基本信息:
- 专利标题： 자동광학검사기의 티칭데이터 자동 생성 방법
- 专利标题（英）：Method for automatically generating teaching data of automated optical inspection machine
- 专利标题（中）：用于自动生成自动光学检测机的教学数据的方法
- 申请号：PCT/KR2014/002507 申请日：2014-03-25
- 公开(公告)号：WO2014157920A1 公开(公告)日：2014-10-02
- 发明人： 박찬화 , 조영일 , 김태준
- 申请人： 주식회사 미르기술
- 申请人地址： 435-776 경기도 군포시 고산로 166, 103-803 (당정동, 외2 SK벤티움), Gyeonggi-do KR
- 专利权人： 주식회사 미르기술
- 当前专利权人： 주식회사 미르기술
- 当前专利权人地址： 435-776 경기도 군포시 고산로 166, 103-803 (당정동, 외2 SK벤티움), Gyeonggi-do KR
- 代理机构： 특허법인태동
- 优先权： KR10-2013-0031275 20130325
- 主分类号： G06F19/00
- IPC分类号： G06F19/00 ; H05K13/08 ; G01N21/88 ; G01B11/30
摘要：
본 발명은 거버 파일(Gerber-file)과 같은 외부 정보 또는 오퍼레이터에 의한 수동 티칭 과정이 없이, 기 설정된 납땜 형상 정보에 대한 패턴 매칭을 통해 티칭 시작점과 종료점을 자동으로 인식하고, 영상 내의 각 위치에 대한 밝기 값이 설정된 조건을 만족하는지 여부를 순차적으로 반복 탐색함으로써 티칭 시작점과 종료점을 연결하는 링크(배선) 경로를 자동으로 획득할 수 있는 자동광학검사기의 티칭데이터 자동 생성 방법에 관한 것이다.
摘要（中）：
本发明涉及一种用于自动生成自动光学检测（AOI）机器的教学数据的方法，该自动光学检测机器通过图形匹配自动识别教学起点和教学终点，而无需外部信息，如格伯 - 文件或操作者执行的手动教学处理，并且顺序并重复地搜索图像内的每个位置的亮度值是否满足预定条件，并且因此可以自动获得用于连接教学开始点和教学的链接（布线）路径 终点