基本信息:
- 专利标题： 집적회로의 테스트 회로
- 专利标题（英）：Test circuit for integrated circuit
- 专利标题（中）：集成电路测试电路
- 申请号：KR1019980044015 申请日：1998-10-20
- 公开(公告)号：KR1020000026480A 公开(公告)日：2000-05-15
- 发明人： 윤찬호
- 申请人： 삼성전자주식회사
- 申请人地址： ***, Samsung-ro, Yeongtong-gu, Suwon-si, Gyeonggi-do, Republic of Korea
- 专利权人： 삼성전자주식회사
- 当前专利权人： 삼성전자주식회사
- 当前专利权人地址： ***, Samsung-ro, Yeongtong-gu, Suwon-si, Gyeonggi-do, Republic of Korea
- 代理人： 임창현
- 主分类号： G01R31/28
- IPC分类号： G01R31/28
摘要：
PURPOSE: A test circuit for IC is provide a port which can be applied test vector without any additional port or internal memory. CONSTITUTION: A test circuit for an integrated circuit(10) consists of CPU core(12), port(14), and port control register(16). A CPU core(12) generates a fetch control signal(fetch) for controlling a port(14) to generate or accept a rest vector. The port(14) sets up as an input mode by replying the activated fetch control signal(control) from port control register(16) and controls an output mode with testing an output function when the fetch control signal(fetch) is not activated.
摘要（中）：
目的：IC测试电路提供一个端口，可以应用测试矢量，无需任何附加端口或内部存储器。 构成：集成电路（10）的测试电路由CPU核心（12），端口（14）和端口控制寄存器（16）组成。 CPU核心（12）产生用于控制端口（14）产生或接受休止向量的获取控制信号（提取）。 端口（14）通过响应来自端口控制寄存器（16）的激活的取指控制信号（控制）而设置为输入模式，并且当获取控制信号（fetch）未被激活时，通过测试输出功能来控制输出模式。
信息查询:
EspacenetIPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R31/00 | 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置 |
| --------G01R31/28 | .电路的测试，例如用信号故障寻测器 |