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    • 2. 发明申请
    • PROCEDE DE PROTECTION DE MEMOIRE CONFIGURABLE CONTRE LES ERREURS PERMANENTES ET TRANSITOIRES ET DISPOSITIF APPARENTE
    • 保护永久性和瞬态错误的可配置存储器的方法及相关设备
    • WO2011157568A1
    • 2011-12-22
    • PCT/EP2011/059134
    • 2011-06-01
    • COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE ET AUX ENERGIES ALTERNATIVESEVAIN, SamuelBONHOMME, YannickGHERMAN, Valentin
    • EVAIN, SamuelBONHOMME, YannickGHERMAN, Valentin
    • G06F11/10G11C29/00
    • G06F11/10G06F11/1012G11C29/846H03M13/19H03M13/356H03M13/616
    • L'invention a pour objet un procédé de protection de mémoire numérique contre les erreurs permanentes et transitoires et un dispositif apparenté. Les données numériques étant mémorisées dans au moins une zone de stockage (104), ladite zone correspondant à une matrice de mémorisation composée de cellules de mémoire organisées en un nombre donné de lignes et de colonnes, ledit procédé comporte : une étape d'encodage (101) générant des mots de code à partir des données organisées en mots binaires par application d'un code asymétrique introduisant au moins deux niveaux de protection différents, le premier niveau de protection dit élevé étant associé à un premier sous-groupe de bits du mot de code et un second niveau de protection dit bas étant associé à un deuxième sous-groupe du même mot; une étape d'échange de positions des bits du mot de code (102) faisant correspondre pour leur mémorisation les bits de niveau de protection élevé aux colonnes de la zone de stockage comportant des cellules de mémoire défectueuses et les bits de niveau de protection bas aux colonnes restantes. L'invention s'applique notamment aux domaines de l'électronique numérique et des technologies nanométriques. L'invention peut être utilisée, par exemple, dans des systèmes de mémorisation de données.
    • 本发明的主题是保护数字存储器免受永久和瞬时错误以及相关设备的一种方法。 数字数据存储在至少一个存储区域(104)中,所述区域对应于由组织为给定数量的行和列的存储器单元组成的存储矩阵,所述方法包括:编码步骤(101),从 通过应用引入至少两个不同级别的保护的不对称代码来组织为二进制字的数据,第一个所谓的高级保护与代码字的第一个子组的比特相关联,第二个所谓的低级保护 与相同单词的第二子组相关联; 交换代码字(102)的位的位置的步骤,用于将包含有缺陷存储器单元的存储区域的列和高级保护位的高位级保护的位存储到剩余的存储区域 列。 本发明特别适用于数字电子和纳米技术领域。 本发明可以用于例如数据存储系统。
    • 3. 发明申请
    • REGISTRE SCAN PARAMETRIQUE, CIRCUIT NUMERIQUE ET PROCEDE DE TEST D'UN CIRCUIT NUMERIQUE A L'AIDE D'UN TEL REGISTRE
    • 参数扫描寄存器,数字电路和使用这种寄存器测试数字电路的方法
    • WO2008040798A1
    • 2008-04-10
    • PCT/EP2007/060591
    • 2007-10-05
    • COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUEHERON, OlivierBONHOMME, Yannick
    • HERON, OlivierBONHOMME, Yannick
    • G01R31/3185G01R31/30
    • G01R31/3004G01R31/318541
    • La présente invention concerne un registre scan paramétrique. Elle concerne également un procédé de test d'un circuit numérique à l'aide d'un tel registre. Le registre scan paramétrique comporte une cellule mémoire (21) ayant au moins une entrée de donnée (d), apte à recevoir une donnée de test (e_scan), et transférant sur sa sortie (s) un signal représentatif (62) de la donnée d'entrée au moyen d'un signal de synchronisation (h). Il comporte en outre un bloc de test paramétrique (42) dont une entrée est reliée à la sortie (s) de la cellule (21), le signal de sortie (62) de la cellule étant transféré en sortie (s_reg) du bloc (42) à travers un module interne (61), ce module interne fonctionnant selon des modes aptes à modifier le signal de sortie (62) de la cellule. L'invention s'applique notamment pour le test de circuits intégrés à forte densité d'intégration, par exemple dans le domaine des nanotechnologies.
