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1. 发明专利

TWI646305B 光斑影像三維位移量測方法及其應用有权
简体标题：光斑影像三维位移量测方法及其应用
公开(公告)号：TWI646305B
公开(公告)日：2019-01-01
申请号：TW106145600
申请日：2017-12-26
申请人：國家中山科學研究院 , NATIONAL CHUNG-SHAN INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY
发明人：黃宜裕 , HWANG, YI YUH , 張偉國 , CHANG, WEI KUO , 劉立中 , LIU, LI CHUNG
IPC分类号： G01B9/00 , G01B11/00

2. 发明专利

TWI532016B 一種快速次像素絕對定位之方法有权
简体标题：一种快速次像素绝对定位之方法
公开(公告)号：TWI532016B
公开(公告)日：2016-05-01
申请号：TW103144415
申请日：2014-12-19
申请人：國家中山科學研究院 , NATIONAL CHUNG-SHAN INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY
发明人：黃宜裕 , HWANG, YI YHU , 張偉國 , CHANG, WEI GUO , 黃欽德 , HWANG, CHIN DER , 劉光新 , LIU, GUANG SHEEN , 林文仁 , LIU, WEN JEN , 葛平亞 , KO, PING YA
IPC分类号： G06T7/60 , G01N21/95

3. 发明专利

TWI633522B 一種工具機之量測校正補償系統及方法有权
简体标题：一种工具机之量测校正补偿系统及方法
公开(公告)号：TWI633522B
公开(公告)日：2018-08-21
申请号：TW106118182
申请日：2017-06-02
申请人：國家中山科學研究院 , NATIONAL CHUNG-SHAN INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY
发明人：黃宜裕 , HWANG, YI YUH , 張偉國 , CHANG, WEI KUO , 劉立中 , LIU, LI CHUNG
IPC分类号： G06T7/60 , B23Q17/24

4. 发明专利

TW201723434A 一種高精度編碼器精度校正之方法审中-公开
简体标题：一种高精度编码器精度校正之方法
公开(公告)号：TW201723434A
公开(公告)日：2017-07-01
申请号：TW104142651
申请日：2015-12-18
申请人：國家中山科學研究院 , NATIONAL CHUNG-SHAN INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY
发明人：黃宜裕 , HWANG, YI YUH , 張偉國 , CHANG, WEI KUO
IPC分类号： G01D18/00 , G01D5/347
摘要：一種高精度編碼器精度校正之方法，步驟包括：(A)利用一不變形光斑取像裝置對旋轉一圈每次以一校正角度旋轉的一圓盤狀編碼器，擷取複數不變形光斑影像，該不變形光斑取像裝置包含一二維影像感測器，該二維影像感測器的座標軸與該圓盤狀編碼器的座標軸夾一α角；(B)比較旋轉一圈第一張光斑影像及最後一張光斑影像之相對位移向量，得到一個對心誤差位移量，若該對心誤差位移量大於該不變形光斑取像裝置之一定位精度，進行步驟(C)；取得該圓盤狀編碼器的平均旋轉半徑；利用SIFT(Scale Invariant FeatureTransform)或SURF(Speed Up Robust Feature)比對方法，比較相鄰兩張光斑影像獲得之間位移向量，利用該圓盤狀編碼器的平均旋轉半徑及位移向量來標定該圓盤狀編碼器的座標向量，再由相鄰兩個座標向量之內積，精準獲得每個光斑影像之定位角度；其中，在使用該不變形光斑取像裝置感測該圓盤狀編碼器而得的位移向量，皆利用一α轉動矩陣演算法將該位移向量作轉換。藉此，可消除光斑暗區及圓盤對心誤差，以完成高精度編碼器的高精度校正。
简体摘要：一种高精度编码器精度校正之方法，步骤包括：(A)利用一不变形光斑取像设备对旋转一圈每次以一校正角度旋转的一圆盘状编码器，截取复数不变形光斑影像，该不变形光斑取像设备包含一二维影像传感器，该二维影像传感器的座标轴与该圆盘状编码器的座标轴夹一α角；(B)比较旋转一圈第一张光斑影像及最后一张光斑影像之相对位移矢量，得到一个对心误差位移量，若该对心误差位移量大于该不变形光斑取像设备之一定位精度，进行步骤(C)；取得该圆盘状编码器的平均旋转半径；利用SIFT(Scale Invariant FeatureTransform)或SURF(Speed Up Robust Feature)比对方法，比较相邻两张光斑影像获得之间位移矢量，利用该圆盘状编码器的平均旋转半径及位移矢量来标定该圆盘状编码器的座标矢量，再由相邻两个座标矢量之内积，精准获得每个光斑影像之定位角度；其中，在使用该不变形光斑取像设备传感该圆盘状编码器而得的位移矢量，皆利用一α转动矩阵算法将该位移矢量作转换。借此，可消除光斑暗区及圆盘对心误差，以完成高精度编码器的高精度校正。

