基本信息:
- 专利标题： EMBEDDED TEST CIRCUIT FOR PHYSICALLY UNCLONABLE FUNCTION
- 专利标题（中）：EINGEBETTETE TESTSCHALTUNGFÜREINE PHYSISCH UNKLONBARE FUNKTION
- 申请号：EP15306063.7 申请日：2015-07-01
- 公开(公告)号：EP3113409A1 公开(公告)日：2017-01-04
- 发明人： Dafali, Rachid , Danger, Jean-Luc , Guilley, Sylvain , Lozac'h, Florent
- 申请人： Secure-IC SAS
- 申请人地址： 47 Rue Villiers de l'Isle Adam 35000 Rennes FR
- 专利权人： Secure-IC SAS
- 当前专利权人： SECURE-IC SAS
- 当前专利权人地址： SECURE-IC SAS
- 代理机构： Nguyen Van Yen, Christian
- 主分类号： H04L9/32
- IPC分类号： H04L9/32 ; H04L9/08 ; G09C1/00
摘要：
There is disclosed a silicon integrated circuit comprising a Physically Unclonable Function and an online or embedded test circuit, said online test circuit comprising one or more circuit parts being physically adjacent to said PUF and said one or more circuits embodying one or more tests which can be performed to determine one or more quality properties of said PUF or otherwise characterize it. Different tests with specific associated method steps are described.
摘要（中）：
公开了一种包括物理不可克隆功能和在线或嵌入式测试电路的硅集成电路，所述在线测试电路包括与所述PUF物理相邻的一个或多个电路部分，以及体现一个或多个测试的一个或多个电路，其可以是 执行以确定所述PUF的一个或多个质量属性或以其它方式表征。 描述具体相关方法步骤的不同测试。
公开/授权文献:
- EP3113409B1 EMBEDDED TEST CIRCUIT FOR PHYSICALLY UNCLONABLE FUNCTION 公开/授权日：2024-09-18
IPC结构图谱:
| H | 电学 |
| --H04 | 电通信技术 |
| ----H04L | 数字信息的传输，例如电报通信 |
| ------H04L9/00 | 保密或安全通信装置 |
| --------H04L9/32 | .包括用于检验系统用户的身份或凭据的装置 |