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    • 1. 发明专利
    • 探針卡
    • 探针卡
    • TW200938848A
    • 2009-09-16
    • TW097107380
    • 2008-03-03
    • 旺矽科技股份有限公司 MJC PROBE INC.
    • 黃建名張嘉泰林合輝林進億黃朝敬陳建良吳世昌羅嘉駿
    • G01R
    • 一種探針卡,用以測試一具有複數個訊號接點之待測晶片,探針卡包含一基板、複數個第一探針、及複數個第二探針。基板用以被設置於待測晶片上方,且基板具有一觀測窗。第一探針及第二探針設置於基板之底面,分別用以接觸其所對應之訊號接點。第一探針係朝基板下方延伸而被基板所遮蔽,第二探針係朝向該觀測窗下方延伸,使第二探針之前端係位於觀測窗之下方,用以供使用者透過觀測窗由基板之頂面觀測第二探針之前端是否到達對位,而同時達成第一探針之對位。
    • 一种探针卡,用以测试一具有复数个信号接点之待测芯片,探针卡包含一基板、复数个第一探针、及复数个第二探针。基板用以被设置于待测芯片上方,且基板具有一观测窗。第一探针及第二探针设置于基板之底面,分别用以接触其所对应之信号接点。第一探针系朝基板下方延伸而被基板所屏蔽,第二探针系朝向该观测窗下方延伸,使第二探针之前端系位于观测窗之下方,用以供用户透过观测窗由基板之顶面观测第二探针之前端是否到达对位,而同时达成第一探针之对位。