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2. 发明申请

WO2018069431A1 TEST ELEMENT ANALYSIS SYSTEM FOR THE ANALYTICAL EXAMINATION OF A SAMPLE 审中-公开
标题翻译：样品分析检测的试验元素分析系统
公开(公告)号：WO2018069431A1
公开(公告)日：2018-04-19
申请号：PCT/EP2017/076030
申请日：2017-10-12
申请人： ROCHE DIAGNOSTICS GMBH , F. HOFFMANN-LA ROCHE AG , ROCHE DIAGNOSTICS OPERATIONS, INC.
发明人： FISCHHEITER, Lars , STEIN, Reiner , GOEBEL, Martin
IPC分类号： G01N21/77 , G01N21/78 , G01N33/487 , G01N21/84 , G02B21/24
摘要： A test element analysis system (110) for the analytical examination of a sample and a method for analytical examination of a sample is disclosed. The test element analysis system (110) comprises a measurement device (112), the measurement device (112) comprising a test element receptacle (114) for receiving at least one test element (116) at least partially, wherein the test element receptacle (114) comprises at least one first part (118) and at least one second part (120), wherein the first part (118) comprises at least one support surface (144) for placement of the test element (116), wherein the second part (120) comprises at least one optical detector (128) for detecting at least one detection reaction of at least one test chemical (154) contained in the test element (116), wherein the second part (120) is movable relative to the first part (118), wherein the test element receptacle (114) is configured to position the second part (120) in at least one position such that a test element (116) may be inserted into the test element receptacle (114) and to subsequently position the second part (120) in a closed position (182) such that at least one abutment surface (184) of the second part (120) rests on the test element (116).
摘要翻译：公开了用于样本分析检查的测试元件分析系统（110）和用于样本分析检查的方法。测试元件分析系统（110）包括测量装置（112），测量装置（112）包括用于至少部分地容纳至少一个测试元件（116）的测试元件容器（114），其中测试元件容器 114）包括至少一个第一部分（118）和至少一个第二部分（120），其中所述第一部分（118）包括用于放置所述测试元件（116）的至少一个支撑表面（144），其中所述第二部分（120）包括至少一个用于检测包含在所述测试元件（116）中的至少一种测试化学物质（154）的至少一个检测反应的光学检测器（128），其中所述第二部分（120）可相对于所述测试元件第一部分（118），其中测试元件容器（114）构造成将第二部分（120）定位在至少一个位置中，使得测试元件（116）可以插入到测试元件容器（114）中并且随后将第二部分（120）定位在关闭位置（182） h第二部分（120）的至少一个邻接表面（184）搁置在测试元件（116）上。

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