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1. 发明专利

TW201624419A 一種快速次像素絕對定位之方法审中-公开
简体标题：一种快速次像素绝对定位之方法
公开(公告)号：TW201624419A
公开(公告)日：2016-07-01
申请号：TW103144415
申请日：2014-12-19
申请人：國家中山科學研究院 , NATIONAL CHUNG-SHAN INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY
发明人：黃宜裕 , HWANG, YI YHU , 張偉國 , CHANG, WEI GUO , 黃欽德 , HWANG, CHIN DER , 劉光新 , LIU, GUANG SHEEN , 林文仁 , LIU, WEN JEN , 葛平亞 , KO, PING YA
IPC分类号： G06T7/60 , G01N21/95
摘要：一種快速次像素絕對定位之裝置及方法，步驟包括：(A)擷取一目標物表面之一即時光斑影像；(B)提供一組粗精度光斑座標影像及複數組細精度光斑座標影像，該粗精度光斑座標影像及該細精度光斑座標影像包含一座標值；(C)利用一演算法先比對該即時光斑影像與該粗精度光斑座標影像後再與該細精度光斑座標影像比對而得一座標值；其中每一張該粗精度光斑座標影像係對應一組細精度光斑座標影像，該細精度光斑座標影像係再擷取該粗精度光斑座標影像後，以一固定的細精度位移重覆取像而獲得。藉此，可完成快速比對、高精度的次像素定位。
简体摘要：一种快速次像素绝对定位之设备及方法，步骤包括：(A)截取一目标物表面之一实时光斑影像；(B)提供一组粗精度光斑座标影像及复数组细精度光斑座标影像，该粗精度光斑座标影像及该细精度光斑座标影像包含一座标值；(C)利用一算法先比对该实时光斑影像与该粗精度光斑座标影像后再与该细精度光斑座标影像比对而得一座标值；其中每一张该粗精度光斑座标影像系对应一组细精度光斑座标影像，该细精度光斑座标影像系再截取该粗精度光斑座标影像后，以一固定的细精度位移重复取像而获得。借此，可完成快速比对、高精度的次像素定位。

2. 发明专利

TWI532016B 一種快速次像素絕對定位之方法有权
简体标题：一种快速次像素绝对定位之方法
公开(公告)号：TWI532016B
公开(公告)日：2016-05-01
申请号：TW103144415
申请日：2014-12-19
申请人：國家中山科學研究院 , NATIONAL CHUNG-SHAN INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY
发明人：黃宜裕 , HWANG, YI YHU , 張偉國 , CHANG, WEI GUO , 黃欽德 , HWANG, CHIN DER , 劉光新 , LIU, GUANG SHEEN , 林文仁 , LIU, WEN JEN , 葛平亞 , KO, PING YA
IPC分类号： G06T7/60 , G01N21/95

3. 发明专利

TWI509224B 角度精確定位裝置有权
简体标题：角度精确定位设备
公开(公告)号：TWI509224B
公开(公告)日：2015-11-21
申请号：TW102143214
申请日：2013-11-27
申请人：國家中山科學研究院 , NATIONAL CHUNG SHAN INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY
发明人：黃宜裕 , HWANG, YI YHU , 劉光新 , LIU, GUANG SHEEN , 黃欽德 , HWANG, CHIN DER , 張偉國 , CHANG, WEI GUO , 廖志明 , LIAO, CHIH MING
IPC分类号： G01D5/26