5. 发明专利

TWI448855B 雷射光斑絕對定位驅動裝置、驅動系統及其方法有权
简体标题：激光光斑绝对定位驱动设备、驱动系统及其方法
公开(公告)号：TWI448855B
公开(公告)日：2014-08-11
申请号：TW101108967
申请日：2012-03-15
申请人：國家中山科學研究院 , NATIONAL CHUNG-SHAN INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY
发明人：黃宜裕 , HWANG, YI YUH , 黃欽德 , HWANG, CHIN DER , 廖志明 , LIAO, CHIH MING , 江廷尉 , CHIANG, TING WEI , 張偉國 , CHANG, EI GUO , 黃文政 , HUANG, WEN CHENG
IPC分类号： G05B19/402

6. 发明专利

TW201822941A 一種熱漂移精密量測校正及補償之裝置审中-公开
简体标题：一种热漂移精密量测校正及补偿之设备
公开(公告)号：TW201822941A
公开(公告)日：2018-07-01
申请号：TW105143329
申请日：2016-12-27
申请人：國家中山科學研究院 , NATIONAL CHUNG-SHAN INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY
发明人：黃宜裕 , HWANG, YI YUH , 張偉國 , CHANG, WEI KUO , 劉立中 , LIU, LI CHUNG
IPC分类号： B23Q11/00 , B23Q17/24
摘要：一種熱漂移精密量測校正及補償之裝置，包括：一三軸平移台，其包含一X軸平移台、一Y軸平移台及一Z軸平移台，該X軸平移台、Y軸平移台及Z軸平移台相互垂直設置；一定位基座單元，係用來提供定位座標，其包含一X軸定位基座、一Y-Z軸定位基座，該X軸定位基座、Y-Z軸定位基座相互垂直設置；一物件單元，設置於該X軸平移台上，係用來固定物件，其包含有二個光斑影像讀取頭；一加工單元，設置於該Z軸平移台上，係用來加工物件，其包含有二個光斑影像讀取頭。藉此，上述裝置具有熱漂移精密量測校正及補償的功能，可避免因熱膨脹效應影響高精密加工裝置的加工精密度。
简体摘要：一种热漂移精密量测校正及补偿之设备，包括：一三轴平移台，其包含一X轴平移台、一Y轴平移台及一Z轴平移台，该X轴平移台、Y轴平移台及Z轴平移台相互垂直设置；一定位基座单元，系用来提供定位座标，其包含一X轴定位基座、一Y-Z轴定位基座，该X轴定位基座、Y-Z轴定位基座相互垂直设置；一对象单元，设置于该X轴平移台上，系用来固定对象，其包含有二个光斑影像读取头；一加工单元，设置于该Z轴平移台上，系用来加工对象，其包含有二个光斑影像读取头。借此，上述设备具有热漂移精密量测校正及补偿的功能，可避免因热膨胀效应影响高精密加工设备的加工精密度。

7. 发明专利

TWI577972B 一種高精度編碼器精度校正之方法有权
简体标题：一种高精度编码器精度校正之方法
公开(公告)号：TWI577972B
公开(公告)日：2017-04-11
申请号：TW104142651
申请日：2015-12-18
申请人：國家中山科學研究院 , NATIONAL CHUNG-SHAN INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY
发明人：黃宜裕 , HWANG, YI YUH , 張偉國 , CHANG, WEI KUO
IPC分类号： G01D18/00 , G01D5/347

