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    • 1. 发明申请
    • 質量分析装置
    • 质谱仪
    • WO2015198721A1
    • 2015-12-30
    • PCT/JP2015/063411
    • 2015-05-11
    • 株式会社 日立ハイテクノロジーズ
    • 吉成 清美照井 康
    • H01J49/42
    • H01J49/063H01J49/065H01J49/10H01J49/42H01J49/4215H01J49/4255
    • 本発明の目的は、イオン輸送部(3)入り口、乃至は、入り口のイオン透過率を向上させて、高感度なマススペクトルを取得可能な質量分析装置を提供することである。 本発明では、上記課題を解決するため、イオン輸送部(3)入り口、乃至は、質量分析部(4)入り口に生成される、イオン損失の原因である電界歪みを軽減させるため、イオン輸送部(3)の各電極(14a、b)内接円半径(ri)が質量分析部(4)の各電極(13a、b)の内接円半径(rq)より大きくなるように配置し、また、質量分析部(4)の電極の入り口形状がテーパー形状である電極を備え、この手段により、イオン輸送部(3)入り口付近、及び、質量分析部(4)入り口付近にて、生成されていた電位ポテンシャルの急激な増減(ピーク状)分布、つまり、電極端部に生成される電界歪みが軽減されるため、イオン輸送部(3)入り口付近、及び、質量分析部(4)入り口付近のイオン透過率が大幅に向上し、高感度な質量分析が可能となる。
    • 本发明的目的是提供一种能够提高离子输送部(3)的入口与质谱部的入口的离子渗透率的质谱仪,并且获得高灵敏度 质谱。 为了解决上述问题,本发明提供电极,以便降低离子损失引起的电场畸变,并且在离子迁移部(3)的入口或质谱部的入口 如图4所示,电极被布置成使得离子传输部分(3)的电极(14a,b)内部的圆的半径(ri)大于内接在电极内的圆的半径(rq) (4)的电极的入口和具有锥形构造的质谱部分(4)的电极的入口。 这意味着减少离子输送部(3)的入口附近产生的电位的急剧波动(峰值)分布和质谱部(4)的入射。 即减小在电极端部发生的电场畸变。 因此,离子输送部(3)的入口附近和质谱部(4)的入口附近的离子渗透率大大提高,高灵敏度的质谱是可能的。
    • 2. 发明申请
    • MS/MS型質量分析方法及びMS/MS型質量分析装置
    • MS / MS型质谱法和MS / MS型质谱仪
    • WO2015193946A1
    • 2015-12-23
    • PCT/JP2014/065905
    • 2014-06-16
    • 株式会社島津製作所
    • 梅村 佳克
    • H01J49/42
    • H01J49/0054H01J49/0031H01J49/0036H01J49/0045H01J49/4215
    •  目的成分由来の多価イオンに対するMS/MS分析を行う際に分析者が、脱離断片の質量値m Loss と、脱離断片の価数z Loss 、プリカーサイオンの価数z Prec 、及びプロダクトイオンの価数z Prod のうちの少なくとも2つの値を入力部(20)より入力すると、価数算出部(221)はz Prec =z Prod +z Loss なる関係に基づき非入力の価数z Prec 又z Prod を算出する。MS/MS分析が開始されると、プリカーサイオンm/z設定部(222)は前段四重極マスフィルタ(13)を通過させるイオンのm/z=M Prec を設定し、通過プロダクトイオンm/z算出部(223)は、上記のM Prod 、m Loss 、z Prec 、z Prod を、M Prod =(M Prec ×z Prec -m Loss )/z Prod なる関係式に適用し、後段四重極マスフィルタ(16)を通過させるプロダクトイオンのm/z=M Prod を算出する。これにより、脱離断片が中性でない場合でも、質量がm Loss で価数がz Loss である特定の荷電断片が脱離するようなプリカーサイオンとプロダクトイオンとのペアを調べることができる。 