4. 发明专利

TW201520520A 角度精確定位裝置审中-公开
简体标题：角度精确定位设备
公开(公告)号：TW201520520A
公开(公告)日：2015-06-01
申请号：TW102143214
申请日：2013-11-27
申请人：國家中山科學研究院 , NATIONAL CHUNG SHAN INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY
发明人：黃宜裕 , HWANG, YI YHU , 劉光新 , LIU, GUANG SHEEN , 黃欽德 , HWANG, CHIN DER , 張偉國 , CHANG, WEI GUO , 廖志明 , LIAO, CHIH MING
IPC分类号： G01D5/26
摘要：本發明係關於一種角度精確定位裝置，其中，該角度精確定位裝置係由價格相對便宜的旋轉圓盤單元、不變形光斑擷取單元、識別角度定位單元、以及角度校正單元便構成了符合高精度角度感測器需求之一個角度精確定位裝置，係相當具有產業競爭力。技術上，係使用不變形光斑擷取單元於轉動的旋轉圓盤單元的表面上取得N個不變形光斑雷射影像，並藉由該角度校正單元與該識別角度定位單元定義並記錄N個座標光斑影像與N個主變化角；之後，當於資料庫之中找到了與即時不變形光斑影像之間存在著最大重疊面積的第i個座標光斑影像之後，便可透過即時不變形光斑影像的副變化角、第i個座標光斑影像的主變化角以及即時不變形光斑影像與該第i個座標光斑影像之間的像平面位移量等參數計算出該即時不變形光斑影像的一待測角度，完成了精確的角度定位。
简体摘要：本发明系关于一种角度精确定位设备，其中，该角度精确定位设备系由价格相对便宜的旋转圆盘单元、不变形光斑截取单元、识别角度定位单元、以及角度校正单元便构成了符合高精度角度传感器需求之一个角度精确定位设备，系相当具有产业竞争力。技术上，系使用不变形光斑截取单元于转动的旋转圆盘单元的表面上取得N个不变形光斑激光影像，并借由该角度校正单元与该识别角度定位单元定义并记录N个座标光斑影像与N个主变化角；之后，当于数据库之中找到了与实时不变形光斑影像之间存在着最大重叠面积的第i个座标光斑影像之后，便可透过实时不变形光斑影像的副变化角、第i个座标光斑影像的主变化角以及实时不变形光斑影像与该第i个座标光斑影像之间的像平面位移量等参数计算出该实时不变形光斑影像的一待测角度，完成了精确的角度定位。

5. 发明专利

JP2016122283A 迅速なサブピクセル絶対位置決めの装置及び方法有权
标题翻译：用于快速子像素绝对定位的装置和方法
公开(公告)号：JP2016122283A
公开(公告)日：2016-07-07
申请号：JP2014261054
申请日：2014-12-24
申请人：國家中山科學研究院
发明人：黄宜裕 , 張偉國 , 黄欽徳 , 劉光新 , 林文仁 , 葛平亞
IPC分类号： G01B11/00 , G06T1/00
摘要：【課題】迅速なサブピクセル絶対位置決めの装置及び方法を提供することを課題とする。【解決手段】迅速なサブピクセル絶対位置決めの装置及び方法であって、対象物表面のリアルタイムなスペックルパターンを取り込むステップ(A)と、座標値を含む一組の粗い精度のスペックル座標パターン及び座標値を含む複数組の細かい精度のスペックル座標パターンを提供するステップ(B)と、アルゴリズムを利用してまず該リアルタイムなスペックルパターンと該粗い精度のスペックル座標パターンをマッチングしてから該細かい精度のスペックル座標パターンとマッチングして座標値を得るステップ(C)とを含む。各該粗い精度のスペックル座標パターンは、一組の細かい精度のスペックル座標パターンに対応し、該細かい精度のスペックル座標パターンが更に該粗い精度のスペックル座標パターンを取り込んだ後、一定の細かい精度移動距離で繰り返して撮像して獲得する。これを介して迅速なマッチング、高精度のサブピクセル位置決めを完成できる。【選択図】図6
摘要翻译：要解决的问题：提供用于快速子像素绝对定位的装置和方法。解决方案：快速子像素绝对定位的快速装置和方法包括：步骤（A），其中实时散斑图案捕获物体表面; 提供了包括包括坐标值和坐标值的一对粗精度斑点坐标图案的多对精细散斑坐标图案的步骤（B）; 以及步骤（C），其中首先匹配实时散斑图案和粗精度散斑坐标图案，然后通过将实时散斑图案与精细的散斑坐标图形进行匹配来获得坐标值。每个粗略准确的斑点坐标图案对应于一对精细的散斑坐标图案。精细的斑点坐标图案进一步捕获粗糙的散斑坐标图案，然后通过以恒定的精确精确的移动距离重复成像粗糙的散斑坐标图案来获取精细的散斑坐标图案。这样，可以完成快速匹配和高精度的子像素定位。选择图：图6

6. 发明专利

JP6041855B2 サブピクセル絶対位置決め方法有权
标题翻译：绝对定位方法的子像素
公开(公告)号：JP6041855B2
公开(公告)日：2016-12-14
申请号：JP2014261054
申请日：2014-12-24
申请人：國家中山科學研究院
发明人：黄宜裕 , 張偉國 , 黄欽徳 , 劉光新 , 林文仁 , 葛平亞
IPC分类号： G01B11/00 , G06T1/00

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