8. 发明专利

TW201624419A 一種快速次像素絕對定位之方法审中-公开
简体标题：一种快速次像素绝对定位之方法
公开(公告)号：TW201624419A
公开(公告)日：2016-07-01
申请号：TW103144415
申请日：2014-12-19
申请人：國家中山科學研究院 , NATIONAL CHUNG-SHAN INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY
发明人：黃宜裕 , HWANG, YI YHU , 張偉國 , CHANG, WEI GUO , 黃欽德 , HWANG, CHIN DER , 劉光新 , LIU, GUANG SHEEN , 林文仁 , LIU, WEN JEN , 葛平亞 , KO, PING YA
IPC分类号： G06T7/60 , G01N21/95
摘要：一種快速次像素絕對定位之裝置及方法，步驟包括：(A)擷取一目標物表面之一即時光斑影像；(B)提供一組粗精度光斑座標影像及複數組細精度光斑座標影像，該粗精度光斑座標影像及該細精度光斑座標影像包含一座標值；(C)利用一演算法先比對該即時光斑影像與該粗精度光斑座標影像後再與該細精度光斑座標影像比對而得一座標值；其中每一張該粗精度光斑座標影像係對應一組細精度光斑座標影像，該細精度光斑座標影像係再擷取該粗精度光斑座標影像後，以一固定的細精度位移重覆取像而獲得。藉此，可完成快速比對、高精度的次像素定位。
简体摘要：一种快速次像素绝对定位之设备及方法，步骤包括：(A)截取一目标物表面之一实时光斑影像；(B)提供一组粗精度光斑座标影像及复数组细精度光斑座标影像，该粗精度光斑座标影像及该细精度光斑座标影像包含一座标值；(C)利用一算法先比对该实时光斑影像与该粗精度光斑座标影像后再与该细精度光斑座标影像比对而得一座标值；其中每一张该粗精度光斑座标影像系对应一组细精度光斑座标影像，该细精度光斑座标影像系再截取该粗精度光斑座标影像后，以一固定的细精度位移重复取像而获得。借此，可完成快速比对、高精度的次像素定位。

9. 发明专利

TWI676920B 光斑影像精密比對定位方法有权
简体标题：光斑影像精密比对定位方法
公开(公告)号：TWI676920B
公开(公告)日：2019-11-11
申请号：TW107142009
申请日：2018-11-22
申请人：國家中山科學研究院 , NATIONAL CHUNG-SHAN INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY
发明人：黃宜裕 , HWANG, YI YUH , 張偉國 , CHANG, WEI KUO , 劉立中 , LIU, LI CHUNG
IPC分类号： G06F3/0354 , G06F17/10

10. 发明专利

TW201903717A 一種工具機之量測校正補償系統及方法审中-公开
简体标题：一种工具机之量测校正补偿系统及方法
公开(公告)号：TW201903717A
公开(公告)日：2019-01-16
申请号：TW106118182
申请日：2017-06-02
申请人：國家中山科學研究院 , NATIONAL CHUNG-SHAN INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY
发明人：黃宜裕 , HWANG, YI YUH , 張偉國 , CHANG, WEI KUO , 劉立中 , LIU, LI CHUNG
IPC分类号： G06T7/60 , B23Q17/24
摘要：一種工具機之量測校正補償系統，包含第一定位基座；二第一光斑影像感測器，在工具機加工前及加工時感測工件固定單元在第一定位基座的第一XY平面及第一XZ平面之光斑位置以校正補償工件固定單元的位置；第二定位基座；二第二光斑影像感測器，在工具機加工前及加工時感測刀具固定單元在第二定位基座的第二XY平面及第二YZ平面之光斑位置以校正補償刀具固定單元的位置。藉此，可以較簡化、成本低、熱變形校正精度佳的方式直接精確量得工具機各軸之熱膨脹量，以即時校正工具機各軸之絕對定位座標，讓多軸同動定位精度不會因工具機的熱膨脹而降低。
简体摘要：一种工具机之量测校正补偿系统，包含第一定位基座；二第一光斑影像传感器，在工具机加工前及加工时传感工件固定单元在第一定位基座的第一XY平面及第一XZ平面之光斑位置以校正补偿工件固定单元的位置；第二定位基座；二第二光斑影像传感器，在工具机加工前及加工时传感刀具固定单元在第二定位基座的第二XY平面及第二YZ平面之光斑位置以校正补偿刀具固定单元的位置。借此，可以较简化、成本低、热变形校正精度佳的方式直接精确量得工具机各轴之热膨胀量，以实时校正工具机各轴之绝对定位座标，让多轴同动定位精度不会因工具机的热膨胀而降低。

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