述像素电极，所述上电极和所述有源层的开口的绝缘层; 第三掩模工艺步骤，形成接触有源层的暴露部分的源极/漏极电极; 以及第四掩模工艺步骤，暴露像素电极并形成覆盖薄膜晶体管和电容器区域的像素限定层。根据该方法，由于省略了有源层的掩模图案化工艺，所以可以由于掩模数量的减少和制造工艺的简化而实现成本的降低。

7. 发明公开

KR1020150017192A 유기 발광 표시 장치 및 그 제조 방법 审中-实审
标题翻译：有机发光二极管显示及其制造方法
公开(公告)号：KR1020150017192A
公开(公告)日：2015-02-16
申请号：KR1020130093178
申请日：2013-08-06
申请人： 삼성디스플레이 주식회사
发明人： 김광해 , 최재범 , 정관욱
IPC分类号： H01L51/52 , H01L51/56
CPC分类号： H01L27/3262 , G09G3/3225 , G09G2300/0426 , G09G2320/0223 , H01L27/3265 , H01L27/3276 , H01L27/3279 , H01L2227/323 , H01L51/56
摘要： 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치는 기판, 상기 기판 위에 형성되어 있으며 진성 폴리 반도체부 및 도핑 폴리 반도체부를 포함하는 반도체막, 상기 반도체막을 덮고 있는 게이트 절연막, 상기 게이트 절연막 위에 형성되어 있으며 스캔 신호를 전달하는 스캔선, 상기 스캔선과 절연되어 교차하며 데이터 신호를 전달하는 데이터선, 상기 스캔선과 데이터선에 연결되어 있는 박막 트랜지스터, 상기 박막 트랜지스터에 연결되어 있는 유기 발광 다이오드를 포함하고, 상기 스캔선과 인접한 영역에는 상기 진성 폴리 반도체부가 위치하고 있을 수 있다.
摘要翻译：根据本发明实施例的有机发光显示装置包括基板，形成在基板上并包括本征多晶半导体部分和掺杂多晶半导体部件的半导体层，覆盖半导体层的栅极绝缘层，形成在栅极绝缘层上并且扫描信号（与扫描线绝缘的数据线）穿过扫描线并发送数据信号的扫描线，连接到扫描线的薄膜晶体管线和数据线，以及连接到薄膜晶体管的有机发光二极管。本征多晶半导体部件位于扫描线附近。

8. 发明公开

KR1020130128276A 표시 장치 및 표시 장치의 단락 불량 검출 방법 审中-实审
标题翻译：显示装置和用于检测显示装置的短缺的方法
公开(公告)号：KR1020130128276A
公开(公告)日：2013-11-26
申请号：KR1020120052208
申请日：2012-05-16
申请人： 삼성디스플레이 주식회사
发明人： 이준우 , 최재범 , 정관욱 , 최성수 , 김성준 , 김광해 , 김가영 , 김지훈
IPC分类号： G09G3/30
CPC分类号： H01L27/124 , G01R31/025 , H01L27/3276 , H01L2251/568
摘要： The present invention provides a display device. The display device includes a plurality of unit pixels which are composed of multiple sub-pixels; multiple scan lines which are branched as many as the number of the sub-pixels from one scan distribution line for each unit pixel in a first direction and connect the sub-pixels of an adjacent unit pixel emitting the same color; a data line which is extended in a second direction at right angles to the first direction and is connected to the sub-pixels; a first power supply line which is extended in the second direction and is connected to the sub-pixels; and a test pad which is placed between the scan distribution line for each unit pixel and the branched scan lines and is connected to the branched scan lines.
摘要翻译：本发明提供一种显示装置。显示装置包括由多个子像素组成的多个单位像素; 多个扫描线，其从第一方向上的每个单位像素的一个扫描分配线分支多达子像素的数量，并连接发射相同颜色的相邻单位像素的子像素; 数据线，其在与第一方向成直角的第二方向上延伸并连接到子像素; 第一电源线，其在所述第二方向上延伸并连接到所述子像素; 以及放置在每个单位像素的扫描分配线和分支的扫描线之间并连接到分支的扫描线的测试垫。

