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1. 发明专利

TW201346276A 用於量測長時間週期之裝置及方法审中-公开
简体标题：用于量测长时间周期之设备及方法
公开(公告)号：TW201346276A
公开(公告)日：2013-11-16
申请号：TW102125271
申请日：2008-01-10
申请人：微晶片科技公司 , MICROCHIP TECHNOLOGY INCORPORATED
发明人：巴特林詹姆士E , BARTLING, JAMES E.
IPC分类号： G01R22/00
CPC分类号： G01R27/2605 , G01R29/023 , G01R31/2884 , G01R31/3167 , G01R31/31725 , G01R31/31727 , G04F10/04 , G04F10/105
摘要：藉由在一事件期間自一恆定電流源將一已知值電容器充電來判定該事件之一時間週期。該電容器上之所得電壓係與該事件時間週期成比例且可自該所得電壓及已知電容值予以計算。藉由在一已知時間週期期間自一恆定電流源將一電容器充電來量測電容。該電容器上之所得電壓係與其電容成比例且可自該所得電壓及已知時間週期予以計算。可藉由在事件開始時將一第一電容器充電及在事件終止時將一第二電容器充電同時計數其間之時脈時間來量測一長時間週期事件。藉由在一事件開始及終止時充電在第一電容器及第二電容器上之電壓同時比較其上之電壓與一參考電壓來完成該事件之延遲。
简体摘要：借由在一事件期间自一恒定电流源将一已知值电容器充电来判定该事件之一时间周期。该电容器上之所得电压系与该事件时间周期成比例且可自该所得电压及已知电容值予以计算。借由在一已知时间周期期间自一恒定电流源将一电容器充电来量测电容。该电容器上之所得电压系与其电容成比例且可自该所得电压及已知时间周期予以计算。可借由在事件开始时将一第一电容器充电及在事件终止时将一第二电容器充电同时计数其间之时脉时间来量测一长时间周期事件。借由在一事件开始及终止时充电在第一电容器及第二电容器上之电压同时比较其上之电压与一参考电压来完成该事件之延迟。

2. 发明专利

TW201331562A 高解析度溫度量測审中-公开
简体标题：高分辨率温度量测
公开(公告)号：TW201331562A
公开(公告)日：2013-08-01
申请号：TW101141913
申请日：2012-11-09
申请人：微晶片科技公司 , MICROCHIP TECHNOLOGY INCORPORATED
发明人：溫戴倫艾德華諾爾 , WENN, DARREN EDWARD NOEL , 巴特林詹姆士E , BARTLING, JAMES E.
IPC分类号： G01K3/04 , G04F10/10
CPC分类号： G01K7/22 , G01K7/16 , G01K7/34
摘要：藉由藉助一電阻式溫度感測器量測對一電容器充電所花費之時間來判定溫度。使用一時脈、時間計數器、一電壓比較器及電壓參考來判定一粗略時間量測。藉助在一單個時脈脈衝時間內對另一計時電容器充電之一恆定電流源之添加來增強時間量測解析度以提供一精細時間量測。
简体摘要：借由借助一电阻式温度传感器量测对一电容器充电所花费之时间来判定温度。使用一时脉、时间计数器、一电压比较器及电压参考来判定一粗略时间量测。借助在一单个时脉脉冲时间内对另一计时电容器充电之一恒定电流源之添加来增强时间量测分辨率以提供一精细时间量测。

