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1. 发明申请

WO2004031784A1 ジッタ測定装置及びジッタ測定方法审中-公开
标题翻译：抖动测量装置和抖动测量方法
公开(公告)号：WO2004031784A1
公开(公告)日：2004-04-15
申请号：PCT/JP2003/012092
申请日：2003-09-22
申请人：株式会社アドバンテスト , 山口隆弘 , 石田雅裕 , ソーママニ , 一山清隆
发明人：山口隆弘 , 石田雅裕 , ソーママニ , 一山清隆
IPC分类号： G01R29/02
CPC分类号： H04L1/205 , H04B7/01
摘要：　被測定信号のジッタを測定するジッタ測定装置は、被測定信号を予め定められた遅延時間遅延させた遅延信号を発生する遅延回路と、被測定信号及び遅延信号の瞬時位相誤差を検出する位相検出器とを備える。
摘要翻译：一种用于测量要测量的信号的抖动的装置包括延迟电路，其通过延迟预定延迟时间的待测信号来产生延迟信号;以及相位检测器，用于确定待测信号的瞬时相位误差，延迟信号的。

2. 发明申请

WO2002103377A1 ジッタ測定装置、及びジッタ測定方法审中-公开
标题翻译：抖动测量装置和抖动测量方法
公开(公告)号：WO2002103377A1
公开(公告)日：2002-12-27
申请号：PCT/JP2002/005968
申请日：2002-06-14
申请人：株式会社アドバンテスト , 石田雅裕 , 山口隆弘 , ソーママニ
发明人：石田雅裕 , 山口隆弘 , ソーママニ
IPC分类号： G01R29/02
CPC分类号： G01R31/31709 , G01R29/26
摘要： A jitter measuring apparatus for measuring jitter of a discrete signal to be measured. The apparatus includes a phase error estimating device for calculating phase errors between a plurality of sample points satisfying a predetermined condition and a plurality of points where the signal to be measured has a predetermined value or a plurality of points among the discrete sample points of the signal to be measured and having a predetermined value, thereby generating a phase error sequence, and a cycle jitter estimating device for calculating a cycle jitter sequence of the signal to be measured according to the phase error sequence. For example, the phase error estimating device calculates phase errors between a plurality of approximate zero cross points satisfying a predetermined condition and a plurality of zero cross points in the signal to be measured or a plurality of zero cross points among the sample points, thereby generating a phase error sequence.
摘要翻译：用于测量要测量的离散信号的抖动的抖动测量装置。该装置包括：相位误差估计装置，用于计算满足预定条件的多个采样点与要测量的信号的多个点之间的相位误差相对于信号的离散采样点中的预定值或多个点被测量并具有预定值，从而产生相位误差序列，以及循环抖动估计装置，用于根据相位误差序列计算要测量的信号的周期抖动序列。例如，相位误差估计装置计算满足预定条件的多个近似零交叉点与待测信号中的多个零交叉点或采样点之间的多个零交叉点之间的相位误差，从而生成相位误差序列。

3. 发明申请

WO2007049365A1 試験装置、クロック発生装置、及び電子デバイス审中-公开
标题翻译：测试装置，时钟产生装置和电子装置
公开(公告)号：WO2007049365A1
公开(公告)日：2007-05-03
申请号：PCT/JP2005/024025
申请日：2005-12-28
申请人：株式会社アドバンテスト , 石田雅裕 , 山口隆弘 , ソーママニ
发明人：石田雅裕 , 山口隆弘 , ソーママニ
IPC分类号： H03K5/156
CPC分类号： H03K5/13 , G01R31/31709 , H03L7/0812 , H03L7/0891 , H03L7/0995 , H03L7/16
摘要：　ジッタを印加したシングルフェーズクロックを生成するクロック発生装置であって、それぞれが略等しい位相差を有する複数のクロック信号を生成するマルチフェーズクロック発生部と、それぞれのクロック信号にジッタを印加するジッタ印加部とを備えるクロック発生装置を提供する。
摘要翻译：提供了一种用于产生施加抖动的单相时钟的时钟产生装置。时钟发生装置具有分别产生具有大致相等的相位差的多个时钟信号的多相时钟产生部分和用于对每个时钟信号施加抖动的抖动施加部分。

