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    • 3. 发明申请
    • CAPTEUR D'IMAGE AVEC GRILLE D'ANTI-EBLOUISSEMENT
    • 具有防气门的图像传感器
    • WO2014131704A1
    • 2014-09-04
    • PCT/EP2014/053436
    • 2014-02-21
    • E2V SEMICONDUCTORS
    • BARBIER, FrédéricMAYER, Frédéric
    • H01L27/146
    • H01L27/14654H01L27/14609H04N5/3592H04N5/3594
    • L'invention concerne les capteurs d'image électronique à pixels actifs. Le pixel comprend une photodiode (PH) constituée dans une couche active semiconductrice (12) et maintenue à un potentiel de référence nul, et au-dessus de la couche active une grille d'anti-éblouissement (G5) adjacente d'un côté à la photodiode et d'un autre côté à un drain (22) d'évacuation. Le capteur comprend des moyens pour appliquer à la grille d'anti-éblouissement, pendant la plus grande partie de la durée d'intégration, un potentiel de blocage créant sous la grille une barrière de potentiel d'une première hauteur, et, pendant une série d'impulsions brèves au cours de la durée d'intégration, un potentiel d'anti-éblouissement créant une barrière de potentiel d'une deuxième hauteur, plus faible que la première. Le fait d'appliquer la tension d'anti-éblouissement seulement pendant des impulsions brèves réduit le bruit d'obscurité induit par effet tunnel par le champ électrique entre grille et photodiode.
    • 本发明涉及电子有源像素图像传感器。 像素包括形成在有源半导体层(12)中并保持在零参考电位的光电二极管(PH),并且在有源层的上方,在一侧与光电二极管相邻的防喷花门(G5) 另一侧到疏散排水管(22)。 传感器包括用于在大部分积分时间期间向防晕门施加在栅极下产生第一高度的势垒的阻塞电位的装置,并且在积分时间期间的一系列短脉冲期间, 抗起霜电位产生比第一高度低的第二高度的势垒。 仅在短脉冲期间施加抗起霜电压可以减小由栅极和光电二极管之间的电场引起的量子隧穿引起的暗噪声。
    • 4. 发明申请
    • CAPTEUR D'IMAGE A PIXEL A QUATRE OU CINQ TRANSISTORS AVEC REDUCTION DE BRUIT DE REINITIALISATION
    • 具有复位噪声减少的四个半导体或五个半透明像素的图像传感器
    • WO2009068526A1
    • 2009-06-04
    • PCT/EP2008/066149
    • 2008-11-25
    • E2V SEMICONDUCTORSFEREYRE, PierreCARUEL, Simon
    • FEREYRE, PierreCARUEL, Simon
    • H01L27/146H04N3/15
    • H01L27/14603H01L27/14609H01L27/14643H04N5/357H04N5/3594
    • L'invention concerne les capteurs d'image réalisés en technologie CMOS, dont les pixels individuels, agencés en réseau de lignes et de colonnes, sont constitués chacun par une photodiode (PD1) associée à une région de stockage de charges (N2) qui reçoit les charges photogénérées avant une phase de lecture de charges. Pour éliminer le risque d'introduction d'un bruit de type kTC dans le signal, lors de la réinitialisation de la zone de stockage (N2) à la fin d'un cycle de lecture, l'invention propose de diviser la zone de stockage en deux parties dont l'une (N2b), adjacente à la grille de réinitialisation (G3), est recouverte d'une région diffusée (P2) de même type de conductivité que le substrat dans lequel est formée la photodiode, cette région étant portée au potentiel fixe du substrat, et l'autre (N2a) n'est pas recouverte par une telle région et n'est pas adjacente à la grille de réinitialisation.
