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1. 发明申请

WO2008111351A1 全反射テラヘルツ波測定装置审中-公开
标题翻译：总反射TERA HERTZ波形测量装置
公开(公告)号：WO2008111351A1
公开(公告)日：2008-09-18
申请号：PCT/JP2008/052336
申请日：2008-02-13
申请人：浜松ホトニクス株式会社 , 安田敬史 , 河田陽一 , 高橋宏典 , 青島紳一郎
发明人：安田敬史 , 河田陽一 , 高橋宏典 , 青島紳一郎
IPC分类号： G01N21/35
CPC分类号： G01N21/3581 , G01N21/552
摘要：全反射テラヘルツ波測定装置１は、テラヘルツ波を用いて全反射測定法により測定対象物Ｓの情報を取得するものであって、光源１１、分岐部１２、チョッパ１３、光路長差調整部１４、偏光子１５、ビームスプリッタ１７、テラヘルツ波発生素子２０、内部全反射プリズム３１、テラヘルツ波検出素子４０、１／４波長板５１、偏光分離素子５２、光検出器５３Ａ、光検出器５３Ｂ、差動増幅器５４およびロックイン増幅器５５を備える。内部全反射プリズム３１は、いわゆる無収差プリズムであって、入射面３１ａ，出射面３１ｂおよび反射面３１ｃを有する。内部全反射プリズム３１の入射面３１ａにテラヘルツ波発生素子２０が一体に設けられ、内部全反射プリズム３１の出射面３１ｂにテラヘルツ波検出素子４０が一体に設けられている。
摘要翻译：一种全反射测量装置（1），用于通过使用赫兹波的全反射测量方法获取关于测量对象（S）的信息，包括光源（11），分支部分（12），斩波器 13），光路长度调节部分（14），偏振器（15），分束器（17），赫赫波发生元件（20），内部全反射棱镜（31），赫兹波检测元件（40），四分之一波长板（51），偏振分离元件（52），光电检测器（53A），光电检测器（53B），差分放大器（54）和锁定放大器（55）。内部全反射棱镜（31）是具有入射面（31a），出射面（31b）和反射面（31c）的所谓的柱状棱镜。一体地设置在内部全反射棱镜（31）的入射面（31a）上的天线赫兹波发生元件（20），并且将赫赫波检测元件（40）一体地设置在内部全反射棱镜（31）的出射面内部全反射棱镜（31）。

2. 发明申请

WO2008044424A1 単発テラヘルツ波時間波形計測装置审中-公开
标题翻译：单TERAHERTZ波形时间波形测量装置
公开(公告)号：WO2008044424A1
公开(公告)日：2008-04-17
申请号：PCT/JP2007/067843
申请日：2007-09-13
申请人：浜松ホトニクス株式会社 , 河田陽一 , 安田敬史 , 高橋宏典 , 青島紳一郎
发明人：河田陽一 , 安田敬史 , 高橋宏典 , 青島紳一郎
IPC分类号： G01N21/35
CPC分类号： G01N21/35 , G01N21/23 , G01N21/3581
摘要：単発テラヘルツ波時間波形計測装置１は、テラヘルツ波を用いて測定対象物９の情報を取得するものであって、光源１１、ビーム径調整部１２、分岐部１３、テラヘルツ波発生部２１、光路長差調整部３１、パルス面傾斜部３２、偏光子３３、合波部４１、電気光学結晶４２、検光子４３および光検出器４４を備える。テラヘルツ波発生部２１は、ポンプ光を入力することでパルステラヘルツ波を発生し出力する。パルス面傾斜部３２は、プローブ光のパルス面を傾斜させて、電気光学結晶４２に入力される際のテラヘルツ波およびプローブ光それぞれのパルス面を互いに非平行とする。
摘要翻译：一种用于通过使用太赫波来获取关于被测量物体（9）的信息的单个太赫兹波时间波形测量装置（1）。装置（1）包括光源（11），光束直径调节部分（12），分支部分（13），太赫兹波发生部分（21），光程长度差调节部分（31）脉冲平面倾斜部分（32），偏振器（33），复用部分（41），电光晶体（42），分析器（43）和光学传感器（44）。太赫兹波产生部分（21）在接收泵浦光时产生并输出脉冲太赫兹波。当太赫兹波和探针光被输入到电光晶体（42）中时，脉冲平面倾斜部分（32）倾斜探测光的脉冲平面并使太赫兹波和探测光的脉冲平面不平行。

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