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1. 发明专利

TWI442603B 發光二極體封裝晶片分類系統有权
简体标题：发光二极管封装芯片分类系统
公开(公告)号：TWI442603B
公开(公告)日：2014-06-21
申请号：TW100116170
申请日：2011-05-09
申请人：久元電子股份有限公司 , YOUNGTEK ELECTRONICS CORPORATION
发明人：汪秉龍 , WANG, BILY , 陳桂標 , CHEN, KUEI PAO , 陳信呈 , CHEN, HSIN CHENG
IPC分类号： H01L33/48
CPC分类号： G01R31/01 , G01R31/2635

2. 发明专利

TWI412763B 發光元件檢測與分類裝置有权
简体标题：发光组件检测与分类设备
公开(公告)号：TWI412763B
公开(公告)日：2013-10-21
申请号：TW100114670
申请日：2011-04-27
申请人：久元電子股份有限公司 , YOUNGTEK ELECTRONICS CORPORATION
发明人：汪秉龍 , WANG, BILY , 陳桂標 , CHEN, KUEI PAO , 陳信呈 , CHEN, HSIN CHENG
IPC分类号： G01R31/26 , G01N21/95

3. 发明专利

TWI421488B 用於檢測多個電子元件外觀的多軌式檢測系統有权
简体标题：用于检测多个电子组件外观的多轨式检测系统
公开(公告)号：TWI421488B
公开(公告)日：2014-01-01
申请号：TW100110563
申请日：2011-03-28
申请人：久元電子股份有限公司 , YOUNGTEK ELECTRONICS CORPORATION
发明人：汪秉龍 , WANG, BILY , 陳桂標 , CHEN, KUEI PAO , 陳信呈 , CHEN, HSIN CHENG , 倪仁君 , NI, REN CHUN
IPC分类号： G01N21/88 , G01R31/00
CPC分类号： H01L21/67271 , G01R31/2893

4. 发明专利

TWI418811B 封裝晶片檢測與分類裝置有权
简体标题：封装芯片检测与分类设备
公开(公告)号：TWI418811B
公开(公告)日：2013-12-11
申请号：TW100104785
申请日：2011-02-14
申请人：久元電子股份有限公司 , YOUNGTEK ELECTRONICS CORPORATION
发明人：汪秉龍 , WANG, BILY , 陳桂標 , CHEN, KUEI PAO , 陳信呈 , CHEN, HSIN CHENG
IPC分类号： G01R31/01 , G01R31/26
CPC分类号： B07C5/00 , B07C5/344 , G01R31/01 , G01R31/2893

5. 发明专利

TW201525476A 基板檢測系統审中-公开
简体标题：基板检测系统
公开(公告)号：TW201525476A
公开(公告)日：2015-07-01
申请号：TW102148803
申请日：2013-12-27
申请人：久元電子股份有限公司 , YOUNGTEK ELECTRONICS CORPORATION
发明人：汪秉龍 , WANG, BILY , 陳桂標 , CHEN, KUEI PAO , 陳信呈 , CHEN, HSIN CHENG , 彭及盈 , PENG, CHI YING , 鄭明志 , CHENG, MING CHIH
IPC分类号： G01R31/02 , G01R31/28
摘要：一種基板檢測系統，其包含：一置料裝置、一載運裝置、一第一基板吸附載台及一第一檢測裝置。置料裝置用以置放至少一基板。載運裝置用以載運置放於置料裝置的基板。第一基板吸附載台可活動地設置於一第一導軌上，用以吸附載運裝置所置放的基板。第一檢測裝置用以檢測置設於第一基板吸附載台的基板。藉以，可快速而有效地對基板進行檢測。
简体摘要：一种基板检测系统，其包含：一置料设备、一载运设备、一第一基板吸附载台及一第一检测设备。置料设备用以置放至少一基板。载运设备用以载运置放于置料设备的基板。第一基板吸附载台可活动地设置于一第一导轨上，用以吸附载运设备所置放的基板。第一检测设备用以检测置设于第一基板吸附载台的基板。借以，可快速而有效地对基板进行检测。

6. 发明专利

TWI492320B 轉塔式檢測機台及其使用方法有权
简体标题：转塔式检测机台及其使用方法
公开(公告)号：TWI492320B
公开(公告)日：2015-07-11
申请号：TW102113058
申请日：2013-04-12
申请人：久元電子股份有限公司
发明人：汪秉龍 , WANG, BILY , 陳桂標 , CHEN, KUEI PAO , 陳信呈 , CHEN, HSIN CHENG , 楊政偉 , YANG, CHENG WEI , 黃劔麒 , HUANG, CHIEN CHI
IPC分类号： H01L21/66 , H01L21/67

7. 发明专利

TW201440154A 轉塔式檢測機台及其使用方法审中-公开
简体标题：转塔式检测机台及其使用方法
公开(公告)号：TW201440154A
公开(公告)日：2014-10-16
申请号：TW102113058
申请日：2013-04-12
申请人：久元電子股份有限公司
发明人：汪秉龍 , WANG, BILY , 陳桂標 , CHEN, KUEI PAO , 陳信呈 , CHEN, HSIN CHENG , 楊政偉 , YANG, CHENG WEI , 黃劔麒 , HUANG, CHIEN CHI
IPC分类号： H01L21/66 , H01L21/67
摘要：一種轉塔式檢測機台，其包括：轉塔模組、進料模組、第一外觀檢測模組、180度轉向模組、電性測試模組、第二外觀檢測模組及出料模組。轉塔模組包括一可旋轉式機構及多個可升降式吸嘴機構。進料模組上具有多個電子元件，且電子元件通過進料模組以傳送至可升降式吸嘴機構的下方，以供可升降式吸嘴機構來進行吸取。第一外觀檢測模組用於檢查每一個電子元件的第一預定外觀。180度轉向模組用於將電子元件水平地旋轉180度。電性測試模組用於檢測每一個電子元件的電氣性能。第二外觀檢測模組用於檢查每一個電子元件的第二預定外觀。出料模組用於將每一個電子元件傳送至一收納料帶內。
简体摘要：一种转塔式检测机台，其包括：转塔模块、进料模块、第一外观检测模块、180度转向模块、电性测试模块、第二外观检测模块及出料模块。转塔模块包括一可旋转式机构及多个可升降式吸嘴机构。进料模块上具有多个电子组件，且电子组件通过进料模块以发送至可升降式吸嘴机构的下方，以供可升降式吸嘴机构来进行吸取。第一外观检测模块用于检查每一个电子组件的第一预定外观。180度转向模块用于将电子组件水平地旋转180度。电性测试模块用于检测每一个电子组件的电气性能。第二外观检测模块用于检查每一个电子组件的第二预定外观。出料模块用于将每一个电子组件发送至一收纳料带内。

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