    • 本发明涉及以CMOS技术制造的图像传感器,其各自的像素排列成行和列的矩阵,每个像素由与电荷存储区域(N2)相关联的光电二极管(PD1)组成,该电荷存储区域(N2)在一个 电荷读取阶段。 为了消除在读周期结束时复位存储区(N2)时将信号引入信号的风险,本发明提出将存储区分成两部分,其中一个(N2b),邻近 复位栅极(G3)被与形成有光电二极管的基板相同类型的导电性的扩散区域(P2)覆盖,该区域升高到基板的固定电位,另一个(N2a )不被这样的区域覆盖,并且不与复位门相邻。
    • 6. 发明申请
    • STRUCTURE D'UN PIXEL ACTIF DE TYPE CMOS
    • CMOS有源像素的结构
    • WO2014064274A1
    • 2014-05-01
    • PCT/EP2013/072444
    • 2013-10-25
    • NEW IMAGING TECHNOLOGIES
    • NI, Yang
    • H01L27/146H04N5/355
    • H04N5/3742H01L27/14609H01L27/1461H01L27/14612H01L27/14636H01L27/14641H01L27/14643H04N5/355H04N5/3592H04N5/3594H04N5/3696
    • L'invention concerne une structure d'un pixel actif de type CMOS, comprenant un substrat semi-conducteur (1) d'un premier type, au moins une première photodiode opérant en mode photovoltaïque comprenant une zone de conversion photovoltaïque (2) définie par une zone dopée d'un second type formant une jonction PN avec le substrat, ladite première photodiode réémettant des porteurs de charge photoélectriques captées par la jonction PN lors de l'exposition de ladite première photodiode à un rayonnement, au moins une seconde photodiode opérant en mode intégration et polarisée en inverse, ladite seconde photodiode comprenant une zone d'accumulation de charge (3) définie par une zone dopée du second type formant une jonction PN avec le substrat, ladite zone d'accumulation de charge étant exposée aux porteurs de charge issus de la zone de conversion photovoltaïque (2) pour accumuler de tels porteurs de charge.
    • 本发明涉及CMOS有源像素的结构,其包括第一类型的半导体衬底(1),在光伏模式下操作的至少一个第一光电二极管,包括由第二类型的掺杂区域限定的光伏转换区域(2) 类型,与所述衬底形成PN结,所述第一光电二极管在所述第一光电二极管的曝光期间重新发射由PN结收集的光电荷载体,所述第一光电二极管在积分模式下工作并反向偏置的至少一个第二光电二极管,所述第二光电二极管 光电二极管包括由第二类型的掺杂区域限定的电荷累积区域(3),其形成与衬底的PN结,所述电荷积聚区域从光伏转换区域(2)暴露于电荷载流子,以便积累这种电荷 载体。
    • 10. 发明申请
    • METHOD FOR OPERATING A CMOS IMAGE SENSOR WITH INCREASED SENSITIVITY
    • 具有提高灵敏度的CMOS图像传感器的操作方法
    • WO02102057A3
    • 2003-04-03
    • PCT/EP0205981
    • 2002-05-31
    • ASULAB SAGRUPP JOACHIMJACQUET ESTELLEWUETHRICH CHRISTIANDOERING ELKO
    • GRUPP JOACHIMJACQUET ESTELLEWUETHRICH CHRISTIANDOERING ELKO
    • H04N3/15H01L27/146
    • H04N5/3745H04N5/3594
    • There is disclosed a method for operating a CMOS image sensor including a plurality of pixels (50)each of the pixels including a photo-sensor element (PD)producing charge carriers in proportion to its illumination and storage means (C1)capable of being coupledand uncoupled from the photo-sensor element at a determined instant in order to store, on a memory node (B) of the pixel, a measuring signal representative of the charge carriers produced by saidphoto-sensor element.Each pixel includes at least first MOS transistor (M2)connected via its source and drain terminals respectively to the photo-sensor element and to the storage means. At least during the pixel exposure step, an intermediate level voltage (V )is applied to the gate terminal of the first transistor, said intermediate voltage being selected so that the charge carriers produced by the photo-sensor element are entirely transferred via the first transistor onto the storage means.
    • 公开了一种用于操作CMOS图像传感器的方法,所述CMOS图像传感器包括多个像素(50),每个像素包括光电传感器元件(PD),所述光电传感器元件(PD)与其照明能够成比例的电荷载流子和能够耦合的存储装置(C1) 在确定的时刻从光传感器元件解耦,以便在像素的存储器节点(B)上存储表示由所述光电传感器元件产生的电荷载流子的测量信号。每个像素包括至少第一MOS晶体管 (M2)分别经由其源极和漏极端子连接到光电传感器元件和存储装置。 至少在像素曝光步骤期间,将中间电平电压(V )施加到第一晶体管的栅极端子,选择所述中间电压,使得由光电传感器元件产生的电荷载流子完全通过 第一晶体管到存储装置上。