专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明授权

CN109923372B 采用集成滤波器的红外光学检测器有权
公开(公告)号：CN109923372B
公开(公告)日：2021-12-21
申请号：CN201780065812.6
申请日：2017-10-24
申请人：特里纳米克斯股份有限公司
发明人： S·瓦鲁施 , R·森德 , I·布鲁德 , W·赫尔梅斯
IPC分类号： G01C3/00 , G01S7/481 , H01L27/30
摘要：本发明涉及一种光学检测器(110)，用于光学检测，特别是红外光谱范围内的辐射的光学检测，具体地说，涉及感测对象(112)的至少一种光学可设想的特性。更具体地，光学检测器(110)可以用于确定至少一个对象(112)的透射率、吸收、发射、反射率和/或位置。此外，本发明涉及用于制造光学检测器(110)的方法以及光学检测器(110)的各种用途。光学检测器(110)包括：具有至少第一表面(116)和第二表面(118)的光学滤波器(114)，第二表面(118)相对于第一表面(116)相对设置，其中光学滤波器(114)被设计用于允许由第一表面(116)接收的入射光束(120)穿过光学滤波器(114)到达第二表面(118)，从而通过修改入射光束(120)的光谱成分来生成修改光束(122)；‑传感器层(128)，其包括沉积在光学滤波器(114)的第二表面(118)上的光敏材料(130)，其中传感器层(128)设计成以取决于修改光束(122)对于传感器层(128)的照射的方式来生成至少一个传感器信号；以及‑评估设备(140)，其被设计为通过评估传感器信号来生成由入射光束(120)提供的至少一信息项。光学检测器(110)构成改进的简单、成本有效且仍然可靠的检测器，该检测器用于检测光学辐射，特别是在红外光谱范围内，特别是关于感测透射率、吸收、发射和反射率中的至少一个。因此，光学检测器(110)能够尽可能有效地去除杂散光。

2. 发明公开

CN112105897A 光谱仪装置审中-公开
公开(公告)号：CN112105897A
公开(公告)日：2020-12-18
申请号：CN201980031385.9
申请日：2019-05-10
申请人：特里纳米克斯股份有限公司
发明人： S·瓦鲁施 , W·赫尔梅斯 , R·森德 , R·古斯特 , B·福伊尔施泰因 , I·布鲁德
IPC分类号： G01J3/28 , G01J3/12 , G01J1/02
摘要：公开了光谱仪装置(110)。光谱仪装置(110)包括：至少一个滤波元件(114)，其适于将至少一个入射光束分离成组分波长的光谱；至少一个传感器元件(140)，其具有光学传感器(116、142)的矩阵，每个光学传感器(116、142)具有光敏区域，其中每个光学传感器(116、142)被配置为响应于从至少一个对象(112)传播到光谱仪的至少一个光束对光敏区域的照射而产生至少一个传感器信号，其中光学传感器(116、142)中的至少一个第一光学传感器适于响应于被第一组分波长照射而产生第一传感器信号，并且其中光学传感器(116、142)中的至少一个第二光学传感器适于响应于被第一组分波长照射而产生第二传感器信号；至少一个评估装置(120)，其被配置为通过评估第一传感器信号和第二传感器信号的组合信号Q，确定对象(112)的至少一个纵向坐标z，其中评估装置(120)被配置为通过在考虑所确定的纵向坐标z的情况下执行至少一种光谱分析来评估由光学传感器矩阵中的光学传感器(116、142)产生的至少一个传感器信号。

