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61. 发明专利

TW200609515A 探針卡之探針及其製法审中-公开
简体标题：探针卡之探针及其制法
公开(公告)号：TW200609515A
公开(公告)日：2006-03-16
申请号：TW094139474
申请日：2005-11-10
申请人：旺矽科技股份有限公司 MJC PROBE INCORPORATION
发明人：陳志忠 CHEN, CHIN CHUNG
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R3/00 , G01R1/06727 , G01R1/06744
摘要：一種探針卡之探針及其製法，可較為容易地控制各探針的尺寸精度與剛性，使各探針之強度、剛性與電性品質皆較佳；探針包含有一本體，本體具有一懸臂樑，至少一導電層疊設於懸臂樑之表面，導電層及懸臂樑之間具有一介電層；各導電層係先以電鑄方式堆疊於本體之懸臂樑上，再以研磨加工方式控制其設於懸臂樑之厚度。
简体摘要：一种探针卡之探针及其制法，可较为容易地控制各探针的尺寸精度与刚性，使各探针之强度、刚性与电性品质皆较佳；探针包含有一本体，本体具有一悬臂梁，至少一导电层叠设于悬臂梁之表面，导电层及悬臂梁之间具有一介电层；各导电层系先以电铸方式堆栈于本体之悬臂梁上，再以研磨加工方式控制其设于悬臂梁之厚度。

62. 发明专利

TW200532219A 用來測試印刷電路板之測試設備 TESTING FACILITY FOR TESTING PRINT CIRCUIT BOARD 失效
简体标题：用来测试印刷电路板之测试设备 TESTING FACILITY FOR TESTING PRINT CIRCUIT BOARD
公开(公告)号：TW200532219A
公开(公告)日：2005-10-01
申请号：TW093108789
申请日：2004-03-31
申请人：旺矽科技股份有限公司 MJC PROBE INCORPORATION
发明人：呂福進 LU, FU-CHIN
IPC分类号： G01R , H05K
摘要：一種用來測試印刷電路板(PCB)之測試設備10包含一探針卡分析儀20和一包含一待測之PCB板31、一轉接機構40、和數個接合元件41之PCB板測試機構30；其中該轉接機構40又包含一載板42以及一探針組44，此探針組44具有複數個探針441和用來固定該複數個探針441之轉接板442；當測試者欲針對待測物之PCB板31進行測試時，將轉接機構40與待測物PCB板31結構進行觸接，並搭配探針卡分析儀20各部零件之組合，透過探針卡分析儀20上之測試機台，即可執行如開路、短路、線路漏電、線路阻抗等各項測試檔案，而完成電氣特性之測試。
简体摘要：一种用来测试印刷电路板(PCB)之测试设备10包含一探针卡分析仪20和一包含一待测之PCB板31、一转接机构40、和数个接合组件41之PCB板测试机构30；其中该转接机构40又包含一载板42以及一探针组44，此探针组44具有复数个探针441和用来固定该复数个探针441之转接板442；当测试者欲针对待测物之PCB板31进行测试时，将转接机构40与待测物PCB板31结构进行触接，并搭配探针卡分析仪20各部零件之组合，透过探针卡分析仪20上之测试机台，即可运行如开路、短路、线路漏电、线路阻抗等各项测试文档，而完成电气特性之测试。

63. 发明专利

TW200528722A 多功能探針卡 MUTIFUNCTION PROBE CARD 审中-公开
简体标题：多功能探针卡 MUTIFUNCTION PROBE CARD
公开(公告)号：TW200528722A
公开(公告)日：2005-09-01
申请号：TW093104515
申请日：2004-02-24
申请人：旺矽科技股份有限公司 MJC PROBE INCORPORATION
发明人：孫宏川 SUN, HORNG CHUAN , 楊惠彬 YANG, HUI PIN
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/2886 , G01R31/2891
摘要：一種多功能探針卡包含一印刷電路板、複數個探針、一計數晶圓件數而獲取一「件數序列參數」之計數器、一用來量測通過該探針之電流、電壓等訊號以獲取電流、電壓等參數之電訊量測裝置、以及一參數處理系統；該參數處理系統包含一輸入／輸出單元、一處理單元、一時間提供單元、一即時顯示單元與一儲存單元；由該時間提供單元將每一待測物之一時間基準提供給該處理單元，而透過輸入／輸出單元，可將件數序列參數、電流、電壓等參數輸入至該處理單元中，且針對該等基準、及參數來建立一參數資料結構，來記錄、計算、並透過即時顯示單元來顯示出探針之使用過程與狀態。
简体摘要：一种多功能探针卡包含一印刷电路板、复数个探针、一计数晶圆件数而获取一“件数串行参数”之计数器、一用来量测通过该探针之电流、电压等信号以获取电流、电压等参数之电讯量测设备、以及一参数处理系统；该参数处理系统包含一输入／输出单元、一处理单元、一时间提供单元、一实时显示单元与一存储单元；由该时间提供单元将每一待测物之一时间基准提供给该处理单元，而透过输入／输出单元，可将件数串行参数、电流、电压等参数输入至该处理单元中，且针对该等基准、及参数来创建一参数数据结构，来记录、计算、并透过实时显示单元来显示出探针之使用过程与状态。

