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    • 8. 发明申请
    • VERFAHREN UND SCHALTUNGSEINHEIT ZUM ERMITTELN VON FEHLERZUSTÄNDEN EINER HALBBRÜCKENSCHALTUNG
    • 方法和电路单元,对于半桥式电路确定所述误差条件
    • WO2014063955A1
    • 2014-05-01
    • PCT/EP2013/071502
    • 2013-10-15
    • CONTI TEMIC MICROELECTRONIC GMBH
    • HORNSTEIN, ChristophBLEY, UlrichKÜHNEN, Kai
    • H03K17/18H01H47/00H02M1/32H02H7/10H02M1/08
    • G01R31/327G01R31/26G01R31/28H02M1/38H03K17/18
    • Ein Gegenstand der Anmeldung betrifft ein Verfahren zum Ermitteln von Fehlerzuständen einer, zumindest einen ersten Halblei- terschalter (HS1) und einen zweiten Halbleiterschalter (HS2) aufweisenden Halbbrückenschaltung (HBS), wobei der erste Halbleiterschalter (HS1) und der zweite Halbleiterschalter (HS2) zueinander in einer Reihenschaltung geschaltet und mittels jeweils eines Steuersignals steuerbar sind und wobei der erste Halbleiterschalter (HS1) und der zweite Halbleiterschalter (HS2) jeweils einen geöffneten und einen geschlossenen Schaltzustand einnehmen können. Es erfolgt ein Ermitteln eines Ist-Schaltzustands und eines Soll-Schaltzustands des ersten Halbleiterschalters (HS1). Zudem erfolgt ein Ermitteln eines Ist-Schaltzustands und eines Soll-Schaltzustands des zweiten Halbleiterschalters (HS2). Ferner erfolgt ein Erkennen eines Brückenkurzschlusses bei der Halbbrückenschaltung (HBS), falls der Ist-Schaltzustand des ersten Halbleiterschalters (HS1) von dem Soll-Schaltzustand des ersten Halbleiterschalters (HS1) verschieden ist und zudem der Ist-Schaltzustand des zweiten Halbleiterschalters (HS2) von dem Soll-Schaltzustand des zweiten Halbleiterschalters (HS2) verschieden ist.
    • 本申请的目的涉及一种用于检测的故障条件下,至少一个第一半导体开关(HS1)和第二半导体开关(HS2),包括半桥电路(HBS),其中,所述第一半导体开关(HS1),并且彼此所述第二半导体开关(HS2) 串联连接的电路,并通过控制信号,并且其中的每一个装置控制所述第一半导体开关(HS1)和第二半导体开关(HS2)可以各自具有一个开放的并占据一个闭合的开关状态。 有一个实际的开关状态的判断和在所述第一半导体开关(HS1)的所期望的开关状态。 此外,确定实际的开关状态和第二半导体开关(HS2)的所期望的切换状态下进行的。 此外,识别与所述半桥电路(HBS)的桥接短路的被实现,如果所述第一半导体开关(HS1)的实际的开关状态(HS1)是第一半导体开关的期望的开关状态的不同,并且也与第二半导体开关的实际的开关状态(HS2) 是到所述第二半导体开关(HS2)的期望的开关状态不同。