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    • 2. 发明授权
    • Film type probe contactor and for manufacturing thereof
    • 电影式探头接触器及其制造方法
    • KR100974535B1
    • 2010-08-10
    • KR20100025796
    • 2010-03-23
    • UBPREC CO LTD
    • KIM YOUNG HOKIM KYOUNG HOJUNG HEE JINKIM JI EUNLEE SANG YONG
    • G01R1/073G01R3/00H01R33/76
    • PURPOSE: A film type probe conductor and a method for manufacturing the same are provided to be capable of testing highly dense-integrated circuits by preventing the generation of deformation due to a contact and external force. CONSTITUTION: A first tin layer(113b) plated-input pad is arranged on the upper side of a first copper layer(113a) of a base film(111) in order to from an input end(113). An output end(115) is connected with the input end through a copper pattern(114). A second tin layer(115b) plated-output pad is arranged on the upper side of the second copper layer(115a) in order to form the output end. A drive integrated-circuit(117) is mounted between the input end and the output end.
    • 目的:提供一种薄膜型探针导体及其制造方法,其能够通过防止由于接触和外力产生变形而能够测试高致密集成电路。 构成:为了从输入端(113)向基膜(111)的第一铜层(113a)的上侧配置第一锡层(113b)电镀输入焊盘。 输出端(115)通过铜图案(114)与输入端连接。 为了形成输出端,在第二铜层(115a)的上侧设置有第二锡层(115b)电镀输出垫。 驱动集成电路(117)安装在输入端和输出端之间。