    • 本发明涉及一种参数扫描寄存器。 它还涉及一种使用这种寄存器测试数字电路的方法。 参数扫描寄存器包括具有能够接收测试数据(e_scan)的至少一个数据输入(d)并且使用定时信号向其出口传送表示输入数据的信号(62)的存储单元(21) (H)。 它还包括具有连接到单元(21)的输出的输入的参数测试块(42),该单元的输出信号(62)被传送到块(42)的输出(s_reg) 通过内部模块(61),所述内部模块根据能够修改小区的输出信号(62)的模式进行操作。 本发明对于测试具有高积分密度的集成电路,例如, 在纳米技术领域。
    • 4. 发明申请
    • PROCEDE ET DISPOSITIF DE CONTROLE DE LATENCE DE CIRCUITS ELECTRONIQUES
    • 用于控制电子电路延迟的方法和装置
    • WO2012028608A1
    • 2012-03-08
    • PCT/EP2011/064888
    • 2011-08-30
    • COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE ET AUX ENERGIES ALTERNATIVESGHERMAN, ValentinBONHOMME, Yannick
    • GHERMAN, ValentinBONHOMME, Yannick
    • G01R31/30G01R31/26
    • G01R31/2856G01R31/2642G01R31/2879G01R31/3016G01R31/31725
    • Dispositif de contrôle de la latence de circuits électroniques à base de microtechnologie et/ou nanotechnologie, lesdits circuits à tester (100) étant alimentés à l'aide d'une tension Vdd, ayant un niveau bas et un niveau haut, pour la détection de fautes de délai desdits circuits caractérisé en ce qu'il comporte en combinaison au moins les éléments suivants : au moins un dispositif de type I disposé entre le niveau haut 110 (Vdd) de la tension d'alimentation et les éléments du circuit (100) à tester, et/ou au moins un dispositif de type II disposé entre le niveau bas 120 (Vss) de la tension d'alimentation des éléments des éléments dudit circuit à tester (100), le dispositif de type I et le dispositif de type II comprenant au moins un chemin électrique de faible latence, (131,141), ledit chemin de faible latence étant connecté en parallèle avec un chemin électrique de grande latence (R), (132,142), un signal de test (134, 144) contrôlant l'ouverture des chemins de faible latence (131, 141) tandis que les chemins électriques de grande latence (132, 142) sont ouverts.
    • 本发明涉及一种用于控制基于微技术和/或纳米技术的电子电路的等待时间的装置,其中待测试的电路(100)被提供具有低电平或高电平的电压Vdd用于检测 所述电路中的延迟故障。 本发明的特征在于它至少组合以下元件:至少一个设置在电源电压的高电平110(Vdd)与要测试的电路(100)的元件之间的I型器件和/或 至少一个设置在电源电压的低电平120(Vss)和要测试的电路(100)的元件之间的II型装置,所述I型和II型装置包括至少一个低延迟电路径(131,141) 其与高延迟电路(R)(132,142)并联连接。 当高延迟电路径(132,142)打开时,测试信号(134,144)控制低延迟路径(131,141)的打开。
    • 5. 发明申请
    • METHOD OF PROTECTING A CONFIGURABLE MEMORY AGAINST PERMANENT AND TRANSIENT ERRORS AND RELATED DEVICE
    • 保护永久性和瞬态错误的可配置存储器的方法及相关设备
    • WO2011157568A8
    • 2013-01-24
    • PCT/EP2011059134
    • 2011-06-01
    • COMMISSARIAT ENERGIE ATOMIQUEEVAIN SAMUELBONHOMME YANNICKGHERMAN VALENTIN
    • EVAIN SAMUELBONHOMME YANNICKGHERMAN VALENTIN
    • G06F11/10G11C29/00
    • G06F11/10G06F11/1012G11C29/846H03M13/19H03M13/356H03M13/616
    • The subject of the invention is a method of protecting a digital memory against permanent and transient errors and a related device. The digital data being stored in at least one storage area (104), said area corresponding to a storage matrix composed of memory cells organized as a given number of rows and columns, said method comprises: an encoding step (101) generating code words from data organized as binary words by applying an asymmetric code introducing at least two different levels of protection, the first so-called high level of protection being associated with a first subgroup of bits of the code word and a second so-called low level of protection being associated with a second subgroup of the same word; a step of exchanging positions of the bits of the code word (102) mapping, for their storage, the bits of high level of protection to the columns of the storage area comprising defective memory cells and the bits of low level of protection to the remaining columns. The invention applies in particular to the fields of digital electronics and nanometric technologies. The invention may be used, for example, in data storage systems.