3. 发明专利

TW201012077A 電流時間數位至類比轉換器 CURRENT-TIME DIGITAL-TO-ANALOG CONVERTER 审中-公开
简体标题：电流时间数码至模拟转换器 CURRENT-TIME DIGITAL-TO-ANALOG CONVERTER
公开(公告)号：TW201012077A
公开(公告)日：2010-03-16
申请号：TW098120162
申请日：2009-06-16
申请人：微晶片科技公司
发明人：巴特林詹姆士E , 奧藤大衛L , 賽遜D C
IPC分类号： H03M
CPC分类号： H03M1/68 , H03M1/742 , H03M1/82
摘要：本發明係關於一種高解析度數位至類比轉換器，其包括一可程式化之n位元電流數位至類比轉換器(IDAC)；一m位元可程式化計數器/計時器；一積分器，其轉換該IDAC之該恆定電流為一精確(高解析度)類比電壓，其中該恆定電流隨時間為一電容器充電；及一取樣及保持電路，用於儲存該精確類比電壓。來自該IDAC之該恆定電流係施加於該積分器一期間，該期間係由該程式化計數器/計時器決定，接著該取樣及保持電路將取樣電容器上之最終電壓，且儲存該最終電壓為一類比電壓。此高解析度數位至類比轉換器之類比電壓解析度係n+m位元或二進位2 n+m 。此外，複數個取樣及保持電路可被用於保持複數個類比輸出電壓。
简体摘要：本发明系关于一种高分辨率数码至模拟转换器，其包括一可进程化之n比特电流数码至模拟转换器(IDAC)；一m比特可进程化计数器/计时器；一积分器，其转换该IDAC之该恒定电流为一精确(高分辨率)模拟电压，其中该恒定电流随时间为一电容器充电；及一采样及保持电路，用于存储该精确模拟电压。来自该IDAC之该恒定电流系施加于该积分器一期间，该期间系由该进程化计数器/计时器决定，接着该采样及保持电路将采样电容器上之最终电压，且存储该最终电压为一模拟电压。此高分辨率数码至模拟转换器之模拟电压分辨率系n+m比特或二进制2 n+m 。此外，复数个采样及保持电路可被用于保持复数个模拟输出电压。

4. 发明专利

TW201630340A 可選擇可程式化之增益或運算放大器审中-公开
简体标题：可选择可进程化之增益或运算放大器
公开(公告)号：TW201630340A
公开(公告)日：2016-08-16
申请号：TW104131941
申请日：2015-09-25
申请人：微晶片科技公司 , MICROCHIP TECHNOLOGY INCORPORATED
发明人：克里斯布萊恩 , KRIS, BRYAN , 巴特林詹姆士E , BARTLING, JAMES E.
IPC分类号： H03F3/45 , H03G1/00 , H03G3/00
CPC分类号： H03G1/0088 , H03F3/45475 , H03F2200/321 , H03F2203/45048 , H03F2203/45528 , H03F2203/45534 , H03F2203/45616 , H03F2203/45728 , H03G3/001
摘要：本發明揭示一種積體電路放大器，其可被組態為一可程式化增益放大器或一運算放大器，其包括兩個輸出塊，一個輸出塊經最佳化以用於可程式化增益放大器操作，且另一輸出塊經最佳化以用於運算放大器應用。一共用單一輸入級、輸入偏移校準及偏壓產生電路可與任一放大器組態一起使用。因此，消除該輸入級、偏移校準及偏壓產生電路的重複，同時仍可選擇地提供一可程式化增益放大器或運算放大器組態。
简体摘要：本发明揭示一种集成电路放大器，其可被组态为一可进程化增益放大器或一运算放大器，其包括两个输出块，一个输出块经最优化以用于可进程化增益放大器操作，且另一输出块经最优化以用于运算放大器应用。一共享单一输入级、输入偏移校准及偏压产生电路可与任一放大器组态一起使用。因此，消除该输入级、偏移校准及偏压产生电路的重复，同时仍可选择地提供一可进程化增益放大器或运算放大器组态。

5. 发明专利

TWI487917B 用於量測長時間週期之裝置及方法有权
简体标题：用于量测长时间周期之设备及方法
公开(公告)号：TWI487917B
公开(公告)日：2015-06-11
申请号：TW102125271
申请日：2008-01-10
申请人：微晶片科技公司 , MICROCHIP TECHNOLOGY INCORPORATED
发明人：巴特林詹姆士E , BARTLING, JAMES E.
IPC分类号： G01R22/00
CPC分类号： G01R27/2605 , G01R29/023 , G01R31/2884 , G01R31/3167 , G01R31/31725 , G01R31/31727 , G04F10/04 , G04F10/105