64. 发明专利

TWI506282B 探針卡有权
简体标题：探针卡
公开(公告)号：TWI506282B
公开(公告)日：2015-11-01
申请号：TW102128524
申请日：2013-08-08
申请人：旺矽科技股份有限公司 , MJC PROBE INCORPORATION
发明人：謝昭平 , HSIEH, CHAO PING , 鄭謹鋒 , CHENG, CHIN FENG , 周詠晃 , CHOU, YOUNG HUANG , 洪永晉 , HUNG, YUNG CHIN
IPC分类号： G01R1/073

65. 发明专利

TW200938846A 探針測試裝置审中-公开
简体标题：探针测试设备
公开(公告)号：TW200938846A
公开(公告)日：2009-09-16
申请号：TW097108934
申请日：2008-03-13
申请人：旺矽科技股份有限公司 MJC PROBE INCORPORATION
发明人：顧偉正 , 何志浩 , 孫宏川
IPC分类号： G01R , H01L
摘要：一種探針測試裝置,係以一支撐架於外環部位支撐一電路層,於近中心部位支撐一探針組,當測試機台自探針測試裝置之上方下壓點觸電路層時,即由支撐架之外環部位承受此下壓點觸之應力,當探針組所設置之探針對應點觸於晶圓上的電子元件時,即由支撐架之近中心部位承受來自晶圓之反作用力。
简体摘要：一种探针测试设备,系以一支撑架于外环部位支撑一电路层,于近中心部位支撑一探针组,当测试机台自探针测试设备之上方下压点触电路层时,即由支撑架之外环部位承受此下压点触之应力,当探针组所设置之探针对应点触于晶圆上的电子组件时,即由支撑架之近中心部位承受来自晶圆之反作用力。

66. 发明专利

TW200900346A 一體成形之微型拉伸式彈簧針失效
简体标题：一体成形之微型拉伸式弹簧针
公开(公告)号：TW200900346A
公开(公告)日：2009-01-01
申请号：TW096122768
申请日：2007-06-23
申请人：旺矽科技股份有限公司 MJC PROBE INCORPORATION
发明人：陳志忠 CHEN, CHIN CHUNG , 林燊一
IPC分类号： B81B , G01R
摘要：本發明係一種本發明一體成形之微型拉伸式彈簧針,其包含一本體以及可對該本體之軸向相對運動之探針,其中,該探針與該本體之一端以一彈簧結構電性連接;當該探針與該本體之自由端逐漸接近時,該彈簧結構呈拉伸狀態;由於該本體、彈簧結構及該探針呈一體成形,且當該探針受到壓迫時,該彈簧結構係呈拉伸狀態,故賦予本發明於使用時可直接裝設於電性量測的裝置而具有更佳的使用便利性,且由於該彈簧結構於使用時係以拉伸的方式運動,因此可避免細長之壓縮式彈簧容易側向崩潰彎折之結構穩定性問題。
简体摘要：本发明系一种本发明一体成形之微型拉伸式弹簧针,其包含一本体以及可对该本体之轴向相对运动之探针,其中,该探针与该本体之一端以一弹簧结构电性连接;当该探针与该本体之自由端逐渐接近时,该弹簧结构呈拉伸状态;由于该本体、弹簧结构及该探针呈一体成形,且当该探针受到压迫时,该弹簧结构系呈拉伸状态,故赋予本发明于使用时可直接装设于电性量测的设备而具有更佳的使用便利性,且由于该弹簧结构于使用时系以拉伸的方式运动,因此可避免细长之压缩式弹簧容易侧向崩溃弯折之结构稳定性问题。

67. 发明专利

TW200848748A 探針短路防止結構失效
简体标题：探针短路防止结构
公开(公告)号：TW200848748A
公开(公告)日：2008-12-16
申请号：TW096121145
申请日：2007-06-12
申请人：旺矽科技股份有限公司 MJC PROBE INCORPORATION
发明人：陳志忠 CHEN, CHIN CHUNG
IPC分类号： G01R
摘要：本發明係一種探針短路防止結構,其係為一絕緣之隔離結構,各隔離結構係可嵌合於一探針針體或設於該探針座於各探針間間隔之對應位置,賦予各探針於使用時具有相互隔離之功效。
简体摘要：本发明系一种探针短路防止结构,其系为一绝缘之隔离结构,各隔离结构系可嵌合于一探针针体或设于该探针座于各探针间间隔之对应位置,赋予各探针于使用时具有相互隔离之功效。

