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1. 发明专利

TW201346276A 用於量測長時間週期之裝置及方法审中-公开
简体标题：用于量测长时间周期之设备及方法
公开(公告)号：TW201346276A
公开(公告)日：2013-11-16
申请号：TW102125271
申请日：2008-01-10
申请人：微晶片科技公司 , MICROCHIP TECHNOLOGY INCORPORATED
发明人：巴特林詹姆士E , BARTLING, JAMES E.
IPC分类号： G01R22/00
CPC分类号： G01R27/2605 , G01R29/023 , G01R31/2884 , G01R31/3167 , G01R31/31725 , G01R31/31727 , G04F10/04 , G04F10/105
摘要：藉由在一事件期間自一恆定電流源將一已知值電容器充電來判定該事件之一時間週期。該電容器上之所得電壓係與該事件時間週期成比例且可自該所得電壓及已知電容值予以計算。藉由在一已知時間週期期間自一恆定電流源將一電容器充電來量測電容。該電容器上之所得電壓係與其電容成比例且可自該所得電壓及已知時間週期予以計算。可藉由在事件開始時將一第一電容器充電及在事件終止時將一第二電容器充電同時計數其間之時脈時間來量測一長時間週期事件。藉由在一事件開始及終止時充電在第一電容器及第二電容器上之電壓同時比較其上之電壓與一參考電壓來完成該事件之延遲。
简体摘要：借由在一事件期间自一恒定电流源将一已知值电容器充电来判定该事件之一时间周期。该电容器上之所得电压系与该事件时间周期成比例且可自该所得电压及已知电容值予以计算。借由在一已知时间周期期间自一恒定电流源将一电容器充电来量测电容。该电容器上之所得电压系与其电容成比例且可自该所得电压及已知时间周期予以计算。可借由在事件开始时将一第一电容器充电及在事件终止时将一第二电容器充电同时计数其间之时脉时间来量测一长时间周期事件。借由在一事件开始及终止时充电在第一电容器及第二电容器上之电压同时比较其上之电压与一参考电压来完成该事件之延迟。

2. 发明专利

TW201331562A 高解析度溫度量測审中-公开
简体标题：高分辨率温度量测
公开(公告)号：TW201331562A
公开(公告)日：2013-08-01
申请号：TW101141913
申请日：2012-11-09
申请人：微晶片科技公司 , MICROCHIP TECHNOLOGY INCORPORATED
发明人：溫戴倫艾德華諾爾 , WENN, DARREN EDWARD NOEL , 巴特林詹姆士E , BARTLING, JAMES E.
IPC分类号： G01K3/04 , G04F10/10
CPC分类号： G01K7/22 , G01K7/16 , G01K7/34
摘要：藉由藉助一電阻式溫度感測器量測對一電容器充電所花費之時間來判定溫度。使用一時脈、時間計數器、一電壓比較器及電壓參考來判定一粗略時間量測。藉助在一單個時脈脈衝時間內對另一計時電容器充電之一恆定電流源之添加來增強時間量測解析度以提供一精細時間量測。
简体摘要：借由借助一电阻式温度传感器量测对一电容器充电所花费之时间来判定温度。使用一时脉、时间计数器、一电压比较器及电压参考来判定一粗略时间量测。借助在一单个时脉脉冲时间内对另一计时电容器充电之一恒定电流源之添加来增强时间量测分辨率以提供一精细时间量测。

3. 发明专利

TW201630340A 可選擇可程式化之增益或運算放大器审中-公开
简体标题：可选择可进程化之增益或运算放大器
公开(公告)号：TW201630340A
公开(公告)日：2016-08-16
申请号：TW104131941
申请日：2015-09-25
申请人：微晶片科技公司 , MICROCHIP TECHNOLOGY INCORPORATED
发明人：克里斯布萊恩 , KRIS, BRYAN , 巴特林詹姆士E , BARTLING, JAMES E.
IPC分类号： H03F3/45 , H03G1/00 , H03G3/00
CPC分类号： H03G1/0088 , H03F3/45475 , H03F2200/321 , H03F2203/45048 , H03F2203/45528 , H03F2203/45534 , H03F2203/45616 , H03F2203/45728 , H03G3/001
摘要：本發明揭示一種積體電路放大器，其可被組態為一可程式化增益放大器或一運算放大器，其包括兩個輸出塊，一個輸出塊經最佳化以用於可程式化增益放大器操作，且另一輸出塊經最佳化以用於運算放大器應用。一共用單一輸入級、輸入偏移校準及偏壓產生電路可與任一放大器組態一起使用。因此，消除該輸入級、偏移校準及偏壓產生電路的重複，同時仍可選擇地提供一可程式化增益放大器或運算放大器組態。
简体摘要：本发明揭示一种集成电路放大器，其可被组态为一可进程化增益放大器或一运算放大器，其包括两个输出块，一个输出块经最优化以用于可进程化增益放大器操作，且另一输出块经最优化以用于运算放大器应用。一共享单一输入级、输入偏移校准及偏压产生电路可与任一放大器组态一起使用。因此，消除该输入级、偏移校准及偏压产生电路的重复，同时仍可选择地提供一可进程化增益放大器或运算放大器组态。