    • 在本发明中,当进行从目标成分得到的多价离子的MS / MS分析时,当分析仪经由输入单元(20)输入分离片段的质量值(mLoss)时,以及 化合价计算单元(221)基于分离的片段的价数(zLoss),前体离子的化合价(zPrec)和产物离子的化合价(zProd),计算非输入价(zprec或zProd) 关系zPrec = zProd + zLoss。 当MS / MS分析开始时,前体离子m / z设定单元(222)设定通过初始四极杆质量过滤器(13)的离子的m / z = MPrec,通过产物离子m / z计算单元 (223)将MProd,mLoss zPrec和zProd应用于关系式MProd =(MPrec×zPrec-mLoss)/ zProd,并计算通过初始四极杆质量过滤器(16)的乘积离子的m / z = MProd。 结果,即使分离的片段不是中性的,也可以研究成对的前体离子和产物离子,导致具有质量为mLoss的特定带电片段和zLoss分离的化合价。
    • 8. 发明申请
    • 三連四重極型質量分析装置
    • 三重四方式质谱仪
    • WO2013001604A1
    • 2013-01-03
    • PCT/JP2011/064799
    • 2011-06-28
    • 株式会社島津製作所下村 学
    • 下村 学
    • H01J49/06G01N27/62H01J49/42
    • H01J49/0045H01J49/005H01J49/067H01J49/10H01J49/4215
    •  イオン源(11)、第1イオンレンズ(12)、前段四重極マスフィルタ(13)の直線状のイオン光軸(C1)と、コリジョンセル(14)内のイオンガイド(15)、後段四重極マスフィルタ(18)の直線状のイオン光軸(C2)とが、前段四重極マスフィルタとコリジョンセルとの間の空間で所定角度を以て斜めに交差するように、各素子を配置する。イオン源で発生した準安定状態のHe分子(He*)は前段四重極マスフィルタを通過してもコリジョンセルの出口には達せず除去される。一方、前段四重極マスフィルタを通過したプリカーサイオンは入口側イオンレンズ(16)により形成される直流電場の作用によって折れ線状のイオン光軸に沿うように曲げられ、効率良くコリジョンセルに導入される。特殊な形状や構造のイオン光学素子を用いることなく、ノイズの原因となるHe*を確実に除去することができる。
    • 离子源(11),第一离子透镜(12),前级四极质量过滤器(13)的线性离子光轴(C1),碰撞室(14)中的离子引导件(15) 后级四极质量过滤器(18)的线性离子光轴(C2)布置在前级四极杆质量过滤器和碰撞室之间的空间中,使得这些元件以预定角度倾斜地相交。 即使由离子源产生的准稳定的He分子(He *)通过前级四极杆质量过滤器,所述分子被除去而不到达碰撞池的出口。 相反,通过前级四极质量过滤器的前体离子通过由入口侧离子透镜(16)形成的DC电场的作用沿着折线离子光轴弯曲,因此被有效地引入 进入碰撞池。 因此,构成噪声源的He *可以在不使用特殊形状或结构的离子光学元件的情况下被可靠地去除。
    • 9. 发明申请
    • 四重極型質量分析装置
    • QUADRUPOLAR质量分析装置
    • WO2011125218A1
    • 2011-10-13
    • PCT/JP2010/056432
    • 2010-04-09
    • 株式会社島津製作所水谷 司朗
    • 水谷 司朗
    • H01J49/42
    • H01J49/28H01J49/022H01J49/4215
    • 本発明の四重極型質量分析装置は、直流電圧の応答時間が、四重極マスフィルタ(2)に導入されるイオンのうち質量電荷比が最大であるイオンが該フィルタ(2)を通り抜けるのに要する所要時間よりも短くなるような応答特性を有する直流電圧源(62、63)を備え、主ロッド電極(31-34)とプリロッド電極(41-44)とは一次微分回路(65、66)を介して接続されている。 これにより、質量電荷比の切替えに伴う電圧変化の過渡状態において、四重極マスフィルタ(2)に入射して来るイオンのうち、低m/z のイオンをプリ電極部(4)で排除し、高m/z のイオンを主電極部(3)で排除することができるので、多量のイオンが該フィルタ(2)を通り抜けてイオン検出器(5)に入射することを防止することが可能になった。
    • 公开了一种具有响应特性的直流电压源(62,63)的四极质量分析装置,其中直流电压的响应时间比具有最大质荷比的离子所需的时间短 引入四极体质量过滤器(2)的离子通过四极质量过滤器(2)。 主杆电极(31-34)和前杆电极(41-44)通过一次微分电路(65,66)连接。 因此,在与质荷比的变化相关的电压变化的瞬态中,在进入四极质量过滤器(2)的离子中,可以在前电极部(4)中消除具有低m / z的离子 ),并且可以在主电极部分(3)中消除具有高m / z的离子。 因此,可以防止大量离子通过四极质量过滤器(2)并进入离子检测器(5)。