6. 发明专利

TW201346278A 用於量測長時間週期之裝置及方法审中-公开
简体标题：用于量测长时间周期之设备及方法
公开(公告)号：TW201346278A
公开(公告)日：2013-11-16
申请号：TW102125273
申请日：2008-01-10
申请人：微晶片科技公司 , MICROCHIP TECHNOLOGY INCORPORATED
发明人：巴特林詹姆士E , BARTLING, JAMES E.
IPC分类号： G01R22/00
CPC分类号： G01R27/2605 , G01R29/023 , G01R31/2884 , G01R31/3167 , G01R31/31725 , G01R31/31727 , G04F10/04 , G04F10/105
摘要：藉由在一事件期間自一恆定電流源將一已知值電容器充電來判定該事件之一時間週期。該電容器上之所得電壓係與該事件時間週期成比例且可自該所得電壓及已知電容值予以計算。藉由在一已知時間週期期間自一恆定電流源將一電容器充電來量測電容。該電容器上之所得電壓係與其電容成比例且可自該所得電壓及已知時間週期予以計算。可藉由在事件開始時將一第一電容器充電及在事件終止時將一第二電容器充電同時計數其間之時脈時間來量測一長時間週期事件。藉由在一事件開始及終止時充電在第一電容器及第二電容器上之電壓同時比較其上之電壓與一參考電壓來完成該事件之延遲。
简体摘要：借由在一事件期间自一恒定电流源将一已知值电容器充电来判定该事件之一时间周期。该电容器上之所得电压系与该事件时间周期成比例且可自该所得电压及已知电容值予以计算。借由在一已知时间周期期间自一恒定电流源将一电容器充电来量测电容。该电容器上之所得电压系与其电容成比例且可自该所得电压及已知时间周期予以计算。可借由在事件开始时将一第一电容器充电及在事件终止时将一第二电容器充电同时计数其间之时脉时间来量测一长时间周期事件。借由在一事件开始及终止时充电在第一电容器及第二电容器上之电压同时比较其上之电压与一参考电压来完成该事件之延迟。

7. 发明专利

TW201233371A 使用一電流源之葡萄糖量測 GLUCOSE MEASUREMENT USING A CURRENT SOURCE 审中-公开
简体标题：使用一电流源之葡萄糖量测 GLUCOSE MEASUREMENT USING A CURRENT SOURCE
公开(公告)号：TW201233371A
公开(公告)日：2012-08-16
申请号：TW100149842
申请日：2011-12-30
申请人：微晶片科技公司
发明人：巴特林詹姆士E , 瑪奇亞倫喬 , 溫戴倫艾德華諾爾
IPC分类号： A61B , G01N
CPC分类号： G01N27/3273
摘要：本發明揭示一種血液葡萄糖計，其包括一血液樣本測試條、一恆定電流源、一精確計時器、一數位處理器及記憶體及一類比量測電路，該血液葡萄糖計消除當前技術之葡萄糖計之複雜類比前端及其他相關電路，例如，電壓比較器、類比轉數位轉換器(ADC)等等。當將一血液樣本施加至該血液樣本測試條時，一電荷Q自該測試條中之酶與該血液樣本之間的反應而產生。在當已將超量電荷Q自該血液樣本測試條移除時所判定之一精確量測時間期間，該恆定電流源將一恆定電流值I注入至該測試條上之電荷Q中。藉由Q=I×T來判定電荷Q之量，然後將電荷Q轉換成一血液葡萄糖位準用於顯示。
简体摘要：本发明揭示一种血液葡萄糖计，其包括一血液样本测试条、一恒定电流源、一精确计时器、一数码处理器及内存及一模拟量测电路，该血液葡萄糖计消除当前技术之葡萄糖计之复杂模拟前端及其他相关电路，例如，电压比较器、模拟转数码转换器(ADC)等等。当将一血液样本施加至该血液样本测试条时，一电荷Q自该测试条中之酶与该血液样本之间的反应而产生。在当已将超量电荷Q自该血液样本测试条移除时所判定之一精确量测时间期间，该恒定电流源将一恒定电流值I注入至该测试条上之电荷Q中。借由Q=I×T来判定电荷Q之量，然后将电荷Q转换成一血液葡萄糖位准用于显示。