4. 发明专利

TWI487917B 用於量測長時間週期之裝置及方法有权
简体标题：用于量测长时间周期之设备及方法
公开(公告)号：TWI487917B
公开(公告)日：2015-06-11
申请号：TW102125271
申请日：2008-01-10
申请人：微晶片科技公司 , MICROCHIP TECHNOLOGY INCORPORATED
发明人：巴特林詹姆士E , BARTLING, JAMES E.
IPC分类号： G01R22/00
CPC分类号： G01R27/2605 , G01R29/023 , G01R31/2884 , G01R31/3167 , G01R31/31725 , G01R31/31727 , G04F10/04 , G04F10/105

5. 发明专利

TW201346278A 用於量測長時間週期之裝置及方法审中-公开
简体标题：用于量测长时间周期之设备及方法
公开(公告)号：TW201346278A
公开(公告)日：2013-11-16
申请号：TW102125273
申请日：2008-01-10
申请人：微晶片科技公司 , MICROCHIP TECHNOLOGY INCORPORATED
发明人：巴特林詹姆士E , BARTLING, JAMES E.
IPC分类号： G01R22/00
CPC分类号： G01R27/2605 , G01R29/023 , G01R31/2884 , G01R31/3167 , G01R31/31725 , G01R31/31727 , G04F10/04 , G04F10/105
摘要：藉由在一事件期間自一恆定電流源將一已知值電容器充電來判定該事件之一時間週期。該電容器上之所得電壓係與該事件時間週期成比例且可自該所得電壓及已知電容值予以計算。藉由在一已知時間週期期間自一恆定電流源將一電容器充電來量測電容。該電容器上之所得電壓係與其電容成比例且可自該所得電壓及已知時間週期予以計算。可藉由在事件開始時將一第一電容器充電及在事件終止時將一第二電容器充電同時計數其間之時脈時間來量測一長時間週期事件。藉由在一事件開始及終止時充電在第一電容器及第二電容器上之電壓同時比較其上之電壓與一參考電壓來完成該事件之延遲。
简体摘要：借由在一事件期间自一恒定电流源将一已知值电容器充电来判定该事件之一时间周期。该电容器上之所得电压系与该事件时间周期成比例且可自该所得电压及已知电容值予以计算。借由在一已知时间周期期间自一恒定电流源将一电容器充电来量测电容。该电容器上之所得电压系与其电容成比例且可自该所得电压及已知时间周期予以计算。可借由在事件开始时将一第一电容器充电及在事件终止时将一第二电容器充电同时计数其间之时脉时间来量测一长时间周期事件。借由在一事件开始及终止时充电在第一电容器及第二电容器上之电压同时比较其上之电压与一参考电压来完成该事件之延迟。

6. 发明专利

TW201630354A 具有微寫碼序列器之類比至數位轉換审中-公开
简体标题：具有微写码串行器之模拟至数码转换
公开(公告)号：TW201630354A
公开(公告)日：2016-08-16
申请号：TW104134084
申请日：2015-10-16
申请人：微晶片科技公司 , MICROCHIP TECHNOLOGY INCORPORATED
发明人：巴特林詹姆士E , BARTLING, JAMES E. , 汪珍達衣格 , WOJEWODA, IGOR , 奇爾瑟凱文 , KILZER, KEVIN
IPC分类号： H03M1/12 , G06F1/32
CPC分类号： H03M1/12 , G06F1/32 , H03K17/9622 , H03K2217/960725 , H03M1/00 , H03M1/1225 , H03M1/1245 , H03M1/50
摘要：一種微寫碼序列器控制獨立於一中央處理單元(CPU)之複雜轉換序列。微寫碼提供容易地添加新程序步驟及/或更新現有程序步驟。與諸如一類比至數位轉換器(ADC)或一充電時間量測單元(CTMU)之一類比至數位轉換模組及數位處理電路組合之此一可程式化序列器可經組態以獨立於該CPU而與該微寫碼序列器組合地工作。藉此在該CPU及其他高功率模組處於一低功率睡眠模式中時在低功率模式中提供自足式操作。此一周邊裝置可執行資料收集及其處理，然後僅在需要時喚醒該CPU，藉此節省功率。此外，此周邊裝置不需要CPU處理，使得需要受該CPU控制之時間臨界應用可更高效地且以較小操作額外負擔操作。
简体摘要：一种微写码串行器控制独立于一中央处理单元(CPU)之复杂转换串行。微写码提供容易地添加新进程步骤及/或更新现有进程步骤。与诸如一模拟至数码转换器(ADC)或一充电时间量测单元(CTMU)之一模拟至数码转换模块及数码处理电路组合之此一可进程化串行器可经组态以独立于该CPU而与该微写码串行器组合地工作。借此在该CPU及其他高功率模块处于一低功率睡眠模式中时在低功率模式中提供自足式操作。此一周边设备可运行数据收集及其处理，然后仅在需要时唤醒该CPU，借此节省功率。此外，此周边设备不需要CPU处理，使得需要受该CPU控制之时间临界应用可更高效地且以较小操作额外负担操作。