    • 本发明的主题是保护数字存储器免受永久和瞬时错误以及相关设备的一种方法。 数字数据存储在至少一个存储区域(104)中,所述区域对应于由组织为给定数量的行和列的存储器单元组成的存储矩阵,所述方法包括:编码步骤(101),从 通过应用引入至少两个不同级别的保护的不对称代码来组织为二进制字的数据,第一个所谓的高级保护与代码字的第一个子组的比特相关联,第二个所谓的低级保护 与相同单词的第二子组相关联; 交换代码字(102)的位的位置的步骤,用于将包含有缺陷存储器单元的存储区域的列和高级保护位的高位级保护的位存储到剩余的存储区域 列。 本发明特别适用于数字电子和纳米技术领域。 本发明可以用于例如数据存储系统。
    • 6. 发明申请
    • PROCEDE DE TEST EN LIGNE DES ETAGES DE PIPELINE TEMPORAIREMENT NON UTILISES ET SON DISPOSITIF ASSOCIE
    • 不使用临时管道的在线测试方法和相关设备
    • WO2012028490A1
    • 2012-03-08
    • PCT/EP2011/064428
    • 2011-08-23
    • COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE ET AUX ENERGIES ALTERNATIVESGHERMAN, ValentinBONHOMME, Yannick
    • GHERMAN, ValentinBONHOMME, Yannick
    • G06F11/22G01R31/3185G06F11/267
    • G06F11/0721G01R31/2642G01R31/2882G06F9/30021G06F2207/3884
    • Procédé de test en ligne de dispositifs de type pipeline, ledit dispositif de type pipeline comportant une succession d'étages (121, 122, 123) séparés par des buffers (111, 112, 113, 114, 115), chaque buffer (111, 112, 113, 114, 115) étant en liaison avec un signal idle, ou valide = not idle, et/ou au moins un bit de statut caractérisé en ce qu'il comporte en combinaison au moins les étapes suivantes : a) détecter les valeurs du signal idle et/ou des bit de statut correspondants traduisant la non utilisation d'un cycle ou l'interruption brusque du flot d'opérations dans un pipeline, et indiquant qu'une opération (O 3 ) exécutée par un étage du pipeline dite opération valide est suivie par un cycle non utilisé, b) maintenir l'état du buffer (111) afin de permettre la réexécution de ladite opération valide (O 3 ) pendant le cycle non utilisé indiqué par ledit signal idle, c) réexécuter pendant le cycle non utilisé l'opération valide (O 3 ) afin d'obtenir au moins une première version (O 3 ) et une deuxième version (O" 3 ) de ladite opération valide (O 3 ), d) mémoriser en sortie du pipeline les résultats qui correspondent à la première version (O' 3 ) de ladite opération (O 3 ) répliquée ou réexécutée afin de les comparer aux résultats de ladite deuxième version (O" 3 ) de la même opération (O 3 ) répliquée ou réexécutée, e) comparer les résultats obtenus en sortie du pipeline qui correspondent à la première version (O' 3 ) et à la deuxième version (O" 3 ) et s'il existe une différence indiquer la présence d'une erreur.
    • 本发明涉及一种用于管线型设备的在线测试的方法,包括由缓冲器(111,112,113,114,115)分隔的一系列级(121,122,123),每个缓冲器(111,112) ,113,114,115)链接到空闲信号,或有效=不空闲,和/或至少一个状态位。 本发明的特征在于,其至少组合以下步骤:a)检测空闲信号的值和/或表示不使用流水线中的操作流的循环或突然中断的对应状态位, 并且指示由流水线的一级执行的称为有效操作的操作(O3)由未使用的循环进行监视; b)保持缓冲器(111)的状态,以允许在由空闲信号指示的非使用周期期间重新执行有效操作(O3); c)在未使用的循环期间,为了获得有效操作(O3)的至少第一版本(O'3)和第二版本(O“3),重新执行有效操作(O3); d ),记录对应于所述复制或重新执行的操作(O3)的第一版本(O'3)的结果,以便将其与第二版本(O“3)的结果进行比较 复制或重新执行操作(O3); 以及e)比较在管道输出处获得的对应于第一版本(O'3)和第二版本(O“3)的结果,并且在差异的情况下指示出现错误。