专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明专利

TW201512644A 光學檢測方法及其系統审中-公开
简体标题：光学检测方法及其系统
公开(公告)号：TW201512644A
公开(公告)日：2015-04-01
申请号：TW102133441
申请日：2013-09-16
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：謝易辰 , HSIEH, YI CHEN , 楊富程 , YANG, FU CHENG , 江直融 , CHIANG, CHIH JUNG
IPC分类号： G01N21/21
CPC分类号： G01N21/8422 , G01N21/211 , G01N2021/213 , G01N2021/214
摘要：本揭露提供一種光學檢測系統。在光學檢測系統中，電子計算機控制控制器在不同入射角度及/或不同入射光波長之下，繞著光軸旋轉偏振裝置、相位補償裝置和檢偏器之至少二者的旋轉角度，使得在不同入射角度及/或不同入射光波長之下所對應的第一影像的強度等於零。電子計算機更紀錄第一影像的強度等於零時，偏振裝置、檢偏器與相位補償裝置之至少二者相對於光軸的旋轉角度，以及第二影像在不同入射光波長及/或不同入射角度下之強度，藉以得到代表第二影像之強度的一立體曲面圖以及第二影像的一最大強度，最大強度對應於一最大灰階值。
简体摘要：本揭露提供一种光学检测系统。在光学检测系统中，电子计算机控制控制器在不同入射角度及/或不同入射光波长之下，绕着光轴旋转偏振设备、相位补偿设备和检偏器之至少二者的旋转角度，使得在不同入射角度及/或不同入射光波长之下所对应的第一影像的强度等于零。电子计算机更纪录第一影像的强度等于零时，偏振设备、检偏器与相位补偿设备之至少二者相对于光轴的旋转角度，以及第二影像在不同入射光波长及/或不同入射角度下之强度，借以得到代表第二影像之强度的一三維曲面图以及第二影像的一最大强度，最大强度对应于一最大灰阶值。

2. 发明专利

TWI437220B 液晶預傾角量測系統與方法有权
简体标题：液晶预倾角量测系统与方法
公开(公告)号：TWI437220B
公开(公告)日：2014-05-11
申请号：TW098136304
申请日：2009-10-27
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：江直融 , CHIANG, CHIH JUNG , 劉志祥 , LIU, CHIH SHANG , 莊明穎 , ZHUANG, MING YING , 莊凱評 , CHUANG, KAI PING , 羅偕益 , LO, CHIEH YI
IPC分类号： G01N21/21 , G02F1/1337

3. 发明专利

TWI467156B 液晶胞特性測定裝置以及液晶胞特性測定方法有权
简体标题：液晶胞特性测定设备以及液晶胞特性测定方法
公开(公告)号：TWI467156B
公开(公告)日：2015-01-01
申请号：TW100147761
申请日：2011-12-21
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：劉志祥 , LIU, CHIH SHANG , 江直融 , CHIANG, CHIH JUNG , 羅偕益 , LO, CHIEH YI
IPC分类号： G01N21/21 , G01B11/06 , G02F1/13

4. 发明专利

TW201425911A 檢測裝置以及檢測方法审中-公开
简体标题：检测设备以及检测方法
公开(公告)号：TW201425911A
公开(公告)日：2014-07-01
申请号：TW101147993
申请日：2012-12-18
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：謝易辰 , HSIEH, YI CHEN , 江直融 , CHIANG, CHIH JUNG , 楊富程 , YANG, FU CHENG
IPC分类号： G01N21/88
CPC分类号： G01N21/8806 , G01N21/21 , G01N21/9501 , G01N2021/8848 , G02B5/3066
摘要：本揭露提供一種檢測裝置，包括一光源模組、一影像接收模組以及一處理單元。光源模組發出一第一入射光以及一第二入射光至一待測物；影像接收模組接收第一入射光照射到待測物所產生的一第一影像，以及第二入射光照射到待測物所產生的一第二影像；處理單元計算第一影像以及第二影像之對比值，以得到用於檢測之一高對比影像。
简体摘要：本揭露提供一种检测设备，包括一光源模块、一影像接收模块以及一处理单元。光源模块发出一第一入射光以及一第二入射光至一待测物；影像接收模块接收第一入射光照射到待测物所产生的一第一影像，以及第二入射光照射到待测物所产生的一第二影像；处理单元计算第一影像以及第二影像之对比值，以得到用于检测之一高对比影像。