68. 发明专利

TWI299967B 探針卡之多階式印刷電路板有权
简体标题：探针卡之多阶式印刷电路板
公开(公告)号：TWI299967B
公开(公告)日：2008-08-11
申请号：TW094136735
申请日：2005-10-20
申请人：旺矽科技股份有限公司 MJC PROBE INCORPORATION
发明人：呂福進 LU, FU CHIN , 簡志忠
IPC分类号： H05K , G01R
CPC分类号： G01R31/2889 , H05K1/117
摘要：一種探針卡之多階式印刷電路板,包含有:一夾持本體
,內部形成有預定態樣之電路佈線,其周緣可被一測試機
台所夾持;一增生體,內部形成有預定態樣之導接線路,該
增生體係連結於該夾持本體不被夾持之部位下方,使該夾
持本體與該增生體之周緣間形成出呈階狀之落差,且該導
接線路並與該電路佈線電性導通。
简体摘要：一种探针卡之多阶式印刷电路板,包含有:一夹持本体 ,内部形成有预定态样之电路布线,其周缘可被一测试机台所夹持;一增生体,内部形成有预定态样之导接线路,该增生体系链接于该夹持本体不被夹持之部位下方,使该夹持本体与该增生体之周缘间形成出呈阶状之落差,且该导接线路并与该电路布线电性导通。

69. 发明专利

TWI299113B 可傳遞差動信號對之探針卡失效
简体标题：可传递差动信号对之探针卡
公开(公告)号：TWI299113B
公开(公告)日：2008-07-21
申请号：TW094139174
申请日：2005-11-08
申请人：旺矽科技股份有限公司 MJC PROBE INCORPORATION
发明人：顧偉正
IPC分类号： G06F
摘要：一種可傳遞差動信號對之探針卡,包括有一電路板及複數個差動探針,電路板佈設有電子電路,電子電路具有複數條第一及第二導線,第一導線係成對相鄰且周圍設有至少一第二導線,第二導線係電性接地;各差動探針具有二針頭及一同軸線,同軸線包括有二信號線及一套管,二信號線於一端設有各針頭另一端則電性連接於成對相鄰之二第一導線,套管則電性連接於各第二導線,相鄰二第一導線以及與之相連之二信號線係維持相同之阻抗匹配;將各針頭與電子元件電性接觸,則探針卡可傳遞差動信號至電子元件。
简体摘要：一种可传递差动信号对之探针卡,包括有一电路板及复数个差动探针,电路板布设有电子电路,电子电路具有复数条第一及第二导线,第一导线系成对相邻且周围设有至少一第二导线,第二导线系电性接地;各差动探针具有二针头及一同轴线,同轴线包括有二信号线及一套管,二信号线于一端设有各针头另一端则电性连接于成对相邻之二第一导线,套管则电性连接于各第二导线,相邻二第一导线以及与之相连之二信号线系维持相同之阻抗匹配;将各针头与电子组件电性接触,则探针卡可传递差动信号至电子组件。

70. 发明专利

TWI294523B 積體電路測試卡 INTEGRATED CIRCUIT PROBE CARD 失效
简体标题：集成电路测试卡 INTEGRATED CIRCUIT PROBE CARD
公开(公告)号：TWI294523B
公开(公告)日：2008-03-11
申请号：TW093122513
申请日：2004-07-28
申请人：旺矽科技股份有限公司 MJC PROBE INCORPORATION
发明人：范宏光 FAN, HORNG KUANG , 洪文興 HENDRA SUDIN
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R1/07342
摘要：本發明之積體電路測試卡包含一具有複數個訊號接點之電路板、一電氣連接於該訊號接點之探針組件以及一用以調整該探針組件與一待測元件之平行度的調整組件。該探針組件包含一具有複數根探針之探針座、一具有複數個開孔之固定板以及一設置於該開孔中之彈性梢。該複數根探針係用以擷取該待測元件之電氣特性，而該彈性梢電氣連接該探針座之探針及該電路板之訊號接點。該調整組件包含一具有複數個導槽之槽板、一設置於該導槽中之斜楔、至少一連接該斜楔與該探針組件之插梢以及至少一設置於斜楔側邊之螺栓。
简体摘要：本发明之集成电路测试卡包含一具有复数个信号接点之电路板、一电气连接于该信号接点之探针组件以及一用以调整该探针组件与一待测组件之平行度的调整组件。该探针组件包含一具有复数根探针之探针座、一具有复数个开孔之固定板以及一设置于该开孔中之弹性梢。该复数根探针系用以截取该待测组件之电气特性，而该弹性梢电气连接该探针座之探针及该电路板之信号接点。该调整组件包含一具有复数个导槽之槽板、一设置于该导槽中之斜楔、至少一连接该斜楔与该探针组件之插梢以及至少一设置于斜楔侧边之螺栓。

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