4. 发明申请

WO2003093846A1 測定装置、及び測定方法审中-公开
标题翻译：测量装置和测量方法
公开(公告)号：WO2003093846A1
公开(公告)日：2003-11-13
申请号：PCT/JP2003/005226
申请日：2003-04-24
申请人：株式会社アドバンテスト , 山口隆弘 , 石田雅裕 , 武者博文 , ソーママニ
发明人：山口隆弘 , 石田雅裕 , 武者博文 , ソーママニ
IPC分类号： G01R31/30
CPC分类号： G01R31/31709 , G01R29/26
摘要：　電子回路における、第１信号の第１タイミングジッタ系列と、第２信号の第２タイミングジッタ系列を算出するタイミングジッタ算出部と、第１タイミングジッタ系列及び第２タイミングジッタ系列の周波数成分に基づいて、第１信号と第２信号との間のジッタ伝達関数を算出するジッタ伝達関数推定部とを備えることを特徴とする測定装置を提供する。ジッタ伝達関数推定部は、第１タイミングジッタ系列及び第２タイミングジッタ系列において周波数が略等しいタイミングジッタの周波数成分の複数の組み合わせに対し、タイミングジッタの周波数成分の比に基づいて、前記ジッタ伝達関数を算出する。
摘要翻译：测量装置包括用于计算电子电路中的第一信号第一定时抖动序列和第二信号第二定时抖动序列的定时抖动计算单元和用于计算第一信号和第二信号之间的抖动传递函数的抖动传递函数估计单元信号根据第一定时抖动序列和第二定时抖动序列的频率分量。抖动传递函数估计单元根据第一定时抖动序列和第二定时抖动序列中具有基本上相等频率的定时抖动的频率分量的多个组合的定时抖动频率分量比来计算抖动传递函数。

5. 发明申请

WO2003073115A1 測定装置、及び測定方法审中-公开
标题翻译：测量仪器和测量方法
公开(公告)号：WO2003073115A1
公开(公告)日：2003-09-04
申请号：PCT/JP2003/001523
申请日：2003-02-14
申请人：株式会社アドバンテスト , 山口隆弘 , 石田雅裕 , ソーママニ
发明人：山口隆弘 , 石田雅裕 , ソーママニ
IPC分类号： G01R31/30
CPC分类号： G01R31/31709 , G01R29/02 , G01R29/0273 , G01R29/26 , G01R31/31922 , G01R31/31937 , H04L1/203 , H04L1/205
摘要： An instrument for measuring the anti-jitter reliability of an electronic device is characterized by comprising a jitter resistance estimating section for calculating the jitter tolerance of an electronic device on the basis of an output signal outputted from the electronic device in response to an input signal inputted via a transmission line which generates no definite jitter and has a transmission length shorter than a predetermined length, a jitter resistance degradation estimating section for calculating the degradation of a jitter resistance degraded by the definite jitter generated in an input signal by transmission via a long transmission line when the input signal is inputted to the electronic device via the long transmission line which generates a determined jitter and has a transmission length longer than the predetermined length, and a system jitter resistance estimating section for calculating the jitter resistance of a system including the long transmission line and the electronic device on the basis of the jitter resistance of the electronic device and the degradation of the jitter resistance.
摘要翻译：一种用于测量电子设备的抗抖动可靠性的仪器的特征在于包括抖动电阻估计部分，用于根据输入的输入信号，根据从电子设备输出的输出信号计算电子设备的抖动容限通过不产生确定的抖动并且具有短于预定长度的传输长度的传输线，抖动电阻劣化估计部分，用于计算通过长时间传输通过传输在输入信号中产生的确定的抖动而劣化的抖动电阻的劣化当输入信号通过产生确定的抖动并具有长于预定长度的传输长度的长传输线被输入到电子设备时，系统抖动电阻估计部分用于计算包括长度的系统的抖动电阻传输线和E1 电子设备基于电子设备的抖动电阻和抖动电阻的劣化。

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