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1. 发明专利

TWI255521B 探針卡失效
简体标题：探针卡
公开(公告)号：TWI255521B
公开(公告)日：2006-05-21
申请号：TW094100577
申请日：2005-01-07
申请人：旺矽科技股份有限公司 MJC PROBE INCORPORATION
发明人：呂福進 LU, FU CHIN
IPC分类号： H01L , G01R
摘要：一種探針卡，包含有一電路板、一間隔件、至少一跳線板，以及一針組；電路板具有一配線禁止區，以及一定位孔，間隔件係設於定位孔，各跳線板具有若干電性連接點，各跳線板係接合於定位孔之孔壁與間隔件之間，各電性連接點可用以電性連接於電路板，而針組具有若干探針，針組係設於間隔件，使各探針之一端用以電性連接於一待測物，而另一端則可電性連接於跳線板之其中一電性連接點。
简体摘要：一种探针卡，包含有一电路板、一间隔件、至少一跳线板，以及一针组；电路板具有一配线禁止区，以及一定位孔，间隔件系设于定位孔，各跳线板具有若干电性连接点，各跳线板系接合于定位孔之孔壁与间隔件之间，各电性连接点可用以电性连接于电路板，而针组具有若干探针，针组系设于间隔件，使各探针之一端用以电性连接于一待测物，而另一端则可电性连接于跳线板之其中一电性连接点。

2. 发明专利

TWI252320B 用來測試印刷電路板之測試設備 TESTING FACILITY FOR TESTING PRINT CIRCUIT BOARD 失效
简体标题：用来测试印刷电路板之测试设备 TESTING FACILITY FOR TESTING PRINT CIRCUIT BOARD
公开(公告)号：TWI252320B
公开(公告)日：2006-04-01
申请号：TW093108789
申请日：2004-03-31
申请人：旺矽科技股份有限公司 MJC PROBE INCORPORATION
发明人：呂福進 LU, FU CHIN
IPC分类号： G01R , H05K
摘要：一種用來測試印刷電路板(PCB)之測試設備10包含一探針卡分析儀20和一包含一待測之PCB板31、一轉接機構40、和數個接合元件41之PCB板測試機構30；其中該轉接機構40又包含一載板42以及一探針組44，此探針組44具有複數個探針441和用來固定該複數個探針441之轉接板442；當測試者欲針對待測物之PCB板31進行測試時，將轉接機構40與待測物 PCB板31結構進行觸接，並搭配探針卡分析儀20各部零件之組合，透過探針卡分析儀20上之測試機台，即可執行如開路、短路、線路漏電、線路阻抗等各項測試檔案，而完成電氣特性之測試。
简体摘要：一种用来测试印刷电路板(PCB)之测试设备10包含一探针卡分析仪20和一包含一待测之PCB板31、一转接机构40、和数个接合组件41之PCB板测试机构30；其中该转接机构40又包含一载板42以及一探针组44，此探针组44具有复数个探针441和用来固定该复数个探针441之转接板442；当测试者欲针对待测物之PCB板31进行测试时，将转接机构40与待测物 PCB板31结构进行触接，并搭配探针卡分析仪20各部零件之组合，透过探针卡分析仪20上之测试机台，即可运行如开路、短路、线路漏电、线路阻抗等各项测试文档，而完成电气特性之测试。

3. 发明专利

TW200718302A 探針卡之多階式印刷電路板审中-公开
简体标题：探针卡之多阶式印刷电路板
公开(公告)号：TW200718302A
公开(公告)日：2007-05-01
申请号：TW094136735
申请日：2005-10-20
申请人：旺矽科技股份有限公司 MJC PROBE INCORPORATION
发明人：呂福進 LU, FU CHIN , 簡志忠
IPC分类号： H05K , G01R
CPC分类号： G01R31/2889 , H05K1/117
摘要：一種探針卡之多階式印刷電路板,包含有:一夾持本體,內部形成有預定態樣之電路佈線,其周緣可被一測試機台所夾持;一增生體,內部形成有預定態樣之導接線路,該增生體係連結於該夾持本體不被夾持之部位下方,使該夾持本體與該增生體之周緣間形成出呈階狀之落差,且該導接線路並與該電路佈線電性導通。
简体摘要：一种探针卡之多阶式印刷电路板,包含有:一夹持本体,内部形成有预定态样之电路布线,其周缘可被一测试机台所夹持;一增生体,内部形成有预定态样之导接线路,该增生体系链接于该夹持本体不被夹持之部位下方,使该夹持本体与该增生体之周缘间形成出呈阶状之落差,且该导接线路并与该电路布线电性导通。

4. 发明专利

TWI299967B 探針卡之多階式印刷電路板有权
简体标题：探针卡之多阶式印刷电路板
公开(公告)号：TWI299967B
公开(公告)日：2008-08-11
申请号：TW094136735
申请日：2005-10-20
申请人：旺矽科技股份有限公司 MJC PROBE INCORPORATION
发明人：呂福進 LU, FU CHIN , 簡志忠
IPC分类号： H05K , G01R
CPC分类号： G01R31/2889 , H05K1/117
摘要：一種探針卡之多階式印刷電路板,包含有:一夾持本體
,內部形成有預定態樣之電路佈線,其周緣可被一測試機
台所夾持;一增生體,內部形成有預定態樣之導接線路,該
增生體係連結於該夾持本體不被夾持之部位下方,使該夾
持本體與該增生體之周緣間形成出呈階狀之落差,且該導
接線路並與該電路佈線電性導通。
简体摘要：一种探针卡之多阶式印刷电路板,包含有:一夹持本体 ,内部形成有预定态样之电路布线,其周缘可被一测试机台所夹持;一增生体,内部形成有预定态样之导接线路,该增生体系链接于该夹持本体不被夹持之部位下方,使该夹持本体与该增生体之周缘间形成出呈阶状之落差,且该导接线路并与该电路布线电性导通。

5. 发明专利

TW200625490A 探針卡失效
简体标题：探针卡
公开(公告)号：TW200625490A
公开(公告)日：2006-07-16
申请号：TW094100577
申请日：2005-01-07
申请人：旺矽科技股份有限公司 MJC PROBE INCORPORATION
发明人：呂福進 LU, FU CHIN
IPC分类号： H01L , G01R
摘要：一種探針卡，包含有一電路板、一間隔件、至少一跳線板，以及一針組；電路板具有一配線禁止區，以及一定位孔，間隔件係設於定位孔，各跳線板具有若干電性連接點，各跳線板係接合於定位孔之孔壁與間隔件之間，各電性連接點可用以電性連接於電路板，而針組具有若干探針，針組係設於間隔件，使各探針之一端用以電性連接於一待測物，而另一端則可電性連接於跳線板之其中一電性連接點。
简体摘要：一种探针卡，包含有一电路板、一间隔件、至少一跳线板，以及一针组；电路板具有一配线禁止区，以及一定位孔，间隔件系设于定位孔，各跳线板具有若干电性连接点，各跳线板系接合于定位孔之孔壁与间隔件之间，各电性连接点可用以电性连接于电路板，而针组具有若干探针，针组系设于间隔件，使各探针之一端用以电性连接于一待测物，而另一端则可电性连接于跳线板之其中一电性连接点。

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