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11. 发明专利

TWI630056B 一種熱漂移精密量測校正及補償之裝置有权
简体标题：一种热漂移精密量测校正及补偿之设备
公开(公告)号：TWI630056B
公开(公告)日：2018-07-21
申请号：TW105143329
申请日：2016-12-27
申请人：國家中山科學研究院 , NATIONAL CHUNG-SHAN INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY
发明人：黃宜裕 , HWANG, YI YUH , 張偉國 , CHANG, WEI KUO , 劉立中 , LIU, LI CHUNG
IPC分类号： B23Q11/00 , B23Q17/24

12. 发明专利

TWI509224B 角度精確定位裝置有权
简体标题：角度精确定位设备
公开(公告)号：TWI509224B
公开(公告)日：2015-11-21
申请号：TW102143214
申请日：2013-11-27
申请人：國家中山科學研究院 , NATIONAL CHUNG SHAN INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY
发明人：黃宜裕 , HWANG, YI YHU , 劉光新 , LIU, GUANG SHEEN , 黃欽德 , HWANG, CHIN DER , 張偉國 , CHANG, WEI GUO , 廖志明 , LIAO, CHIH MING
IPC分类号： G01D5/26

13. 发明专利

TW201520520A 角度精確定位裝置审中-公开
简体标题：角度精确定位设备
公开(公告)号：TW201520520A
公开(公告)日：2015-06-01
申请号：TW102143214
申请日：2013-11-27
申请人：國家中山科學研究院 , NATIONAL CHUNG SHAN INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY
发明人：黃宜裕 , HWANG, YI YHU , 劉光新 , LIU, GUANG SHEEN , 黃欽德 , HWANG, CHIN DER , 張偉國 , CHANG, WEI GUO , 廖志明 , LIAO, CHIH MING
IPC分类号： G01D5/26
摘要：本發明係關於一種角度精確定位裝置，其中，該角度精確定位裝置係由價格相對便宜的旋轉圓盤單元、不變形光斑擷取單元、識別角度定位單元、以及角度校正單元便構成了符合高精度角度感測器需求之一個角度精確定位裝置，係相當具有產業競爭力。技術上，係使用不變形光斑擷取單元於轉動的旋轉圓盤單元的表面上取得N個不變形光斑雷射影像，並藉由該角度校正單元與該識別角度定位單元定義並記錄N個座標光斑影像與N個主變化角；之後，當於資料庫之中找到了與即時不變形光斑影像之間存在著最大重疊面積的第i個座標光斑影像之後，便可透過即時不變形光斑影像的副變化角、第i個座標光斑影像的主變化角以及即時不變形光斑影像與該第i個座標光斑影像之間的像平面位移量等參數計算出該即時不變形光斑影像的一待測角度，完成了精確的角度定位。
简体摘要：本发明系关于一种角度精确定位设备，其中，该角度精确定位设备系由价格相对便宜的旋转圆盘单元、不变形光斑截取单元、识别角度定位单元、以及角度校正单元便构成了符合高精度角度传感器需求之一个角度精确定位设备，系相当具有产业竞争力。技术上，系使用不变形光斑截取单元于转动的旋转圆盘单元的表面上取得N个不变形光斑激光影像，并借由该角度校正单元与该识别角度定位单元定义并记录N个座标光斑影像与N个主变化角；之后，当于数据库之中找到了与实时不变形光斑影像之间存在着最大重叠面积的第i个座标光斑影像之后，便可透过实时不变形光斑影像的副变化角、第i个座标光斑影像的主变化角以及实时不变形光斑影像与该第i个座标光斑影像之间的像平面位移量等参数计算出该实时不变形光斑影像的一待测角度，完成了精确的角度定位。

