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    • 4. 发明申请
    • 磁気ランダムアクセスメモリ
    • 磁性随机存取存储器
    • WO2004012199A1
    • 2004-02-05
    • PCT/JP2003/009547
    • 2003-07-28
    • 日本電気株式会社杉林 直彦本田 雄士崎村 昇松寺 久雄上條 敦志村 健一森 馨
    • 杉林 直彦本田 雄士崎村 昇松寺 久雄上條 敦志村 健一森 馨
    • G11C11/15
    • G11C11/16
    • A magnetic random access memory includes magnetic structures for memory cells provided at intersections of a plurality of first signal lines and a plurality of second signal lines arranged vertical to the first signal lines. Each of the memory cells includes a magnetoresistive element having a spontaneous magnetization layer whose magnetization direction is reversed by a magnetic field of a first threshold value function or above is applied. In each of the magnetic structures, a magnetic field generated by applying a magnetic field of a second threshold value function or above is stronger than a magnetic field generated by applying a magnetic field below the second threshold value. A first combined magnetic field generated by a selected first and second signal line is applied to the magnetic structure. The element application magnetic field generated by a second combined magnetic field of the first combined magnetic field and the magnetic structure magnetic field has an intensity equal to or greater than the first threshold value function for the selected memory cells and an intensity smaller the first threshold value function for the non-selected memory cells.
    • 磁性随机存取存储器包括设置在多条第一信号线和垂直于第一信号线布置的多条第二信号线的交点处的存储单元的磁结构。 每个存储单元包括具有自发磁化层的磁阻元件,其磁化方向由施加第一阈值函数或更高的磁场而反转。 在每个磁结构中,通过施加第二阈值函数或以上的磁场产生的磁场比通过将磁场施加在第二阈值以下而产生的磁场强。 由所选择的第一和第二信号线产生的第一组合磁场被施加到磁性结构。 由第一组合磁场和磁结构磁场的第二组合磁场产生的元件施加磁场具有等于或大于所选存储单元的第一阈值函数的强度,并且具有小于第一阈值的强度 功能用于未选择的存储单元。
    • 5. 发明申请
    • 半導体記憶装置
    • 半导体存储设备
    • WO2008102650A1
    • 2008-08-28
    • PCT/JP2008/052059
    • 2008-02-07
    • 日本電気株式会社崎村 昇本田 雄士杉林 直彦
    • 崎村 昇本田 雄士杉林 直彦
    • G11C11/15H01L21/8246H01L27/105H01L43/08
    • G11C11/16B82Y10/00B82Y25/00G11C11/1655G11C11/1659G11C11/1673G11C11/1675H01L27/228H01L43/08
    •  半導体記憶装置が、複数のメモリセルを備えるメモリアレイを具備する。複数のメモリセルは、偶数行及び奇数行のいずれか一方に沿って配置された第1メモリセル及び第3メモリセルと、他方に沿って配置された第2メモリセルとを備える。複数のメモリセルの各々は、第1拡散層と第2拡散層とを含む第1トランジスタと、第3拡散層と第4拡散層とを含む第2トランジスタと、第2拡散層と第3拡散層とを電気的に接続する配線層に一方の端子を接続された磁気抵抗素子とを含む。第1メモリセルの第4拡散層は、第2メモリセルの第1拡散層としても使用される。加えて、第2メモリセルの第4拡散層は、第3メモリセルの第1拡散層としても使用される。