7. 发明专利

TWI526901B 自動電容式接觸掃描有权
简体标题：自动电容式接触扫描
公开(公告)号：TWI526901B
公开(公告)日：2016-03-21
申请号：TW098136201
申请日：2009-10-26
申请人：微晶片科技公司 , MICROCHIP TECHNOLOGY INCORPORATED
发明人：巴特林詹姆士E , BARTLING, JAMES E. , 托勒夫森傑森 , TOLLEFSON, JASON , 柏恩布魯斯 , BOHN, BRUCE
IPC分类号： G06F3/044
CPC分类号： G06F1/3215 , H03K17/9622 , H03K2217/960715

8. 发明专利

TWI485408B 用於量測電容之裝置有权
简体标题：用于量测电容之设备
公开(公告)号：TWI485408B
公开(公告)日：2015-05-21
申请号：TW102125273
申请日：2008-01-10
申请人：微晶片科技公司 , MICROCHIP TECHNOLOGY INCORPORATED
发明人：巴特林詹姆士E , BARTLING, JAMES E.
IPC分类号： G01R22/00
CPC分类号： G01R27/2605 , G01R29/023 , G01R31/2884 , G01R31/3167 , G01R31/31725 , G01R31/31727 , G04F10/04 , G04F10/105

9. 发明专利

TW201346566A 具閘控邏輯之輸入擷取週邊裝置审中-公开
简体标题：具闸控逻辑之输入截取周边设备
公开(公告)号：TW201346566A
公开(公告)日：2013-11-16
申请号：TW102104069
申请日：2013-02-01
申请人：微晶片科技公司 , MICROCHIP TECHNOLOGY INCORPORATED
发明人：柏林史堤芬 , BOWLING, STEPHEN , 巴特林詹姆士E , BARTLING, JAMES E.
IPC分类号： G06F13/10 , G06F1/26
CPC分类号： H03K5/00 , G04F10/005 , G04F10/105 , G06F1/02 , G06F3/00 , G06F13/24 , G06F15/00 , G06F17/50
摘要：本發明揭示一種微控制器，其具有一輸入擷取週邊裝置，其中該輸入擷取週邊裝置經組態以將一相關聯計時器之計時器值儲存於一記憶體中，且其中該輸入擷取週邊裝置具有一閘控輸入，該閘控輸入控制是否啟動一輸入擷取功能。
简体摘要：本发明揭示一种单片机，其具有一输入截取周边设备，其中该输入截取周边设备经组态以将一相关联计时器之计时器值存储于一内存中，且其中该输入截取周边设备具有一闸控输入，该闸控输入控制是否启动一输入截取功能。

10. 发明专利

TW201346277A 用於量測長時間週期之裝置及方法审中-公开
简体标题：用于量测长时间周期之设备及方法
公开(公告)号：TW201346277A
公开(公告)日：2013-11-16
申请号：TW102125272
申请日：2008-01-10
申请人：微晶片科技公司 , MICROCHIP TECHNOLOGY INCORPORATED
发明人：巴特林詹姆士E , BARTLING, JAMES E.
IPC分类号： G01R22/00
CPC分类号： G01R27/2605 , G01R29/023 , G01R31/2884 , G01R31/3167 , G01R31/31725 , G01R31/31727 , G04F10/04 , G04F10/105
摘要：藉由在一事件期間自一恆定電流源將一已知值電容器充電來判定該事件之一時間週期。該電容器上之所得電壓係與該事件時間週期成比例且可自該所得電壓及已知電容值予以計算。藉由在一已知時間週期期間自一恆定電流源將一電容器充電來量測電容。該電容器上之所得電壓係與其電容成比例且可自該所得電壓及已知時間週期予以計算。可藉由在事件開始時將一第一電容器充電及在事件終止時將一第二電容器充電同時計數其間之時脈時間來量測一長時間週期事件。藉由在一事件開始及終止時充電在第一電容器及第二電容器上之電壓同時比較其上之電壓與一參考電壓來完成該事件之延遲。
简体摘要：借由在一事件期间自一恒定电流源将一已知值电容器充电来判定该事件之一时间周期。该电容器上之所得电压系与该事件时间周期成比例且可自该所得电压及已知电容值予以计算。借由在一已知时间周期期间自一恒定电流源将一电容器充电来量测电容。该电容器上之所得电压系与其电容成比例且可自该所得电压及已知时间周期予以计算。可借由在事件开始时将一第一电容器充电及在事件终止时将一第二电容器充电同时计数其间之时脉时间来量测一长时间周期事件。借由在一事件开始及终止时充电在第一电容器及第二电容器上之电压同时比较其上之电压与一参考电压来完成该事件之延迟。

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