14. 发明专利

JP2016122283A 迅速なサブピクセル絶対位置決めの装置及び方法有权
标题翻译：用于快速子像素绝对定位的装置和方法
公开(公告)号：JP2016122283A
公开(公告)日：2016-07-07
申请号：JP2014261054
申请日：2014-12-24
申请人：國家中山科學研究院
发明人：黄宜裕 , 張偉國 , 黄欽徳 , 劉光新 , 林文仁 , 葛平亞
IPC分类号： G01B11/00 , G06T1/00
摘要：【課題】迅速なサブピクセル絶対位置決めの装置及び方法を提供することを課題とする。【解決手段】迅速なサブピクセル絶対位置決めの装置及び方法であって、対象物表面のリアルタイムなスペックルパターンを取り込むステップ(A)と、座標値を含む一組の粗い精度のスペックル座標パターン及び座標値を含む複数組の細かい精度のスペックル座標パターンを提供するステップ(B)と、アルゴリズムを利用してまず該リアルタイムなスペックルパターンと該粗い精度のスペックル座標パターンをマッチングしてから該細かい精度のスペックル座標パターンとマッチングして座標値を得るステップ(C)とを含む。各該粗い精度のスペックル座標パターンは、一組の細かい精度のスペックル座標パターンに対応し、該細かい精度のスペックル座標パターンが更に該粗い精度のスペックル座標パターンを取り込んだ後、一定の細かい精度移動距離で繰り返して撮像して獲得する。これを介して迅速なマッチング、高精度のサブピクセル位置決めを完成できる。【選択図】図6
摘要翻译：要解决的问题：提供用于快速子像素绝对定位的装置和方法。解决方案：快速子像素绝对定位的快速装置和方法包括：步骤（A），其中实时散斑图案捕获物体表面; 提供了包括包括坐标值和坐标值的一对粗精度斑点坐标图案的多对精细散斑坐标图案的步骤（B）; 以及步骤（C），其中首先匹配实时散斑图案和粗精度散斑坐标图案，然后通过将实时散斑图案与精细的散斑坐标图形进行匹配来获得坐标值。每个粗略准确的斑点坐标图案对应于一对精细的散斑坐标图案。精细的斑点坐标图案进一步捕获粗糙的散斑坐标图案，然后通过以恒定的精确精确的移动距离重复成像粗糙的散斑坐标图案来获取精细的散斑坐标图案。这样，可以完成快速匹配和高精度的子像素定位。选择图：图6

15. 发明专利

JP6041855B2 サブピクセル絶対位置決め方法有权
标题翻译：绝对定位方法的子像素
公开(公告)号：JP6041855B2
公开(公告)日：2016-12-14
申请号：JP2014261054
申请日：2014-12-24
申请人：國家中山科學研究院
发明人：黄宜裕 , 張偉國 , 黄欽徳 , 劉光新 , 林文仁 , 葛平亞
IPC分类号： G01B11/00 , G06T1/00

16. 发明专利

JP2019120967A 誤差補償装置および方法审中-公开
公开(公告)号：JP2019120967A
公开(公告)日：2019-07-22
申请号：JP2017252932
申请日：2017-12-28
申请人：國家中山科學研究院
发明人：黄宜裕 , 張偉國 , 劉立中
IPC分类号： B25J13/08 , G01B11/00 , G06T7/70
摘要：【課題】オブジェクトの位置移動の誤差を検測ならびに補償する誤差補償装置及び方法を提供する。【解決手段】誤差補償装置は、少なくとも一つのカメラモジュール、一つの照合モジュールおよび一つの校正補償モジュールを含む。カメラモジュールは、オブジェクトに対する一つの空間座標系を構築する。第一カメラ装置および第二カメラ装置は、それぞれ第一表面上の複数第一非変形なスペックル画像および第二表面上の複数第二非変形なスペックル画像を撮影する。第一表面と第二表面は一方位角の差がある。照合モジュールはそれぞれ位置移動前後の第一非変形なスペックル画像および第二非変形なスペックル画像を照合し、それによって二つの表面の位置移動量を計算する。校正補償モジュールは位置移動量に基づきオブジェクトの移動を制御する。【選択図】図5

