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1. 发明专利

JP6811962B2 質量分析装置及び質量分析方法有权
公开(公告)号：JP6811962B2
公开(公告)日：2021-01-13
申请号：JP2017094046
申请日：2017-05-10
申请人：株式会社東芝 , 学校法人工学院大学
发明人：齋藤玲子 , 圷晴子 , 坂本哲夫 , 高野明雄
IPC分类号： H01J27/24 , G01N27/62 , G01N27/64 , H01J49/16

2. 发明专利

JP2018190655A 質量分析装置及び質量分析方法审中-公开
公开(公告)号：JP2018190655A
公开(公告)日：2018-11-29
申请号：JP2017094046
申请日：2017-05-10
申请人：株式会社東芝 , 学校法人工学院大学
发明人：齋藤玲子 , 圷晴子 , 坂本哲夫 , 高野明雄
IPC分类号： H01J27/24 , G01N27/62 , G01N27/64 , H01J49/10
CPC分类号： G01N27/62 , G01N27/64 , H01J27/24 , H01J49/10
摘要：【課題】高感度の分析が可能な質量分析装置及び質量分析方法を提供する。【解決手段】実施形態にかかる質量分析装置は、試料台と、分析部と、イオンビーム源と、アシストエネルギー源と、レーザ光源と、を備える。前記試料台は、試料を保持可能に設けられる。前記分析部は、前記試料台の試料載置面に対向配置され、質量分析をする。前記イオンビーム源は、前記試料載置面に向けてイオンビームを照射可能に設けられる。前記アシストエネルギー源は、前記試料載置面と前記分析部の間の対象領域にアシストエネルギーを供給する。前記レーザ光源は、前記対象領域にレーザ光を照射する。【選択図】図1

3. 发明专利

JP2016024992A 質量分析装置および質量分析方法有权
标题翻译：质谱和质谱
公开(公告)号：JP2016024992A
公开(公告)日：2016-02-08
申请号：JP2014149023
申请日：2014-07-22
申请人：学校法人工学院大学
发明人：坂本哲夫
IPC分类号： H01J49/10
摘要：【課題】質量分析時における放射性セシウムとバリウムなどの他の元素との干渉を抑制し、放射性セシウムの分離検出および分布可視化を実現することができる質量分析装置および質量分析方法を提供する。【解決手段】放射性セシウムを含む試料が配置される試料台と、前記試料台に配置された試料にイオンビームを照射し、試料から放射性セシウムを放出させるイオンビーム源と、放射性セシウムを共鳴イオン化させる波長を有し、かつ、バリウムのイオン化が生じないレーザ強度である、パルス化されたレーザ光を、放出された放射性セシウムに照射し、放射性セシウムをイオン化させるレーザ光源と、イオン化された放射性セシウムを質量分析する分析部と、を備える質量分析装置。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供可以抑制放射性铯和其他元素如钡等元素在质谱中的干扰的质谱仪和质谱仪，并实现放射性铯的分离检测和分布可视化。解决方案：质谱仪安装有放射性铯的样品的样品台，用离子束照射安装在样品台上的样品以使样品放电放射性铯的离子束源，用于将放射性铯放射的激光束源具有能够使放射性铯共振电离的波长的脉冲激光束，并且具有不离子化钡的激光强度，从而使放射性铯电离，以及用于对离子化放射性铯进行质谱分析的分析仪。图示：图 1

4. 发明专利

JP6856197B2 レーザー装置およびその制御方法、質量分析装置有权
公开(公告)号：JP6856197B2
公开(公告)日：2021-04-07
申请号：JP2017034189
申请日：2017-02-24
申请人：国立大学法人東海国立大学機構 , 学校法人工学院大学
发明人：富田英生 , 松井大樹 , 坂本哲夫
IPC分类号： H01S3/1055 , G01N27/62 , G01N27/64 , H01S3/109 , H01S3/00 , H01S3/106 , G02F1/37 , H01J49/10

5. 发明专利

JP6309381B2 質量分析装置および質量分析方法有权
公开(公告)号：JP6309381B2
公开(公告)日：2018-04-11
申请号：JP2014149023
申请日：2014-07-22
申请人：学校法人工学院大学
发明人：坂本哲夫
IPC分类号： H01J49/10

6. 发明专利

JP6191857B2 レーザイオン化質量分析装置有权
公开(公告)号：JP6191857B2
公开(公告)日：2017-09-06
申请号：JP2013056656
申请日：2013-03-19
申请人：株式会社トヤマ , 学校法人工学院大学
发明人：石川丈晴 , 長嶋悟 , 遠藤克己 , 坂本哲夫
IPC分类号： H01J37/20 , H01J49/10

7. 发明专利

JP6678917B2 洗浄方法有权
公开(公告)号：JP6678917B2
公开(公告)日：2020-04-15
申请号：JP2015018812
申请日：2015-02-02
申请人：学校法人工学院大学 , 株式会社日本中性子光学 , 株式会社阿藤工務店
发明人：坂本哲夫 , 奥村丈夫 , 川上勇
IPC分类号： G21F9/28 , B24C11/00 , B08B3/02

8. 发明专利

JP2018142403A レーザー装置およびその制御方法、質量分析装置审中-公开
公开(公告)号：JP2018142403A
公开(公告)日：2018-09-13
申请号：JP2017034189
申请日：2017-02-24
申请人：国立大学法人名古屋大学 , 学校法人工学院大学
发明人：富田英生 , 松井大樹 , 坂本哲夫
IPC分类号： H01S3/1055 , G01N27/62 , G01N27/64 , H01S3/109 , H01S3/00 , H01S3/106 , G02F1/37 , H01J49/10
CPC分类号： G01N27/62 , G01N27/64 , G02F1/37 , H01J49/10 , H01S3/00 , H01S3/1055 , H01S3/106 , H01S3/109
摘要：【課題】波長可変なレーザー共鳴イオン化用のレーザー装置において、波長可変範囲の広い広帯域モードと、ゲインピーク近傍で高出力の高出力モードとを簡易に切り換えること。【解決手段】レーザー装置は、波長可変な回折格子型チタンサファイアレーザーであり、共振器内にチタン(Ti)がドープされたチタンサファイア結晶10を有している。チタンサファイア結晶10は、ステージ21上に載せられ固定されている。このステージ21によって、チタンサファイア結晶10を光軸方向に移動させて位置を変更することが可能となっていて、その位置変更により、広帯域モードと高出力モードとを簡単に切り換えることが可能となっている。【選択図】図1

9. 发明专利

JP6343758B2 中性粒子質量分析装置有权
公开(公告)号：JP6343758B2
公开(公告)日：2018-06-20
申请号：JP2013176865
申请日：2013-08-28
申请人：株式会社トヤマ , 学校法人工学院大学
发明人：坂本哲夫 , 長嶋悟 , 遠藤克己
IPC分类号： H01J49/06 , H01J37/252 , G01N27/62 , H01J49/14

10. 发明专利

JP6014801B2 微細部位イメージング装置有权
标题翻译：精细部位成像设备
公开(公告)号：JP6014801B2
公开(公告)日：2016-10-26
申请号：JP2012163242
申请日：2012-07-24
申请人：国立大学法人東京工業大学 , 学校法人工学院大学
发明人：藤井正明 , 坂本哲夫
IPC分类号： H01J37/28 , H01J37/317

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