基本信息:
- 专利标题： ＬＥＤ 칩의 광특성 평가방법 및 이를 활용한 ＬＥＤ 장치의 제조 방법
- 专利标题（英）：Method for evaluating optical properties of LED chip and method of manufacturing LED device using the same
- 专利标题（中）：评价LED芯片的光学特性的方法及其制造方法
- 申请号：KR1020100010927 申请日：2010-02-05
- 公开(公告)号：KR101680851B1 公开(公告)日：2016-11-30
- 发明人： 박일우 , 손종락
- 申请人： 삼성전자주식회사
- 申请人地址： ***, Samsung-ro, Yeongtong-gu, Suwon-si, Gyeonggi-do, Republic of Korea
- 专利权人： 삼성전자주식회사
- 当前专利权人： 삼성전자주식회사
- 当前专利权人地址： ***, Samsung-ro, Yeongtong-gu, Suwon-si, Gyeonggi-do, Republic of Korea
- 代理人： 특허법인씨엔에스
- 主分类号： G01J3/50
- IPC分类号： G01J3/50 ; G01J3/443 ; G01J3/51 ; H01L33/58
摘要：
본발명의일 측면에따른 LED 칩의광특성평가장치는, 평가대상이되는 LED 칩에서나오는단색광을다른파장의색으로변환하여특정색의빛이나오도록하는광변환필터; 및상기광변환필터로부터나오는특정색의빛을수광하여상기수광된특정색의빛의광특성을측정하는광특성측정부를포함한다.
摘要（中）：
目的：提供用于评估LED芯片的光学特性的装置和方法以及制造LED装置的方法，以减少发射包括白色的特定颜色的LED的LED装置的色散，并且增加发射特定的LED的LED装置的制造成品率 光的颜色 构成：用于评估LED芯片的光学特性的设备（100）包括光转换滤光器（151,152），其将从LED芯片（50）发射的单色光（例如蓝光或紫外光）转换成其他波长的颜色， 发出白光。 由光转换滤波器发出的白光由用于测量光学特性的单元接收，因此测量白光的光学特性。 光学特性测量单元可以包括测量光能的光电二极管传感器（130）和测量光谱的光谱仪（140）。
摘要（英）：
An optical property evaluation apparatus of the LED chip according to an aspect of the invention converts the monochromatic light from the LED chips which are subjected to a different wavelength of light by the color conversion filter to come out the light of a specific color; And an optical property measurement unit for measuring the optical properties of the light conversion of the specific color light by receiving a light of a specific color of the light-receiving coming from the filter.
公开/授权文献:
- KR1020110091210A ＬＥＤ 칩의 광특성 평가방법 및 이를 활용한 ＬＥＤ 장치의 제조 방법 公开/授权日：2011-08-11