9. 发明公开

KR1020130120315A 유기 발광 표시 장치 및 유기 발광 표시 장치 검사 방법 审中-实审
标题翻译：有机发光显示装置及检测有机发光显示装置的方法
公开(公告)号：KR1020130120315A
公开(公告)日：2013-11-04
申请号：KR1020120043479
申请日：2012-04-25
申请人： 삼성디스플레이 주식회사
发明人： 이준우 , 최재범 , 정관욱 , 최성수 , 김성준 , 김광해 , 김가영 , 김지훈
IPC分类号： G09G3/30
CPC分类号： G09G3/006 , G09G3/3233 , G09G2300/0426 , G09G2300/0819 , G09G2300/0852 , G09G2320/043
摘要： The preset invention provides an organic light emitting display device and an organic light emitting display device testing method comprising; a pixel electrode; an intermediate layer including an organic light emitting layer; multiple pixels including a counter electrode; scan and data lines corresponding with the pixel; a first power source supply line which is connected to the pixel and has a type extended to a first direction; a second power source supply line connected to the first power source supply line; a control line part which supplies a control signal to the multiple pixels at the same time and connected to multiple control lines and one end of the multiple control lines and has a common line which is separated from the other end in order to easily test an electrical defect.
摘要翻译：本发明提供了一种有机发光显示装置和有机发光显示装置测试方法，包括：像素电极; 包含有机发光层的中间层; 包括对电极的多个像素; 与像素对应的扫描和数据线; 第一电源线，其连接到所述像素并且具有延伸到第一方向的类型; 连接到第一电源线的第二电源线; 控制线部分，其同时向多个像素提供控制信号，并且连接到多个控制线和多个控制线的一端，并具有与另一端分离的公共线，以容易地测试电气缺陷。

10. 发明公开

KR1020130104563A 유기 발광 표시 장치의 어레이 시험 장치 및 시험 방법, 및 유기 발광 표시 장치의 제조 방법 审中-实审
标题翻译：用于有机发光显示装置的阵列测试装置和阵列测试方法及用于制造有机发光显示装置的方法
公开(公告)号：KR1020130104563A
公开(公告)日：2013-09-25
申请号：KR1020120026173
申请日：2012-03-14
申请人： 삼성디스플레이 주식회사
发明人： 김광해 , 최재범 , 정관욱 , 이준우 , 이해연 , 오재환 , 김성준
IPC分类号： H01L51/56
CPC分类号： H01L51/0031 , G01R31/2635 , G09G3/006 , G09G3/3233 , G09G2300/0819 , G09G2300/0852 , G09G2300/0876 , G09G2320/0693 , H01L27/3244
摘要： PURPOSE: An array test device for an organic light emitting display device, a testing method thereof, and a method for manufacturing the organic light emitting display device are provided to uniformly and accurately measure the defects of each pixel by minimizing damage to a pixel circuit and noise elements and reducing a measurement voltage distribution. CONSTITUTION: An electron beam irradiating unit (21) irradiates an array substrate (1) with electron beams. The electron beam irradiating unit irradiates the exposed part of an anode of a pixel the electron beams through an electron beam discharge source (29) and a contact hole (101). A control unit (23) controls the functions of components of a control device in an array substrate testing process. A signal analyzing unit (25) calculates the charging voltage of an actual capacitor by using secondary electrons which are detected. A calibration unit (27) calibrates the precision of a display unit with a detection voltage scale. [Reference numerals] (21) Electron beam irradiating unit; (23) Control unit; (25) Signal analyzing unit; (27) Calibration unit
摘要翻译：目的：提供一种用于有机发光显示装置的阵列测试装置，其测试方法和用于制造有机发光显示装置的方法，以通过最小化对像素电路的损坏来均匀且精确地测量每个像素的缺陷，降低测量电压分布。构成：电子束照射单元（21）用阵列基板（1）照射电子束。电子束照射单元通过电子束放电源（29）和接触孔（101）将电子束的像素的阳极的露出部分照射。控制单元（23）控制阵列基板测试处理中的控制装置的部件的功能。信号分析单元（25）通过使用检测到的二次电子来计算实际电容器的充电电压。校准单元（27）用检测电压标尺校准显示单元的精度。（附图标记）（21）电子束照射单元; （23）控制单元; （25）信号分析单元; （27）校准单元

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