基本信息:
- 专利标题： SHARING RESOURCES IN A SYSTEM FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICES
- 专利标题（中）：用于测试半导体器件的系统中的共享资源
- 申请号：PCT/US2007/085483 申请日：2007-11-25
- 公开(公告)号：WO2008070466A2 公开(公告)日：2008-06-12
- 发明人： CHRAFT, Matthew, E. , ELDRIDGE, Benjamin, N. , HENSON, Roy, J. , SPORCK, A., Nicholas
- 申请人： FORMFACTOR, INC. , CHRAFT, Matthew, E. , ELDRIDGE, Benjamin, N. , HENSON, Roy, J. , SPORCK, A., Nicholas
- 申请人地址： 7005 Southfront Road Livermore, California 94551 US
- 专利权人： FORMFACTOR, INC.,CHRAFT, Matthew, E.,ELDRIDGE, Benjamin, N.,HENSON, Roy, J.,SPORCK, A., Nicholas
- 当前专利权人： FORMFACTOR, INC.,CHRAFT, Matthew, E.,ELDRIDGE, Benjamin, N.,HENSON, Roy, J.,SPORCK, A., Nicholas
- 当前专利权人地址： 7005 Southfront Road Livermore, California 94551 US
- 代理机构： HAUSER, Robert Scott et al.
- 优先权： US11/567,705 20061206
- 主分类号： G01R31/02
- IPC分类号： G01R31/02
摘要：
Probes in a plurality of DUT probe groups can be connected in parallel to a single tester channel. In one aspect, digital potentiometers can be used to effectively switch the tester channel from a probe in one DUT probe group to a probe in another DUT probe group. In another aspect, switches in parallel with a resistor can accomplish such switching. In yet another aspect, a chip select terminal on each DUT can be used to effectively connect and disconnect internal DUT circuitry to the tester channel. Multiple DUT probe groups so connected can be used to create different patterns of DUT probe groups for testing different patterns of DUTs and thus facilitate sharing tester channels.
摘要（中）：
多个DUT探针组中的探针可以并联连接到单个测试仪通道。 在一个方面，数字电位器可用于有效地将测试仪通道从一个DUT探针组中的探头切换到另一个DUT探针组中的探针。 另一方面，与电阻并联的开关可以实现这种切换。 在另一方面，每个DUT上的芯片选择端可用于有效地连接和断开内部DUT电路到测试器通道。 如此连接的多个DUT探针组可用于创建不同的DUT探针组，以测试DUT的不同图案，从而便于共享测试仪通道。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R31/00 | 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置 |
| --------G01R31/02 | .对电设备、线路或元件进行短路、断路、泄漏或不正确连接的测试 |