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1. 发明专利

TWI559007B 處理器裝置、處理器裝置的調整方法及試驗裝置有权
简体标题：处理器设备、处理器设备的调整方法及试验设备
公开(公告)号：TWI559007B
公开(公告)日：2016-11-21
申请号：TW103132486
申请日：2014-09-19
申请人：愛德萬測試股份有限公司 , ADVANTEST CORPORATION
发明人：山下毅 , YAMASHITA, TSUYOSHI , 相澤光範 , AIZAWA, MITSUNORI , 堀野浩光 , HORINO, HIROMITSU , 山田祐也 , YAMADA, YUYA , 小野澤正貴 , ONOZAWA, MASATAKA
IPC分类号： G01R31/26
CPC分类号： G01R31/2891 , G01C11/00 , G01R1/0441 , G01R31/2893

2. 发明专利

TWI567401B 處理器裝置及試驗裝置（二）有权
简体标题：处理器设备及试验设备（二）
公开(公告)号：TWI567401B
公开(公告)日：2017-01-21
申请号：TW103132484
申请日：2014-09-19
申请人：愛德萬測試股份有限公司 , ADVANTEST CORPORATION
发明人：山下毅 , YAMASHITA, TSUYOSHI , 相澤光範 , AIZAWA, MITSUNORI , 堀野浩光 , HORINO, HIROMITSU , 山田祐也 , YAMADA, YUYA , 小野澤正貴 , ONOZAWA, MASATAKA
IPC分类号： G01R31/28 , G01R1/04
CPC分类号： G01R31/2891 , G01C11/00 , G01R1/0441 , G01R31/2893

3. 发明专利

TW201537196A 處理器裝置及試驗裝置（二）审中-公开
简体标题：处理器设备及试验设备（二）
公开(公告)号：TW201537196A
公开(公告)日：2015-10-01
申请号：TW103132484
申请日：2014-09-19
申请人：愛德萬測試股份有限公司 , ADVANTEST CORPORATION
发明人：山下毅 , YAMASHITA, TSUYOSHI , 相澤光範 , AIZAWA, MITSUNORI , 堀野浩光 , HORINO, HIROMITSU , 山田祐也 , YAMADA, YUYA , 小野澤正貴 , ONOZAWA, MASATAKA
IPC分类号： G01R31/28 , G01R1/04
CPC分类号： G01R31/2891 , G01C11/00 , G01R1/0441 , G01R31/2893
摘要：本發明的問題在於將被試驗器件與試驗用插座精確度良好地電性連接。為了解決上述問題，提供一種處理器裝置，其將被試驗器件搬送至試驗用插座，該處理器裝置具備：插座嵌合單元，其在將用以保持被試驗器件之器件保持器嵌合於試驗用插座之前，嵌合有試驗用插座；試驗用插座位置檢測部，其在插座嵌合單元嵌合於試驗用插座的狀態下，檢測插座嵌合單元相對於試驗用插座的相對位置；致動器，其基於檢測到的插座嵌合單元的相對位置，調整被試驗器件在器件保持器上的位置；及，搬送部，其搬送被試驗器件的位置被調整後的器件保持器，使該器件保持器嵌合於試驗用插座。
简体摘要：本发明的问题在于将被试验器件与试验用插座精确度良好地电性连接。为了解决上述问题，提供一种处理器设备，其将被试验器件搬送至试验用插座，该处理器设备具备：插座嵌合单元，其在将用以保持被试验器件之器件保持器嵌合于试验用插座之前，嵌合有试验用插座；试验用插座位置检测部，其在插座嵌合单元嵌合于试验用插座的状态下，检测插座嵌合单元相对于试验用插座的相对位置；致动器，其基于检测到的插座嵌合单元的相对位置，调整被试验器件在器件保持器上的位置；及，搬送部，其搬送被试验器件的位置被调整后的器件保持器，使该器件保持器嵌合于试验用插座。

4. 发明专利

TW201537188A 處理器裝置、處理器裝置的調整方法及試驗裝置审中-公开
简体标题：处理器设备、处理器设备的调整方法及试验设备
公开(公告)号：TW201537188A
公开(公告)日：2015-10-01
申请号：TW103132486
申请日：2014-09-19
申请人：愛德萬測試股份有限公司 , ADVANTEST CORPORATION
发明人：山下毅 , YAMASHITA, TSUYOSHI , 相澤光範 , AIZAWA, MITSUNORI , 堀野浩光 , HORINO, HIROMITSU , 山田祐也 , YAMADA, YUYA , 小野澤正貴 , ONOZAWA, MASATAKA
IPC分类号： G01R31/26
CPC分类号： G01R31/2891 , G01C11/00 , G01R1/0441 , G01R31/2893
摘要：本發明的問題在於提供一種處理器裝置，其調整致動器的位置，並提高被試驗器件的位置精確度。為了解決上述問題，提供一種處理器裝置及處理器裝置的調整方法，該處理器裝置將被試驗器件搬送至試驗用插座，該處理器裝置具備：致動器，其在將用以保持被試驗器件之器件保持器嵌合於試驗用插座之前，嵌合於器件保持器，以調整被試驗器件在器件保持器上的位置；及，致動器調整部，其使致動器嵌合於致動器嵌合單元並調整致動器的驅動量。
简体摘要：本发明的问题在于提供一种处理器设备，其调整致动器的位置，并提高被试验器件的位置精确度。为了解决上述问题，提供一种处理器设备及处理器设备的调整方法，该处理器设备将被试验器件搬送至试验用插座，该处理器设备具备：致动器，其在将用以保持被试验器件之器件保持器嵌合于试验用插座之前，嵌合于器件保持器，以调整被试验器件在器件保持器上的位置；及，致动器调整部，其使致动器嵌合于致动器嵌合单元并调整致动器的驱动量。

