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    • 1. 发明专利
    • Radiation inspection device
    • 辐射检查装置
    • JP2005156252A
    • 2005-06-16
    • JP2003392738
    • 2003-11-21
    • Keizo IshiiSumitomo Heavy Ind Ltd住友重機械工業株式会社慶造 石井
    • ISHII KEIZO
    • G01T1/161G01T1/24
    • PROBLEM TO BE SOLVED: To achieve spacial resolution of ≤1 mm with respect to a radiation inspection device equipped with semiconductor detectors.
      SOLUTION: This radiation inspection device 10 detects and simultaneously counts gamma rays from a radioactive isotope in a body S under inspection to obtain distribution information on the radioactive isotope in the body S. The device 10 is equipped with a pair of semiconductor detectors 14 opposite disposed at a prescribed gap with the body S between. Respective opposed surfaces 20 of the pair of semiconductor detectors 14 are defined by lengths T1 and T2 in first and second directions orthogonal to each other, and the length T1 in the first direction is 2 mm or less.
      COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI
    • 要解决的问题:相对于配备有半导体检测器的辐射检查装置,实现≤1mm的空间分辨率。 解决方案:该放射线检测装置10检测并同时对检查中的身体S中的放射性同位素的伽马射线进行计数,以获得关于体内S的放射性同位素的分布信息。装置10配备有一对半导体检测器 14相对设置在与主体S之间的规定间隙处。 一对半导体检测器14中的相对的相对表面20由彼此正交的第一和第二方向上的长度T1和T2限定,并且第一方向上的长度T1是2mm或更小。 版权所有(C)2005,JPO&NCIPI