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1. 实用新型

TWM459405U 高頻探針結構及其高頻探針卡有权
简体标题：高频探针结构及其高频探针卡
公开(公告)号：TWM459405U
公开(公告)日：2013-08-11
申请号：TW101216517
申请日：2012-08-28
申请人：旺矽科技股份有限公司 , MJC PROBE INC.
发明人：張嘉泰 , CHANG, CHIA TAI , 楊惠彬 , YANG, HUI PING
IPC分类号： G01R1/073

2. 发明专利

TWI491887B 探針模組有权
简体标题：探针模块
公开(公告)号：TWI491887B
公开(公告)日：2015-07-11
申请号：TW102102221
申请日：2013-01-21
申请人：旺矽科技股份有限公司 , MJC PROBE INC.
发明人：張嘉泰 , CHANG, CHIA TAI
IPC分类号： G01R1/073
CPC分类号： G01R1/07342 , G01R1/00 , H01L21/00 , H01L2221/00

3. 发明专利

TW201430351A 探針模組审中-公开
简体标题：探针模块
公开(公告)号：TW201430351A
公开(公告)日：2014-08-01
申请号：TW102102221
申请日：2013-01-21
申请人：旺矽科技股份有限公司 , MJC PROBE INC.
发明人：張嘉泰 , CHANG, CHIA TAI
IPC分类号： G01R1/073
CPC分类号： G01R1/07342 , G01R1/00 , H01L21/00 , H01L2221/00
摘要：本發明提供一種探針模組，包括具有一通孔之一基材以及至少四探針列。至少四探針列，其係分別固設於基材上，多個探針列於一第一方向由一第一側向一第二側排列，每一探針列具有朝一第二方向排列的至少兩探針，每一探針分別具有接觸段以及懸臂段，懸臂段之一端連接於基材上而另一端向通孔方向延伸而與接觸段連接，接觸段與懸臂段具有一夾角，每一探針列之探針係具有等長的接觸段。其中，每一探針列之多個探針在該第一方向之夾角大小係由第一側朝第二側逐漸增加。
简体摘要：本发明提供一种探针模块，包括具有一通孔之一基材以及至少四探针列。至少四探针列，其系分别固设于基材上，多个探针列于一第一方向由一第一侧向一第二侧排列，每一探针列具有朝一第二方向排列的至少两探针，每一探针分别具有接触段以及悬臂段，悬臂段之一端连接于基材上而另一端向通孔方向延伸而与接触段连接，接触段与悬臂段具有一夹角，每一探针列之探针系具有等长的接触段。其中，每一探针列之多个探针在该第一方向之夹角大小系由第一侧朝第二侧逐渐增加。

4. 发明专利

TW201403072A 光學檢測裝置审中-公开
简体标题：光学检测设备
公开(公告)号：TW201403072A
公开(公告)日：2014-01-16
申请号：TW102105460
申请日：2013-02-08
申请人：旺矽科技股份有限公司 , MJC PROBE INC.
发明人：蔡錦溢 , TSAI, CHIN YI , 張嘉泰 , CHANG, CHIA TAI , 陳秋桂 , CHEN, CHIU KUEI , 余陳志 , YU, CHEN CHIH , 賴建彰 , LAI, CHIEN CHANG , 楊金田 , YANG, CHIN TIEN , 楊惠彬 , YANG, HUI PIN , 張庚生 , CHANG, KENG SHENG , 黃韻如 , HUANG, YUN RU
IPC分类号： G01R1/04
摘要：一種光學檢測裝置，包括一電路板、一固定基板、一容置座以及一探針模組。該電路板，其係具有一第一通孔。該固定基板，其係設置於該電路板之一上表面或一下表面，該固定基板具有與該第一通孔相對應之一螺孔。該容置座，其係用以容置一鏡頭以及螺設於該螺孔內，該容置座藉由一位置調整運動改變在該螺孔內之位置。該探針模組，其係設置於該固定基板之一下表面或該電路板之該下表面，且與該容置座相對應，該探針模組具有複數個探針與該電路板電性連接。
简体摘要：一种光学检测设备，包括一电路板、一固定基板、一容置座以及一探针模块。该电路板，其系具有一第一通孔。该固定基板，其系设置于该电路板之一上表面或一下表面，该固定基板具有与该第一通孔相对应之一螺孔。该容置座，其系用以容置一镜头以及螺设于该螺孔内，该容置座借由一位置调整运动改变在该螺孔内之位置。该探针模块，其系设置于该固定基板之一下表面或该电路板之该下表面，且与该容置座相对应，该探针模块具有复数个探针与该电路板电性连接。

5. 发明专利

TW200938848A 探針卡审中-公开
简体标题：探针卡
公开(公告)号：TW200938848A
公开(公告)日：2009-09-16
申请号：TW097107380
申请日：2008-03-03
申请人：旺矽科技股份有限公司 MJC PROBE INC.
发明人：黃建名 , 張嘉泰 , 林合輝 , 林進億 , 黃朝敬 , 陳建良 , 吳世昌 , 羅嘉駿
IPC分类号： G01R
摘要：一種探針卡,用以測試一具有複數個訊號接點之待測晶片,探針卡包含一基板、複數個第一探針、及複數個第二探針。基板用以被設置於待測晶片上方,且基板具有一觀測窗。第一探針及第二探針設置於基板之底面,分別用以接觸其所對應之訊號接點。第一探針係朝基板下方延伸而被基板所遮蔽,第二探針係朝向該觀測窗下方延伸,使第二探針之前端係位於觀測窗之下方,用以供使用者透過觀測窗由基板之頂面觀測第二探針之前端是否到達對位,而同時達成第一探針之對位。
简体摘要：一种探针卡,用以测试一具有复数个信号接点之待测芯片,探针卡包含一基板、复数个第一探针、及复数个第二探针。基板用以被设置于待测芯片上方,且基板具有一观测窗。第一探针及第二探针设置于基板之底面,分别用以接触其所对应之信号接点。第一探针系朝基板下方延伸而被基板所屏蔽,第二探针系朝向该观测窗下方延伸,使第二探针之前端系位于观测窗之下方,用以供用户透过观测窗由基板之顶面观测第二探针之前端是否到达对位,而同时达成第一探针之对位。