3. 发明公开

CN109923372A 采用集成滤波器的红外光学检测器有权
公开(公告)号：CN109923372A
公开(公告)日：2019-06-21
申请号：CN201780065812.6
申请日：2017-10-24
申请人：特里纳米克斯股份有限公司
发明人： S·瓦鲁施 , R·森德 , I·布鲁德 , W·赫尔梅斯
IPC分类号： G01C3/00 , G01S7/481 , H01L27/30
摘要：本发明涉及一种光学检测器(110)，用于光学检测，特别是红外光谱范围内的辐射的光学检测，具体地说，涉及感测对象(112)的至少一种光学可设想的特性。更具体地，光学检测器(110)可以用于确定至少一个对象(112)的透射率、吸收、发射、反射率和/或位置。此外，本发明涉及用于制造光学检测器(110)的方法以及光学检测器(110)的各种用途。光学检测器(110)包括：具有至少第一表面(116)和第二表面(118)的光学滤波器(114)，第二表面(118)相对于第一表面(116)相对设置，其中光学滤波器(114)被设计用于允许由第一表面(116)接收的入射光束(120)穿过光学滤波器(114)到达第二表面(118)，从而通过修改入射光束(120)的光谱成分来生成修改光束(122)；-传感器层(128)，其包括沉积在光学滤波器(114)的第二表面(118)上的光敏材料(130)，其中传感器层(128)设计成以取决于修改光束(122)对于传感器层(128)的照射的方式来生成至少一个传感器信号；以及-评估设备(140)，其被设计为通过评估传感器信号来生成由入射光束(120)提供的至少一信息项。光学检测器(110)构成改进的简单、成本有效且仍然可靠的检测器，该检测器用于检测光学辐射，特别是在红外光谱范围内，特别是关于感测透射率、吸收、发射和反射率中的至少一个。因此，光学检测器(110)能够尽可能有效地去除杂散光。

4. 发明公开

CN107438775A 用于至少一个对象的光学检测的检测器有权
公开(公告)号：CN107438775A
公开(公告)日：2017-12-05
申请号：CN201680019688.5
申请日：2016-01-28
申请人：特里纳米克斯股份有限公司
发明人： S·瓦鲁施 , I·布鲁德 , R·森德 , C·朗根施密德 , W·赫尔梅斯 , E·蒂尔 , S·伊尔勒
IPC分类号： G01S7/481 , H01L27/146 , H01L27/30
CPC分类号： G01S17/66 , A63F13/213 , A63F13/30 , A63F13/655 , G01S7/4816 , G01S17/06 , H01L27/14601 , H01L27/14665 , H01L27/307 , H01L31/0224 , H01L31/09 , H01L51/0036 , H01L51/4253
摘要：提出了一种用于至少一个对象(112)的光学检测的检测器(110)。该检测器(110)包括：‑至少一个纵向光学传感器(114)，其中纵向光学传感器(114)具有至少一个传感器区域(130)，其中纵向光学传感器(114)被设计成以取决于由光束(132)对传感器区域(130)的照射的方式生成至少一个纵向传感器信号，其中给定照射的相同总功率，纵向传感器信号取决于传感器区域(130)中光束(132)的束横截面(174)，其中传感器区域(130)包括至少一种光导材料(134)，其中给定照射的相同总功率，光导材料(134)的电导率取决于传感器区域(130)中光束(132)的束横截面(174)，其中纵向传感器信号取决于电导率；以及‑至少一个评估装置(140)，其中评估装置(140)被设计成通过评估纵向光学传感器(114)的纵向传感器信号来生成关于对象(112)的纵向位置的至少一个信息项。由此，提供了用于准确地确定空间中的至少一个对象(112)的位置的简单且仍然有效的检测器(110)。

5. 发明授权

CN113632242B 光学传感器、用于选择光学传感器的方法和用于光学检测的检测器有权
公开(公告)号：CN113632242B
公开(公告)日：2024-10-01
申请号：CN202080021045.0
申请日：2020-03-13
申请人：特里纳米克斯股份有限公司
发明人： W·赫尔梅斯 , S·瓦鲁施 , S·穆勒 , R·赫 , H·贝克特尔 , T·阿尔腾贝克 , F·迪特曼 , B·福伊尔施泰因 , T·胡普福尔 , A·汉德瑞克 , R·古斯特 , P·P·卡莱塔 , R·森德 , H·魏因多克 , I·亨尼格 , S·古里亚诺瓦
IPC分类号： H01L31/09 , H01L31/032 , H01L31/0216 , H01L21/66
摘要：本发明涉及一种包括堆叠(125)的光学传感器(110)。所述堆叠(125)具有：衬底(124)，应用到所述衬底(124)的至少一个光电导材料(114)的层(112)，以及覆盖所述光电导材料(114)的可及表面的盖(116)，以及接触所述光电导材料(114)的层(112)的至少两个电接触(136，136')。所述光学传感器在所述堆叠的准静态纳米压痕仪测量中，展现出杨氏模量·在100nm的穿透深度处为75GPa至107GPa·在300nm的穿透深度处为47GPa至127GPa·在1000nm的穿透深度处为49GPa至119GPa，以及硬度·在100nm的穿透深度处为1.20GPa至4.70GPa，·在300nm的穿透深度处为1.60GPa至4.60GPa，以及·在1000nm的穿透深度处为1.60GPa至8.00GPa，所述光学传感器(110)在长时间内展现出高性能和稳定性。所述光学传感器(110)特别地被设计用于作为安全相关设备的应用，诸如气体传感器、火花传感器、或火焰传感器，以及在安全技术领域中。