5. 发明专利

TWI566066B 溫度控制裝置及試驗系統有权
简体标题：温度控制设备及试验系统
公开(公告)号：TWI566066B
公开(公告)日：2017-01-11
申请号：TW103132490
申请日：2014-09-19
申请人：愛德萬測試股份有限公司 , ADVANTEST CORPORATION
发明人：佐佐木博孝 , SASAKI, HIROTAKA , 山下毅 , YAMASHITA, TSUYOSHI , 增田登 , MASUDA, NOBORU
IPC分类号： G05D23/13
CPC分类号： G01R31/2875 , G01R31/28 , G01R31/2851

6. 发明专利

TWI540327B 處理器裝置及試驗裝置（一）有权
简体标题：处理器设备及试验设备（一）
公开(公告)号：TWI540327B
公开(公告)日：2016-07-01
申请号：TW103132483
申请日：2014-09-19
申请人：愛德萬測試股份有限公司 , ADVANTEST CORPORATION
发明人：菊池有朋 , KIKUCHI, ARITOMO , 山下毅 , YAMASHITA, TSUYOSHI , 相澤光範 , AIZAWA, MITSUNORI , 堀野浩光 , HORINO, HIROMITSU , 山田祐也 , YAMADA, YUYA , 小野澤正貴 , ONOZAWA, MASATAKA
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R31/2891 , G01C11/00 , G01R1/0441 , G01R31/2893

7. 发明专利

TW201537320A 溫度控制裝置及試驗系統审中-公开
简体标题：温度控制设备及试验系统
公开(公告)号：TW201537320A
公开(公告)日：2015-10-01
申请号：TW103132490
申请日：2014-09-19
申请人：愛德萬測試股份有限公司 , ADVANTEST CORPORATION
发明人：佐佐木博孝 , SASAKI, HIROTAKA , 山下毅 , YAMASHITA, TSUYOSHI , 增田登 , MASUDA, NOBORU
IPC分类号： G05D23/13
CPC分类号： G01R31/2875 , G01R31/28 , G01R31/2851
摘要：本發明要解決的問題是，在現有技術中，閥的數量增加，構成和控制變得複雜。為了解決上述問題，本發明是一種溫度控制裝置，用以控制元件的溫度，該溫度控制裝置具備：熱交換部，其與前述元件之間進行熱交換；主流路，其供流體流動；副流路，其供溫度與在前述主流路中流動之流體的溫度不同的流體流動；混合流路，其使來自前述主流路和前述副流路的流體合流並流向前述熱交換部；及，流量調整部，其調整從前述副流路流向前述混合流路之流體相對於在前述主流路中流動之流體的混合量。
简体摘要：本发明要解决的问题是，在现有技术中，阀的数量增加，构成和控制变得复杂。为了解决上述问题，本发明是一种温度控制设备，用以控件的温度，该温度控制设备具备：热交换部，其与前述组件之间进行热交换；主流路，其供流体流动；副流路，其供温度与在前述主流路中流动之流体的温度不同的流体流动；混合流路，其使来自前述主流路和前述副流路的流体合流并流向前述热交换部；及，流量调整部，其调整从前述副流路流向前述混合流路之流体相对于在前述主流路中流动之流体的混合量。

8. 发明专利

TW201537195A 處理器裝置及試驗裝置（一）审中-公开
简体标题：处理器设备及试验设备（一）
公开(公告)号：TW201537195A
公开(公告)日：2015-10-01
申请号：TW103132483
申请日：2014-09-19
申请人：愛德萬測試股份有限公司 , ADVANTEST CORPORATION
发明人：菊池有朋 , KIKUCHI, ARITOMO , 山下毅 , YAMASHITA, TSUYOSHI , 相澤光範 , AIZAWA, MITSUNORI , 堀野浩光 , HORINO, HIROMITSU , 山田祐也 , YAMADA, YUYA , 小野澤正貴 , ONOZAWA, MASATAKA
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R31/2891 , G01C11/00 , G01R1/0441 , G01R31/2893
摘要：本發明的問題在於將被試驗器件與試驗用插座精確度良好地電性連接。為了解決上述問題，提供一種處理器裝置，其將被試驗器件搬送至試驗用插座，該處理器裝置具備：調整用插座，其在將用以保持被試驗器件之器件保持器嵌合於試驗用插座之前，嵌合有器件保持器；調整用插座位置檢測部，其在器件保持器嵌合於調整用插座的狀態下，檢測被試驗器件相對於調整用插座的相對位置；致動器，其基於檢測到的被試驗器件的相對位置，調整被試驗器件在器件保持器上的位置；及，搬送部，其搬送被試驗器件的位置被調整後的器件保持器，使該器件保持器嵌合於試驗用插座。
简体摘要：本发明的问题在于将被试验器件与试验用插座精确度良好地电性连接。为了解决上述问题，提供一种处理器设备，其将被试验器件搬送至试验用插座，该处理器设备具备：调整用插座，其在将用以保持被试验器件之器件保持器嵌合于试验用插座之前，嵌合有器件保持器；调整用插座位置检测部，其在器件保持器嵌合于调整用插座的状态下，检测被试验器件相对于调整用插座的相对位置；致动器，其基于检测到的被试验器件的相对位置，调整被试验器件在器件保持器上的位置；及，搬送部，其搬送被试验器件的位置被调整后的器件保持器，使该器件保持器嵌合于试验用插座。