6. 发明专利

TWI481874B 光學檢測裝置有权
简体标题：光学检测设备
公开(公告)号：TWI481874B
公开(公告)日：2015-04-21
申请号：TW102105460
申请日：2013-02-08
申请人：旺矽科技股份有限公司 , MJC PROBE INC.
发明人：蔡錦溢 , TSAI, CHIN YI , 張嘉泰 , CHANG, CHIA TAI , 陳秋桂 , CHEN, CHIU KUEI , 余陳志 , YU, CHEN CHIH , 賴建彰 , LAI, CHIEN CHANG , 楊金田 , YANG, CHIN TIEN , 楊惠彬 , YANG, HUI PIN , 張庚生 , CHANG, KENG SHENG , 黃韻如 , HUANG, YUN RU
IPC分类号： G01R1/04

7. 实用新型

TWM460391U 具光學調制之鏡頭調整機構有权
简体标题：具光学调制之镜头调整机构
公开(公告)号：TWM460391U
公开(公告)日：2013-08-21
申请号：TW102203849
申请日：2013-03-01
申请人：旺矽科技股份有限公司 , MJC PROBE INC.
发明人：蔡錦溢 , TSAI, CHIN YI , 余陳志 , YU, CHEN CHIH , 陳建宏 , CHEN, CHIEN HUNG , 張嘉泰 , CHANG, CHIA TAI , 賴建彰 , LAI, CHIEN CHANG , 楊金田 , YANG, CHIN TIEN , 楊惠彬 , YANG, HUI PIN , 張庚生 , CHANG, KENG SHENG , 黃韻如 , HUANG, YUN RU
IPC分类号： H01L21/66

8. 实用新型

TWM445759U 探針固持結構及其光學檢測裝置有权
简体标题：探针固持结构及其光学检测设备
公开(公告)号：TWM445759U
公开(公告)日：2013-01-21
申请号：TW101214087
申请日：2012-07-20
申请人：旺矽科技股份有限公司 , MJC PROBE INC.
发明人：張嘉泰 , 蔡錦溢 , 陳秋桂 , 余陳志 , 賴建彰 , 楊金田 , 楊惠彬 , 張庚生 , 黃韻如
IPC分类号： H01L21/66

9. 发明专利

TWI506279B 高頻探針卡有权
简体标题：高频探针卡
公开(公告)号：TWI506279B
公开(公告)日：2015-11-01
申请号：TW102101482
申请日：2013-01-15
申请人：旺矽科技股份有限公司 , MJC PROBE INC.
发明人：蔡錦溢 , TSAI, CHIN YI , 張嘉泰 , CHANG, CHIA TAI , 陳秋桂 , CHEN, CHIU KUEI , 余陳志 , YU, CHEN CHIH , 賴建彰 , LAI, CHIEN CHANG , 楊金田 , YANG, CHIN TIEN , 楊惠彬 , YANG, HUI PIN , 張庚生 , CHANG, KENG SHENG , 黃韻如 , HUANG, YUN RU
IPC分类号： G01R1/067

10. 发明专利

TW201428300A 高頻探針卡审中-公开
简体标题：高频探针卡
公开(公告)号：TW201428300A
公开(公告)日：2014-07-16
申请号：TW102101482
申请日：2013-01-15
申请人：旺矽科技股份有限公司 , MJC PROBE INC.
发明人：蔡錦溢 , TSAI, CHIN YI , 張嘉泰 , CHANG, CHIA TAI , 陳秋桂 , CHEN, CHIU KUEI , 余陳志 , YU, CHEN CHIH , 賴建彰 , LAI, CHIEN CHANG , 楊金田 , YANG, CHIN TIEN , 楊惠彬 , YANG, HUI PIN , 張庚生 , CHANG, KENG SHENG , 黃韻如 , HUANG, YUN RU
IPC分类号： G01R1/067
摘要：一種高頻探針卡，包括一基板，具有一第一通孔、一中介板，設置於該基板上且具有與該第一通孔相對應之一第二通孔、一電路板，設置於該中介板上且具有與該第一與第二通孔相對應之一第三通孔，以及至少一探針模組。每一探針模組更包括有至少一N型接地探針以及至少一高頻訊號針，其係貫穿該基板以及該中介板，經由該第三通孔而與該電路板相電性連接，每一高頻訊號針更包括有一N型訊號探針；以及一第一導體，其係與該N型訊號探針相對應，該第一導體係與該N型接地探針相電性連接，該N型訊號探針與該第一導體之間設置一絕緣層。
简体摘要：一种高频探针卡，包括一基板，具有一第一通孔、一中介板，设置于该基板上且具有与该第一通孔相对应之一第二通孔、一电路板，设置于该中介板上且具有与该第一与第二通孔相对应之一第三通孔，以及至少一探针模块。每一探针模块更包括有至少一N型接地探针以及至少一高频信号针，其系贯穿该基板以及该中介板，经由该第三通孔而与该电路板相电性连接，每一高频信号针更包括有一N型信号探针；以及一第一导体，其系与该N型信号探针相对应，该第一导体系与该N型接地探针相电性连接，该N型信号探针与该第一导体之间设置一绝缘层。

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