6. 发明授权

CN109964148B 用于光学检测至少一个对象的检测器有权
公开(公告)号：CN109964148B
公开(公告)日：2023-08-01
申请号：CN201780071213.5
申请日：2017-11-17
申请人：特里纳米克斯股份有限公司
发明人： M·艾伯斯派克 , C·朗根施密德 , R·森德 , T·欧姆 , S·恒恩 , I·布鲁德 , W·赫尔梅斯 , S·瓦鲁施 , P·希伦 , P·辛德勒 , C·伦纳茨
IPC分类号： G01S17/46 , G01S7/481 , G01S5/16 , G01S7/491 , G01S11/12 , G01S7/48
摘要：公开了一种用于确定至少一个对象(112)的位置的检测器(110)。检测器(110)包括：‑至少一个具有光学传感器(122)的矩阵(120)的传感器元件(118)，光学传感器(122)各自具有光敏区域(124)，其中每个光学传感器(122)被配置为响应于从对象(112)传播到检测器(110)的至少一个光束(116)对光敏区域(124)的照射而产生至少一个传感器信号；‑至少一个评估装置(134)，其被配置为通过以下操作评估传感器信号：a)确定至少一个具有最高传感器信号的光学传感器(122)并形成至少一个中心信号；b)评估矩阵(120)中的光学传感器(122)的传感器信号并形成至少一个和信号；c)通过组合中心信号和和信号来确定至少一个组合信号；以及d)通过评估组合信号来确定对象(112)的至少一个纵向坐标z。

7. 发明公开

CN110352493A 用于对至少一个对象进行光学检测的检测器无效
公开(公告)号：CN110352493A
公开(公告)日：2019-10-18
申请号：CN201880010577.7
申请日：2018-02-07
申请人：特里纳米克斯股份有限公司
发明人： S·瓦鲁施 , W·赫尔梅斯 , I·布鲁德 , R·森德 , C·朗根施密德
IPC分类号： H01L27/30 , G01C3/06 , G01S17/46 , H01L27/146 , G01S7/481 , H01L31/0224 , H01L51/44
摘要：提出了一种用于至少一个对象(112)的光学检测的检测器(110)。所述检测器(110)包括：至少一个横向光学传感器(114)，其适于确定从所述对象(112)向所述检测器(110)行进的光束(136)的横向位置，其中所述横向位置是在垂直于所述检测器(110)的光轴(116)的至少一个维度上的位置，其中所述横向光学传感器(114)具有嵌入在至少两个导电层(132、132’)之间的至少一个光敏层(130)，其中所述导电层中的至少一个(132)包括在至少部分透明基板(135)上的至少部分透明的石墨烯层(134)，从而来允许所述光束(136)行进到所述光敏层(130)，其中所述横向光学传感器(114)还适于生成指示所述光束(136)在所述光敏层(130)中的所述横向位置的至少一个横向传感器信号；以及至少一个评估装置(140)，其中所述评估装置(140)被设计成通过评估所述至少一个横向传感器信号来生成与所述对象(112)的横向位置相关的信息中的至少一项。因此，提供了一种简单且仍然有效的检测器(110)，用于精确确定至少一个物体(112)的横向位置，尤其是在可见光谱范围和/或红外光谱范围的分区中，特别是对于380nm至3000nm的波长。