17. 发明专利

JP2018106604A 工作機械の計測校正補償システム及び方法有权
公开(公告)号：JP2018106604A
公开(公告)日：2018-07-05
申请号：JP2016255329
申请日：2016-12-28
申请人：國家中山科學研究院
发明人：黄宜裕 , 張偉國 , 劉立中
IPC分类号： B23Q15/18 , B23Q17/24 , G05B19/19
摘要：【課題】工作機械の計測校正補償システム及び方法を提供することを課題とする。【解決手段】工作機械の計測校正補償システムであって、第1位置決め基台と、工作機械の加工前及び加工時にワーク固定手段の第1位置決め基台の第1XY平面及び第1XZ平面におけるスペックル位置を検出することで、ワーク固定手段の位置を補正する2つの第1スペックルイメージセンサと、第2位置決め基台と、工作機械の加工前及び加工時に工具固定手段の第2位置決め基台の第2XY平面及び第2YZ平面におけるスペックル位置を検出することで、工具固定手段の位置を補正する2つの第2スペックルイメージセンサと、を含む,これを介して、比較的簡略化、低コスト、熱変形の校正精度が良好な方式で直接正確に工作機械各軸の熱膨張量を測定でき、リアルタイムで工作機械各軸の絶対位置決め座標を校正することで多軸同期動作の位置決め精度が工作機械の熱膨張により低下させない。【選択図】図1

18. 发明专利

JP6668321B2 誤差補償装置および方法有权
公开(公告)号：JP6668321B2
公开(公告)日：2020-03-18
申请号：JP2017252932
申请日：2017-12-28
申请人：國家中山科學研究院
发明人：黄宜裕 , 張偉國 , 劉立中
IPC分类号： B25J13/08 , G01B11/00 , G06T7/70

19. 发明专利

JP6333352B1 工作機械の計測校正補償システム及び方法有权
公开(公告)号：JP6333352B1
公开(公告)日：2018-05-30
申请号：JP2016255329
申请日：2016-12-28
申请人：國家中山科學研究院
发明人：黄宜裕 , 張偉國 , 劉立中
IPC分类号： G05B19/404 , B23Q17/24 , B23Q15/18
摘要：【課題】工作機械の計測校正補償システム及び方法を提供することを課題とする。【解決手段】工作機械の計測校正補償システムであって、第1位置決め基台と、工作機械の加工前及び加工時にワーク固定手段の第1位置決め基台の第1XY平面及び第1XZ平面におけるスペックル位置を検出することで、ワーク固定手段の位置を補正する2つの第1スペックルイメージセンサと、第2位置決め基台と、工作機械の加工前及び加工時に工具固定手段の第2位置決め基台の第2XY平面及び第2YZ平面におけるスペックル位置を検出することで、工具固定手段の位置を補正する2つの第2スペックルイメージセンサと、を含む,これを介して、比較的簡略化、低コスト、熱変形の校正精度が良好な方式で直接正確に工作機械各軸の熱膨張量を測定でき、リアルタイムで工作機械各軸の絶対位置決め座標を校正することで多軸同期動作の位置決め精度が工作機械の熱膨張により低下させない。【選択図】図1

20. 发明专利

JP6114371B1 高精度エンコーダの精度校正方法有权
公开(公告)号：JP6114371B1
公开(公告)日：2017-04-12
申请号：JP2015251795
申请日：2015-12-24
申请人：國家中山科學研究院
发明人：黄宜裕 , 張偉國
IPC分类号： G01D5/347
摘要：【課題】高精度エンコーダの精度校正方法を提供する。【解決手段】光斑画像捕捉モジュール125を利用して光学位置決め表面111からN枚の不変形光斑画像を取得し、前記モジュール125に設けられた画像対比関数式、及び演算処理関数式を用いて前記N枚の不変形光斑画像に基づいてN個の変位ベクトルを算出し、N個の円周位置決め角度座標を取得する。2次元画像センサの円形回転主体11に対する物体表面の変位量の位置決め精度を向上させるために、α回転行列で前記N個の光斑画像から取得される前記複数個の変位ベクトルに対して変換を行い、光斑の暗領域により生じる変位成分の対比誤差を解消する。また、前記円形回転主体11の平均回転半径を取得し、相隣する2個の変位ベクトルの内積により夾角を求めることにより、非偏心誤差に起因する変位ベクトル位置決めの誤差の回避が達成され、高精度の円周角度座標の位置決めが完成する。【選択図】図4

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