5. 发明专利

TWI477766B 檢測裝置以及檢測方法有权
简体标题：检测设备以及检测方法
公开(公告)号：TWI477766B
公开(公告)日：2015-03-21
申请号：TW101147993
申请日：2012-12-18
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：謝易辰 , HSIEH, YI CHEN , 江直融 , CHIANG, CHIH JUNG , 楊富程 , YANG, FU CHENG
IPC分类号： G01N21/88
CPC分类号： G01N21/8806 , G01N21/21 , G01N21/9501 , G01N2021/8848 , G02B5/3066

6. 发明专利

TW201425863A 曲率量測系統及其方法审中-公开
简体标题：曲率量测系统及其方法
公开(公告)号：TW201425863A
公开(公告)日：2014-07-01
申请号：TW101149023
申请日：2012-12-21
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：葉佳良 , YEH, CHIA LIANG , 江直融 , CHIANG, CHIH JUNG , 楊富程 , YANG, FU CHENG
IPC分类号： G01B11/24
摘要：一種曲率量測方法，以量測一樣品之曲率，其包括：產生一第一入射光束與一第二入射光束，並投射至該樣品，以形成一第一反射光束與一第二反射光束；放大該第一反射光束與該第二反射光束，以形成一第一檢測光束與一第二檢測光束；以及擷取該第一檢測光束與該第二檢測光束，以得出該些入射光束之一光點偏移量，並計算出一曲率。
简体摘要：一种曲率量测方法，以量测一样品之曲率，其包括：产生一第一入射光束与一第二入射光束，并投射至该样品，以形成一第一反射光束与一第二反射光束；放大该第一反射光束与该第二反射光束，以形成一第一检测光束与一第二检测光束；以及截取该第一检测光束与该第二检测光束，以得出该些入射光束之一光点偏移量，并计算出一曲率。

7. 发明专利

TWI432715B 測定液晶參數的方法及裝置有权
简体标题：测定液晶参数的方法及设备
公开(公告)号：TWI432715B
公开(公告)日：2014-04-01
申请号：TW099144264
申请日：2010-12-16
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：江直融 , CHIANG, CHIH JUNG , 劉志祥 , LIU, CHIH SHANG
IPC分类号： G01N21/21 , G02F1/13

8. 发明专利

TW201326789A 液晶胞特性測定裝置以及液晶胞特性測定方法审中-公开
简体标题：液晶胞特性测定设备以及液晶胞特性测定方法
公开(公告)号：TW201326789A
公开(公告)日：2013-07-01
申请号：TW100147761
申请日：2011-12-21
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：劉志祥 , LIU, CHIH SHANG , 江直融 , CHIANG, CHIH JUNG , 羅偕益 , LO, CHIEH YI
IPC分类号： G01N21/21 , G01B11/06 , G02F1/13
摘要：一種液晶胞特性測定裝置，包括：光源、至少三個偏光產生器、至少三個物鏡、至少三個偏光分析器以及資料處理器。每一偏光產生器從光源取出具有特定偏光成分的偏光光線，每一偏光光線以傾斜入射角度投射到液晶胞。每一物鏡以設定的收光角度而接收透射過液晶胞的每一偏光光線，收光角度對應於傾斜入射角度。每一偏光分析器取得來自於每一物鏡的偏光光線的偏光強度。資料處理器根據至少三個收光角度中的每一偏光光線的偏光強度，而至少能計算液晶胞的厚度或液晶胞內的液晶分子的預傾角。此外，還提出液晶胞特性測定方法。
简体摘要：一种液晶胞特性测定设备，包括：光源、至少三个偏光产生器、至少三个物镜、至少三个偏光分析器以及数据处理器。每一偏光产生器从光源取出具有特定偏光成分的偏光光线，每一偏光光线以倾斜入射角度投射到液晶胞。每一物镜以设置的收光角度而接收透射过液晶胞的每一偏光光线，收光角度对应于倾斜入射角度。每一偏光分析器取得来自于每一物镜的偏光光线的偏光强度。数据处理器根据至少三个收光角度中的每一偏光光线的偏光强度，而至少能计算液晶胞的厚度或液晶胞内的液晶分子的预倾角。此外，还提出液晶胞特性测定方法。

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式