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    • 2. 发明授权
    • Integrated management of semiconductor process data
    • 半导体工艺数据的综合管理
    • US06240331B1
    • 2001-05-29
    • US09135652
    • 1998-08-18
    • Jong-hyun Yun
    • Jong-hyun Yun
    • G06F1900
    • H01L21/67276G05B19/41845G05B2219/31427Y02P90/10Y02P90/16
    • A method for integrated management of semiconductor process data. The method is capable of easily accessing data generated in one semiconductor fabrication line, and commonly sharing and easily accessing data generated in a plurality of semiconductor fabrication lines. An integrated management system (IMS) is installed in every semiconductor fabrication lines and allows integrated management of the semiconductor process data. Each IMS is in communication with every other IMS and includes a plurality of data sets and corresponding data set modules. Then a user interface computer logs into a contacted IMS. A work environment, including a contacted data set module, is updated at the user interface computer using information from the contacted IMS. A task is then carried out at the user interface computer according to the updated work environment.
    • 一种半导体工艺数据综合管理的方法。 该方法能够容易地访问在一个半导体制造线中生成的数据,并且通常共享并容易地访问在多个半导体制造线中生成的数据。 在每个半导体制造线路中安装了集成管理系统(IMS),并允许对半导体工艺数据进行集成管理。 每个IMS与每个其他IMS通信,并且包括多个数据集和对应的数据集模块。 然后,用户界面计算机登录到联系的IMS。 使用来自所接触的IMS的信息在用户界面计算机上更新包括联系的数据集模块的工作环境。 然后根据更新的工作环境在用户界面计算机上执行任务。