基本信息:
- 专利标题： DYNAMISCHER SPEICHER UND VERFAHREN ZUM TESTEN EINES DYNAMISCHEN SPEICHERS
- 专利标题（英）：Dynamic memory and method for testing a dynamic memory
- 专利标题（中）：动态内存以及检验方法动态存储器
- 申请号：EP02740591.9 申请日：2002-05-13
- 公开(公告)号：EP1390951A2 公开(公告)日：2004-02-25
- 发明人： OHLHOFF, Carsten
- 申请人： Infineon Technologies AG
- 申请人地址： St.-Martin-Strasse 53 81669 München DE
- 专利权人： Infineon Technologies AG
- 当前专利权人： Infineon Technologies AG
- 当前专利权人地址： St.-Martin-Strasse 53 81669 München DE
- 代理机构： Ginzel, Christian
- 优先权： DE10125022 20010522
- 国际公布： WO2002095756 20021128
- 主分类号： G11C29/00
- IPC分类号： G11C29/00
摘要：
The invention relates to a dynamic memory comprising a memory cell array (10), a test controller (12) for testing the memory cell array (10) and an oscillator (14) for controlling the refreshing of said memory cell array (10). According to the invention, said memory includes means (16) for using the oscillator (14) as a time base for the test controller. Hereby, a slow time base is achieved, which may be used for different self-tests of the memory.