8. 发明专利

TW201630354A 具有微寫碼序列器之類比至數位轉換审中-公开
简体标题：具有微写码串行器之模拟至数码转换
公开(公告)号：TW201630354A
公开(公告)日：2016-08-16
申请号：TW104134084
申请日：2015-10-16
申请人：微晶片科技公司 , MICROCHIP TECHNOLOGY INCORPORATED
发明人：巴特林詹姆士E , BARTLING, JAMES E. , 汪珍達衣格 , WOJEWODA, IGOR , 奇爾瑟凱文 , KILZER, KEVIN
IPC分类号： H03M1/12 , G06F1/32
CPC分类号： H03M1/12 , G06F1/32 , H03K17/9622 , H03K2217/960725 , H03M1/00 , H03M1/1225 , H03M1/1245 , H03M1/50
摘要：一種微寫碼序列器控制獨立於一中央處理單元(CPU)之複雜轉換序列。微寫碼提供容易地添加新程序步驟及/或更新現有程序步驟。與諸如一類比至數位轉換器(ADC)或一充電時間量測單元(CTMU)之一類比至數位轉換模組及數位處理電路組合之此一可程式化序列器可經組態以獨立於該CPU而與該微寫碼序列器組合地工作。藉此在該CPU及其他高功率模組處於一低功率睡眠模式中時在低功率模式中提供自足式操作。此一周邊裝置可執行資料收集及其處理，然後僅在需要時喚醒該CPU，藉此節省功率。此外，此周邊裝置不需要CPU處理，使得需要受該CPU控制之時間臨界應用可更高效地且以較小操作額外負擔操作。
简体摘要：一种微写码串行器控制独立于一中央处理单元(CPU)之复杂转换串行。微写码提供容易地添加新进程步骤及/或更新现有进程步骤。与诸如一模拟至数码转换器(ADC)或一充电时间量测单元(CTMU)之一模拟至数码转换模块及数码处理电路组合之此一可进程化串行器可经组态以独立于该CPU而与该微写码串行器组合地工作。借此在该CPU及其他高功率模块处于一低功率睡眠模式中时在低功率模式中提供自足式操作。此一周边设备可运行数据收集及其处理，然后仅在需要时唤醒该CPU，借此节省功率。此外，此周边设备不需要CPU处理，使得需要受该CPU控制之时间临界应用可更高效地且以较小操作额外负担操作。

9. 发明专利

TWI526901B 自動電容式接觸掃描有权
简体标题：自动电容式接触扫描
公开(公告)号：TWI526901B
公开(公告)日：2016-03-21
申请号：TW098136201
申请日：2009-10-26
申请人：微晶片科技公司 , MICROCHIP TECHNOLOGY INCORPORATED
发明人：巴特林詹姆士E , BARTLING, JAMES E. , 托勒夫森傑森 , TOLLEFSON, JASON , 柏恩布魯斯 , BOHN, BRUCE
IPC分类号： G06F3/044
CPC分类号： G06F1/3215 , H03K17/9622 , H03K2217/960715

10. 发明专利

TWI485408B 用於量測電容之裝置有权
简体标题：用于量测电容之设备
公开(公告)号：TWI485408B
公开(公告)日：2015-05-21
申请号：TW102125273
申请日：2008-01-10
申请人：微晶片科技公司 , MICROCHIP TECHNOLOGY INCORPORATED
发明人：巴特林詹姆士E , BARTLING, JAMES E.
IPC分类号： G01R22/00
CPC分类号： G01R27/2605 , G01R29/023 , G01R31/2884 , G01R31/3167 , G01R31/31725 , G01R31/31727 , G04F10/04 , G04F10/105

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