    • 半导体存储装置设置有具有多个存储单元的存储器阵列。 存储单元包括沿着偶数行或奇数行排列的第一存储单元和第三存储单元,以及沿着另一行布置的第二存储单元。 每个存储单元包括第一晶体管,包括第一扩散层和第二扩散层; 第二晶体管,包括第三扩散层和第四扩散层; 以及磁阻元件,其具有与布线层连接的一个端子,其将第二扩散层和第三扩散层电连接。 第一存储单元的第四扩散层也用作第二存储单元的第一扩散层。 此外,第二存储单元的第四扩散层也用作第三存储单元的第一扩散层。
    • 7. 发明申请
    • トグル型磁気ランダムアクセスメモリ
    • 刀具类型磁性随机存取存储器
    • WO2005086170A1
    • 2005-09-15
    • PCT/JP2005/003482
    • 2005-03-02
    • 日本電気株式会社崎村 昇杉林 直彦本田 雄士
    • 崎村 昇杉林 直彦本田 雄士
    • G11C11/15
    • G11C11/16
    •  MRAMは、第1配線(23)と第2配線(21+21r)とメモリセル(14+14r)と第2センスアンプ(3)と第1センスアンプ(2)とを備える。第1及び第2配線(23、21+21r)は、第1及び第2方向(X、Yに延伸する。メモリセル(14+14r)は、第1配線(23)と第2配線(21+21r)とが交差する位置に対応して設けられる。第2センスアンプ(3)は、参照配線(21r)に対応して設けられた参照セル(14r)からの出力に基づいて、参照セル(14r)の状態を検出する。第1センスアンプ(2)は、メモリセル(14)及び参照セル(14r)からの出力に基づいて、当該メモリセル(14)の状態を検出する。メモリセル(14+14r)は、積層フリー層を有する磁気抵抗素子含む。磁気抵抗素子は、磁化容易軸方向が第1及び第2の方向(X、Y)とは異なる。
    • MRAM包括第一布线(23),第二布线(21 + 21r),存储单元(14 + 14r),第二读出放大器(3)和第一读出放大器(2)。 第一布线和第二布线(23,21 + 21r)沿第一和第二方向(X,Y)延伸。 存储单元(14 + 14r)被布置在与第一布线(23)和第二布线(21 + 21r)之间的交点的位置相对应的位置处。 第二放大器(3)根据与基准配线(21r)对应配置的参考单元(14r)的输出来检测参考单元(14r)的状态。 第一读出放大器(2)根据存储单元(14)和参考单元(14r)的输出来检测存储单元(14)的状态。 存储单元(14 + 14r)包括具有积层自由层的磁阻元件。 磁阻元件具有不同于第一和第二方向(X,Y)的磁化强度方向。
    • 9. 发明申请
    • 半導体メモリ
    • 半导体存储器
    • WO2008132971A1
    • 2008-11-06
    • PCT/JP2008/056854
    • 2008-04-07
    • 日本電気株式会社崎村 昇武田 晃一杉林 直彦根橋 竜介
    • 崎村 昇武田 晃一杉林 直彦根橋 竜介
    • G11C13/00G11C11/15G11C16/06
    • G11C13/00G11C11/16G11C13/0004G11C13/004G11C2013/0054
    •  クランプ用トランジスタのソース電圧とドレイン電圧が定常状態になるまでの時間を短縮可能な半導体メモリを提供する。  半導体メモリは、記憶情報によって抵抗値が変化する記憶素子11bを含むメモリセル11と、メモリセル11と接続するビット線2と、ビット線2に任意の電位を印加してメモリセル11に電流を流しその電流を検出する電流検出手段4を含み、電流検出手段4は、ビット線2の電位を反転増幅する反転増幅手段41、電源と接続された検出用負荷手段42、ゲートが反転増幅手段41の出力を受けドレインが電源から検出用負荷手段42を介して電流を受けソースがビット線2に任意の電位を印加しメモリセル11に電流を供給するクランプ用トランジスタM1、及びクランプ用トランジスタM1のソースの電圧とドレインの電圧が定常状態になるまでドレインに補助電流を供給し、定常状態になった場合に補助電流の供給を停止する電流供給手段M2を含む。
    • 提供了一种半导体存储器,通过该半导体存储器可以缩短将钳位晶体管的源极电压和漏极电压保持在稳定状态所需的时间。 半导体存储器包括存储单元(11),其包括存储元件(11b),其中电阻值由存储信息改变; 连接到存储单元(11)的位线(2); 以及电流检测装置(4),其向位线(2)施加任意电压以允许电流在存储单元(11)中流动并检测电流。 电流检测装置(4)包括用于反相和放大位线(2)的电位的反相放大装置(41)。 连接到电源的检测负载装置(42); 钳位晶体管(M1),其中栅极接收来自反相放大器装置(41)的输出,漏极通过检测负载装置(42)接收来自电源的电流,源向位线(2)施加任意电位 )并向存储器单元(11)提供电流; 以及电流供给装置(M2),其向所述漏极供给辅助电流,直到所述钳位晶体管(M1)的源电压和漏极电压进入稳定状态,并且当所述电压处于所述电压时,停止所述辅助电流的供给 稳定状态。