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1. 发明申请

WO2021201393A1 픽커 마운트 장착상태확인 시스템 및 방법 审中-公开
公开(公告)号：WO2021201393A1
公开(公告)日：2021-10-07
申请号：PCT/KR2021/000596
申请日：2021-01-15
申请人： (주)인텍플러스
发明人： 주병권 , 곽영보 , 김목성 , 남재훈
IPC分类号： H01L21/67 , H01L21/52 , H01L21/683
摘要： 본 발명은 픽커 마운트 장착상태확인 시스템 및 방법에 관한 것이다. 바코드들은 픽커 마운트들의 각 종류 식별을 위한 정보를 포함하여 해당 픽커 마운트들에 형성된다. 바코드 리더기는 픽커들에 장착된 상태로 픽커들의 배열 방향을 따라 이동하는 픽커 마운트들의 각 바코드를 순차적으로 읽도록 가변형 픽커 모듈의 일측에 배치된다. 시스템 제어기는 바코드 리더기로부터 제공된 정보를 기반으로 해당 픽커 마운트들의 각 위치와 종류를 식별한 후 확인 기준과 비교하여 픽커 마운트들의 오장착과 미장착을 확인한다.

2. 发明申请

WO2021201396A1 픽커 장치 审中-公开
公开(公告)号：WO2021201396A1
公开(公告)日：2021-10-07
申请号：PCT/KR2021/000706
申请日：2021-01-19
申请人： (주)인텍플러스
发明人： 주병권 , 김윤수 , 곽영보 , 안주훈 , 손우람
IPC分类号： G01R31/28 , H01L21/683 , H01L21/677 , H01L21/687 , H01L21/66
摘要： 본 발명은 픽커 장치에 관한 것이다. 픽커들은 픽커 지지대에 일렬로 배열되는 것으로, 하단에 진공압이 가해지거나 해제되는 메인 노즐과, 픽커 지지대에 지지되어 메인 노즐을 승강 동작시키는 승강 구동기를 각각 구비한다. 서브 노즐 도킹모듈은 메인 노즐들과 도킹 또는 언도킹되는 것으로, 하단에 진공압이 가해지거나 해제됨에 따라 이송 대상물을 흡착 또는 탈착하는 적어도 하나 이상의 서브 노즐과, 하단에 서브 노즐을 지지해서 메인 노즐들과 도킹된 상태로 메인 노즐들로부터 진공압을 제공받아 진공 통로에 의해 서브 노즐로 전달하는 도킹 마운트, 및 도킹 마운트를 픽커 지지대에 대해 착탈하는 착탈 기구를 구비한다.

3. 发明授权

KR100705657B1 반도체 패키지 분류 방법 有权
标题翻译：半导体封装分类方法
公开(公告)号：KR100705657B1
公开(公告)日：2007-04-09
申请号：KR1020050098860
申请日：2005-10-19
申请人： (주) 인텍플러스
发明人： 송경수 , 곽영보 , 강민구 , 이상윤 , 임쌍근
IPC分类号： H01L21/66
摘要： 본 발명은 불량품 반도체 패키지에 대한 재검사 시간을 단축할 수 있는 반도체 패키지의 분류 방법에 관한 것이다.
이를 위하여, 본 발명은 반도체 패키지에 대한 비전 검사하고 검사 결과에 따라 불량품을 분류하는 반도체 패키지의 분류 방법에 있어서, 검사 영역의 포켓 내에 수납된 반도체 패키지들을 비전 검사하는 단계(S10)와; 상기 비전 검사 결과 검사 영역 내에 불량품 반도체 패키지가 존재하는지 여부를 판단하는 단계(S20)와; 상기 불량품 존재 여부 판단 결과 불량품이 존재할 경우 불량품 반도체 패키지가 수납된 위치로 비전 카메라를 이동시켜 해당 반도체 패키지의 비전 검사를 재 실시하는 단계(S30)와; 상기 비전 검사 재실시 결과에 따라 불량 여부를 판단하는 단계(S40)와; 상기 비전 검사 재실시 결과 불량일 경우 해당 반도체 패키지를 불량품으로 분류 배출하는 단계(S50)와; 상기 S20~S50 단계를 반복 진행한 후 불량품이 해당 검사 영역에 대한 분류가 완료되면 다음 검사 영역에 대한 비전 검사를 실시하는 단계(S70)를 포함한다.
재검사, 불량품, 포켓
摘要翻译：本发明涉及一种能够缩短缺陷半导体封装的重新测试时间的半导体封装分类方法。

4. 发明公开

KR1020110017158A 광삼각법을 이용한 측정장치 및 측정방법 无效
标题翻译：使用光学三角法的测量装置和方法
公开(公告)号：KR1020110017158A
公开(公告)日：2011-02-21
申请号：KR1020090074696
申请日：2009-08-13
申请人： (주) 인텍플러스
发明人： 권오석 , 곽영보 , 이상윤 , 임쌍근
IPC分类号： G01B11/24 , G02B3/00
摘要： PURPOSE: A measuring device and method using an optical triangulation technique are provided to simplify a structure since it is possible to produce parallel lights by the adding of a lens simply. CONSTITUTION: A measuring method using an optical triangulation technique is as follows. A slit light(3) is emitted from a slit unit(2) and is projected to a target(4). A reflected slit light is obtained from an image acquisition unit(5). The shape or the height of the target is measured through the processing by an image processing unit. The slit lights are projected to the target as parallel lights, which are produced using a lens. The lens is a tele-centric lens.
摘要翻译：目的：提供一种使用光学三角测量技术的测量装置和方法，以简化结构，因为可以通过简单地添加透镜来产生平行光。构成：使用光学三角测量技术的测量方法如下。从狭缝单元（2）射出狭缝光（3）并投射到靶（4）上。从图像获取单元（5）获得反射的狭缝光。通过图像处理单元的处理来测量目标的形状或高度。狭缝光以平行光投射到目标，这是使用透镜产生的。镜头是一个以心为中心的镜头。

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