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    • 3. 发明公开
    • ICP 방식의 고밀도 반도체 몰드 금형 세정장치
    • 用于高密度半导体电感耦合等离子体类型的模具清洁装置
    • KR1020090113492A
    • 2009-11-02
    • KR1020080039235
    • 2008-04-28
    • 주식회사제4기한국
    • 정재준
    • H01L21/304H01L21/56
    • H01L21/67017B29C2033/725H01L21/565
    • PURPOSE: A mold cleaning apparatus for a high density semiconductor inductive coupled plasma type are provided to improve the efficiency of etching without physical damage to a mold by using an electrodeless type instead of an opposite electrode. CONSTITUTION: In a mold cleaning apparatus for a high density semiconductor inductive coupled plasma type, a ceramic dielectric(400) is equipped on a mold die(100). A sealing agent(200) hermetically forms a reaction chamber(C) by sealing the mold die and the ceramic dielectric gap. A power supply(600) supplies the power, and an induction coil(500) is arranged on the ceramic dielectric. An exhaust pipe(320) is arranged one side of the sealing agent and discharges air inside the reaction chamber. A vacuum pump(330) is installed at the exhaust pipe.
    • 目的:提供用于高密度半导体感应耦合等离子体型的模具清洁装置,以通过使用无电极型而不是相对电极来提高蚀刻效率,而不会对模具造成物理损坏。 构成:在用于高密度半导体感应耦合等离子体型的模具清洁装置中,陶瓷电介质(400)装配在模具(100)上。 密封剂(200)通过密封模具和陶瓷电介质间隙而气密地形成反应室(C)。 电源(600)供电,并且感应线圈(500)布置在陶瓷电介质上。 排气管320设置在密封剂的一侧,排出反应室内的空气。 真空泵(330)安装在排气管上。
    • 4. 发明授权
    • ICP 방식의 고밀도 반도체 몰드 금형 세정장치
    • 用于高密度半导体电感耦合等离子体类型的模具清洁装置
    • KR100946385B1
    • 2010-03-08
    • KR1020080039235
    • 2008-04-28
    • 주식회사제4기한국
    • 정재준
    • H01L21/304H01L21/56
    • 본 발명은 ICP 방식의 고밀도 반도체 몰드 금형 세정장치에 관한 것으로, 몰드 금형의 상부에 구비되는 세라믹유전체와; 상기 몰드 금형과 세라믹유전체 사이를 밀봉하여 반응실을 형성하는 밀봉부재와; 전원을 인가하는 파워서플라이와; 상기 세라믹유전체의 상면에 배열되고, 일단은 접지되며, 타단은 상기 파워서플라이에 연결된 후 접지되는 유도코일과; 상기 밀봉부재의 일측에 관통배관되어 반응실 내부의 공기를 배기하는 배기관과; 상기 배기관의 길이 일부에 설치된 진공펌프를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 ICP 방식의 고밀도 반도체 몰드 금형 세정장치를 제공한다.
      본 발명에 따르면, 고밀도로 균질한 플라즈마 처리가 가능하여 세정효율이 높고, 특히 대면전극이 아닌 무전극 방식을 사용함으로써 금형에 물리적 손상을 주지 않아 에칭 효율의 증대도 꾀하는 효과를 얻을 수 있다.
      ICP, 고밀도, 플라즈마, 반도체, 몰드 금형, 세정, 수지찌꺼기