8. 发明公开

CN109964144A 用于光学探测至少一个对象的检测器有权
公开(公告)号：CN109964144A
公开(公告)日：2019-07-02
申请号：CN201780071317.6
申请日：2017-11-17
申请人：特里纳米克斯股份有限公司
发明人： C·席尔德克内希特 , C·朗根施密德 , I·布鲁德 , M·艾伯斯派克 , P·费耶斯 , R·森德 , S·瓦鲁施 , T·奥莫尔 , W·赫尔梅斯
IPC分类号： G01S7/481 , G01S7/48 , G01S5/16 , G01S11/12
摘要：提议了一种用于确定至少一个对象(112)的位置的检测器(110)。所述检测器(110)包括：至少两个光学传感器(118,120,176)，每个光学传感器(118,120,176)具有光敏区域(122,124)，其中每个光敏区域(122,124)具有几何中心(182,184)，其中所述光学传感器(118,120,176)的所述几何中心(182,184)通过不同的空间偏移与所述检测器(110)的光轴(126)间隔开，其中每个光学传感器(118,120,176)被配置为响应于从所述对象(112)传播到所述检测器(110)的光束(116)对其相应的光敏区域(122,124)的照射而产生传感器信号；以及至少一个评估装置(132)，被配置用于通过组合至少两个传感器信号来确定所述对象(112)的至少一个纵向坐标z。

9. 发明公开

CN109891265A 用于光学检测至少一个对象的检测器有权
公开(公告)号：CN109891265A
公开(公告)日：2019-06-14
申请号：CN201780066208.5
申请日：2017-10-24
申请人：特里纳米克斯股份有限公司
发明人： S·瓦鲁施 , W·赫尔梅斯 , S·亨根 , R·森德 , I·布鲁德
IPC分类号： G01S17/46 , G01S7/481 , H01L31/02
摘要：提出了光学检测至少一个对象(112)的检测器(110)。此外本发明涉及光学检测至少一个对象(112)的方法和检测器(110)的各种用途。检测器(110)包括：至少一个光学传感器(114)，光学传感器(114)具有至少一个传感器区域(114)，传感器区域(114)包括至少一个弯曲基板(142)和具有光电导材料(136)的至少一个膜(134)，其中膜(134)被置于弯曲基板(142)的至少一个表面(140,172)上，其中光学传感器(114)被设计为以依赖于光束(124)对传感器区域(114)的照射的方式生成至少一个传感器信号；至少一个传送装置(120)，传送装置(120)适于将光束(124)从对象(112)传送到光学传感器(114)，从而适于将光束(124)引导到位于弯曲基板(142)上的膜(134)；以及至少一个评估装置(154)，其中评估装置(154)被设计为通过评估光学传感器(114)的传感器信号来生成关于对象(112)的位置的至少一个信息项。从而，提供了用于准确地确定至少一个对象(112)在空间中的位置的简单、成本有效且仍可靠的检测器(110)。

10. 发明授权

CN109564927B 光学传感器和用于光学检测的检测器有权
公开(公告)号：CN109564927B
公开(公告)日：2023-06-20
申请号：CN201780046664.3
申请日：2017-07-27
申请人：特里纳米克斯股份有限公司
发明人： W·赫尔梅斯 , S·瓦鲁施 , R·森德 , I·布鲁德 , B·福伊尔施泰因
IPC分类号： H01L27/146 , H01L31/02 , H01L31/0203 , H01L31/0216 , H01L31/0224 , H01L31/032 , H01L31/09 , H01L31/18 , G01S7/481 , G01S17/46
摘要：本发明涉及光学传感器、光学检测至少一个对象的包括光学传感器的检测器、制造光学传感器的方法以及光学传感器和检测器的各种用途。此外，本发明涉及人机接口、娱乐装置、扫描系统、跟踪系统、立体系统和相机。光学传感器(110)包括至少一个光电导材料(114)的层(112)、接触光电导材料(114)的层(112)的至少两个个体电接触(136、136')、以及沉积在光电导材料(114)的层(112)上的覆盖层(116)，其中覆盖层(116)是包括至少一种包含金属的化合物(120)的非晶层。光学传感器(110)可作为不笨重的气密封装提供，然而，该封装提供高度保护以防止湿气和/或氧气引起的可能劣化。而且，覆盖层(116)能够激活光电导材料(114)，这导致光学传感器(110)的性能提高。此外，光学传感器(110)可容易地制造并集成在电路载体装置上。

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式