9. 发明专利

TWI361276B 電子零件按壓裝置以及電子零件測試裝置 ELECTRONIC PARTS PRESSING DEVICE AND ELECTRONIC PARTS TEST DEVICE 失效
简体标题：电子零件按压设备以及电子零件测试设备 ELECTRONIC PARTS PRESSING DEVICE AND ELECTRONIC PARTS TEST DEVICE
公开(公告)号：TWI361276B
公开(公告)日：2012-04-01
申请号：TW097102776
申请日：2008-01-25
申请人：愛德萬測試股份有限公司
发明人：山下毅
IPC分类号： G01R , H01L
CPC分类号： G01R31/2891
摘要：本發明提供電子零件按壓裝置等，可對電子零件的晶粒與基板上的按壓載荷進行個別管理，並可根據需要而細緻地管理此時對電子零件的晶粒的按壓載荷，且可提高按壓構件相對於電子零件的晶粒的密著度。本發明是用以將被測試電子零件的端子按壓到測試頭的接觸部上的電子零件按壓裝置，其具備：按壓IC元件(8)的晶粒(81)的第1按壓構件(51)；按壓IC元件(8)的基板(82)的第2按壓構件(52)；以及平衡環機構(54)，該平衡環機構在第1按壓構件(51)按壓IC元件(8)的基板(82)時，使第1按壓構件(51)密著於上述晶粒(81)。四個空氣壓缸56可對平衡環機構54賦予按壓載荷，並且可任意設定該按壓載荷，或者可進行該按壓載荷的微調整。
简体摘要：本发明提供电子零件按压设备等，可对电子零件的晶粒与基板上的按压载荷进行个别管理，并可根据需要而细致地管理此时对电子零件的晶粒的按压载荷，且可提高按压构件相对于电子零件的晶粒的密着度。本发明是用以将被测试电子零件的端子按压到测试头的接触部上的电子零件按压设备，其具备：按压IC组件(8)的晶粒(81)的第1按压构件(51)；按压IC组件(8)的基板(82)的第2按压构件(52)；以及平衡环机构(54)，该平衡环机构在第1按压构件(51)按压IC组件(8)的基板(82)时，使第1按压构件(51)密着于上述晶粒(81)。四个空气压缸56可对平衡环机构54赋予按压载荷，并且可任意设置该按压载荷，或者可进行该按压载荷的微调整。

10. 发明专利

TW201516430A 搬運裝置以及電子元件移載裝置审中-公开
简体标题：搬运设备以及电子组件移载设备
公开(公告)号：TW201516430A
公开(公告)日：2015-05-01
申请号：TW104102489
申请日：2012-11-06
申请人：阿德潘鐵斯特股份有限公司 , ADVANTEST CORPORATION
发明人：中嶋治希 , NAKAJIMA, HARUKI , 菊池裕之 , KIKUCHI, HIROYUKI , 山下毅 , YAMASHITA, TSUYOSHI
IPC分类号： G01R31/26 , G01R31/28 , B65G17/12
CPC分类号： B65G17/12 , B65G35/06 , G01R31/2893
摘要：提供具有優越的承載盤間的DUT移載能力之電子元件移載裝置。將DUT100在承載盤110及120之間移動調換的電子元件移載裝置，其包括：元件搬運裝置50，其包含：固持DUT100的複數個搬運梭51；引導搬運梭51的無端狀的第1引導軌道521；使搬運梭51在第1引導軌道521上移動的第1~第3傳送裝置53~55；搬運梭51可以在第1引導軌道521上橫亙該軌道的全周移動。
简体摘要：提供具有优越的承载盘间的DUT移载能力之电子组件移载设备。将DUT100在承载盘110及120之间移动调换的电子组件移载设备，其包括：组件搬运设备50，其包含：固持DUT100的复数个搬运梭51；引导搬运梭51的无端状的第1引导轨道521；使搬运梭51在第1引导轨道521上移动的第1~第3发送设备53~55；搬运梭51可以在第1引导轨道521上横亘该轨道的全周移动。

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