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    • 9. 发明申请
    • DEFECT MANAGEMENT FOR A SEMICONDUCTOR MEMORY SYSTEM
    • 半导体存储系统的缺陷管理
    • US20080270675A1
    • 2008-10-30
    • US11740052
    • 2007-04-25
    • Dheemanth NagarajLarry J. Thayer
    • Dheemanth NagarajLarry J. Thayer
    • G06F12/00
    • G06F12/0246
    • A method is provided for managing defects in a semiconductor memory system having a plurality of addressable locations. In the method, a first plurality of the addressable locations is allocated as in-use locations, and a second plurality of the addressable locations is allocated as spare locations. A plurality of sets of the in-use locations, wherein each of the sets is associated with a memory defect, is determined. At least one of the sets includes a different number of in-use locations than another of the sets. Each of the sets of the in-use locations is associated with at least one corresponding set of the spare locations. Each of a plurality of data requests that is associated with one of the sets of the in-use locations is directed to the at least one corresponding set of the spare locations.
    • 提供一种用于管理具有多个可寻址位置的半导体存储器系统中的缺陷的方法。 在该方法中,第一多个可寻址位置被分配为使用中的位置,并且第二多个可寻址位置被分配为备用位置。 确定其中每个组与存储器缺陷相关联的多组使用中的位置。 这些组中的至​​少一个包括不同数量的使用位置,而不是另外一组。 每个使用中的位置集合与至少一个对应的备用位置组相关联。 与正在使用的位置中的一组相关联的多个数据请求中的每一个被引导到至少一个对应的备用位置集合。