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    • 2. 发明专利
    • スピーカーの非線形歪低減装置、方法、及びプログラム
    • 用于减少扬声器非线性失真的装置,方法和程序
    • JP2014220589A
    • 2014-11-20
    • JP2013096942
    • 2013-05-02
    • 学校法人 工学院大学Kogakuin Univ学校法人 工学院大学
    • NAKAJIMA HIROSHIMIYOSHI KAZUNORI
    • H04R3/00G10K15/00
    • G10K15/00H04R3/00
    • 【課題】システムを厳密に非線形関数でモデル化することなく、少ない計算量でスピーカーの非線形歪を低減することができるスピーカーの非線形歪低減装置、方法、及びプログラムを提供する。【解決手段】スピーカーの非線形歪低減装置10は、スピーカー14からマイクロホン16までのインパルス応答を計測し、スピーカー14から出力させる音源信号、音源信号をスピーカー14から出力してマイクロホン16で入力したスピーカー14からの出力信号、及びインパルス応答の計測結果に基づいて、出力信号の非線形成分を算出し、非線形成分及びインパルス応答に基づいて、音源信号を補正する。【選択図】図1
    • 要解决的问题:提供一种用于减少扬声器的非线性失真的装置,方法和程序,其能够以少量的计算来减少扬声器的非线性失真,而不用严格地对使用非易失性存储器的系统建模, 线性功能。解决方案:在用于减少扬声器的非线性失真的装置10中,测量从扬声器14到麦克风16的脉冲响应,输出信号的非线性分量基于 从扬声器14输出的声源信号,从扬声器14输出声源信号之后通过麦克风16输入的扬声器14的输出信号,以及脉冲响应的测定结果,并且基于非线性分量和 基于非线性分量和脉冲响应来校正脉冲响应,声源信号。
    • 6. 发明专利
    • クリップ及び輸液ポンプ
    • 夹子和输液泵
    • JP2014221111A
    • 2014-11-27
    • JP2013101481
    • 2013-05-13
    • 学校法人 工学院大学Kogakuin Univ学校法人 工学院大学
    • HORIUCHI KUNIOYAMAGUCHI KAZUYA
    • A61M5/168
    • 【課題】プライミング操作を煩雑にすることがなく、フリーフローを防止することができるクリップ及び輸液ポンプを得る。【解決手段】輸液ポンプ10は、輸液セットの一部を構成するチューブ70が溝18に装着された状態でドア14を閉止したときに、チューブ70をクリップ50の切り欠き部52で挟むようにクリップ50を移動させる移動装置を備えている。クリップ50は、板状の基板50Aと、チューブ70を長手方向と直交する方向に挟む略矩形状の切り欠き部52と、切り欠き部52の開口に形成されチューブ70を誘い込むV字状の案内部53とを備えている。チューブ70をクリップ50の切り欠き部52に挟んだときに、チューブの断面内の少なくとも一方の端に、チューブを完全に閉塞することなく液体が流動可能な孔部が形成される。【選択図】図2
    • 要解决的问题:提供能够防止自由流动而不会引起灌注操作复杂的夹子和输液泵。解决方案:输液泵10包括用于移动夹子50的移动装置,以将管70夹持在切口 在将构成输液器的一部分的管70安装在凹槽18上的状态下关闭门14时,夹子50的部分52。夹子50包括平片状底板50A,几乎矩形的切口部分52夹住 管70在垂直于纵向方向的方向上,以及形成在凹口部分52的开口上并引导管70的V形引导部分53.当将管70夹在夹子50的切口部分52中时, 在管的横截面中的至少一端形成有允许液体流动而不完全封闭管的孔部分。
    • 7. 发明专利
    • 中性粒子質量分析装置
    • 中性颗粒物质光谱仪
    • JP2015046305A
    • 2015-03-12
    • JP2013176865
    • 2013-08-28
    • 株式会社トヤマToyama Co Ltd学校法人 工学院大学Kogakuin Univ学校法人 工学院大学
    • SAKAMOTO TETSUONAGASHIMA SATORUENDO KATSUMI
    • H01J49/14G01N27/62H01J37/252H01J49/06
    • 【課題】ポストイオン化効率を向上させつつ、二次イオンのバックグラウンドを低減させた中性粒子質量分析装置を提供する。【解決手段】中性粒子質量分析装置は、試料台10とイオンビーム源20とメッシュ電極30とレーザ光源40と制御部50と分析部60とからなる。メッシュ電極30は、試料から放出される試料由来の粒子のうち、二次イオンを試料側に押し戻す。レーザ光源40は、試料台10とメッシュ電極30との間で試料台の表面に平行にレーザ光を照射可能なものであり、試料由来の粒子をイオン化する。制御部50は、メッシュ電極電位を二次イオンを押し戻し可能な電位に設定した状態でイオンビームを照射後、所定の時間後にメッシュ電極電位を反転させると共に、レーザ光を照射するように制御する。分析部60は、レーザ光源からのレーザ光によりイオン化される試料を質量分析する。【選択図】図1
    • 要解决的问题:提供一种中性粒子质谱仪,其中二次离子的背景减少,而电离后效率得到改善。解决方案:中性粒子质谱仪包括样品台10,离子束源20,筛网 电极30,激光源40,控制部50和分析部60.网状电极30将从样品排出的样品衍生粒子之间的二次离子推回到样品侧。 激光束源40可以在样品台10和网状电极30之间照射与样品台的表面平行的激光束,并离子化样品衍生的颗粒。 控制部50照射离子束,同时将网状电极电位设定为能够将二次离子推回的电位,然后进行控制,以在预定时间后反转网状电极电位并照射激光束。 分析部60对来自激光光源的激光进行电离的样品进行质谱分析。