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    • 1. 发明申请
    • ポリシラザン含有コーティング膜の親水性促進剤及び親水性維持剤
    • 含有聚氨酯涂层膜的加氢加氢和疏水性保护剂
    • WO2003097760A1
    • 2003-11-27
    • PCT/JP2003/005945
    • 2003-05-13
    • クラリアント インターナショナル リミテッド鈴木 直原 宏舟山 徹竹内 秀夫
    • 鈴木 直原 宏舟山 徹竹内 秀夫
    • C09K3/00
    • C08J7/047C08J7/12C08J2383/16C08J2483/02
    •  アニオン性界面活性剤5~25重量%、両性界面活性剤0.5~20重量%、非イオン性界面活性剤4~6重量%、及び必要に応じ防腐剤を含有し、有機酸でpHが4.5~7.0に調整された水溶液を作製し、この水溶液が、ポリシラザン含有コーティング膜用親水性促進及び維持剤原液とされる。この原液は、水で3~15倍に希釈されて親水性促進剤とされ、また30~70倍に希釈されて親水性維持剤とされる。親水性促進剤は、ポリシラザン及び必要に応じ用いられるシリカ転化触媒を含有するコーティング液を基体に塗布することにより形成された防汚塗膜上に塗布され、これにより該塗膜は短時間で親水化される。また親水性維持剤は、前記塗膜に付着した汚れを取り、膜の親水性を維持するための液として用いられる。
    • 由含有5〜25重量%的阴离子表面活性剂的水溶液,0.5〜20重量%的两性表面活性剂,4〜6重量份的含聚硅氮烷的涂膜的亲水促进或亲水保持剂的储液 重量%的非离子表面活性剂,以及必要时的防腐剂,其pH值用有机酸调节至4.5至7.0。 通过将原料溶液用3〜15倍的水稀释来制备亲水促进剂,通过将水稀释30至70倍来制备亲水保持剂。 将亲水化促进剂涂布在通过在基材上涂布含有聚硅氮烷的涂布液和必要时转化为二氧化硅的催化剂而形成的防污涂膜,由此防污涂膜在短时间内被加氢。 此外,使用亲水保持剂作为除去附着在防污涂膜上的污渍并保持膜的亲水性的流体。
    • 2. 发明申请
    • 検品システムおよび方法、検品可能な物品、並びに横流し予防補助システム
    • 商品检验系统和方法,可以检查的商品和非法出售预防援助系统
    • WO2005088860A1
    • 2005-09-22
    • PCT/JP2004/017412
    • 2004-11-24
    • 東洋紡績株式会社竹内 秀夫積木 眞澄井川 公人田中 眞知子一柳 隆治
    • 竹内 秀夫積木 眞澄井川 公人田中 眞知子一柳 隆治
    • H04B5/02
    • D06H3/00D06H1/04
    •  検品システム2は、真正品に強磁性体17を予め取り付けておき、該強磁性体の磁気特性を検出することにより検品対象品が真正品か否かを判定する。システムは、検品対象品8に対し所定の周波数で変化する磁界を印加する励磁コイル4と、磁界変化による磁束密度の変化を検出する検出コイル6と、磁束密度変化に対応する周波数スペクトルを取得するFFT演算部20と、取得された周波数スペクトルに基づいて検品対象品が真正品か否かを判定する判定部22と、を備える。強磁性体はその保磁力を越える磁界が印加された際に急峻な磁化反転を生じる。この強磁性体は一般的な強磁性体等と異なり、低い周波数で変化する磁界に対し磁束密度の変化に対応する周波数スペクトルが振幅の大きな高周波成分を有する。このため、検品対象品が真正品か否かを容易に判定できる。
    • 商品检验系统(2)预先将铁磁体(17)连接到真正的商品,并检测铁磁体的磁特性,以便判断检查对象是否是正品。 该系统包括:用于将预定频率变化的磁场施加到检查对象(8)的励磁线圈(4); 用于检测由磁场变化引起的磁通密度变化的检测线圈(6); 用于获取与磁通密度变化相对应的频谱的FFT计算单元(20); 以及判断单元(22),用于根据所获取的频谱来判断检查对象是否是正品。 当施加超过其矫顽力的磁场时,铁磁体引起陡峭的磁化反转。 与普通铁磁体不同,在这种铁磁体中,与由低频变化的磁场引起的磁通密度的变化相对应的频谱具有大振幅的高频分量。 因此,可以容易地判断检验用品是真品。
    • 5. 发明申请
    • DC試験装置及び半導体試験装置
    • 直流测试仪器和半导体测试仪器
    • WO2004081949A1
    • 2004-09-23
    • PCT/JP2001/007374
    • 2001-08-28
    • 竹内 秀夫
    • 竹内 秀夫
    • G11C29/00
    • G11C29/56G11C2029/5004G11C2029/5606
    • A DC test instrument comprises a sequencer (11) which, on receiving an AD start signal, outputs a start signal, a timing signal, a write signal, and a clock signal sequentially, an ADC (12), on receiving the start signal, measures the output of a device (3) under test to which a test pattern is inputted, an arithmetic and logic unit (13) which, on receiving the timing signal, outputs the output voltage value of the ADC and outputs the result of comparison of the output voltage value with an expectation as a pass/fail signal to a pattern generator, and address counter (14) which, on receiving the clock signal, updates the address value to be outputted, and a history memory (15), on receiving the write signal, stores the measurand in the address. Thus, the output voltage value from a device under test with respect to a test pattern for every AD start can be measured.
    • DC测试仪器包括定序器(11),其在接收到AD起始信号时顺序地输出起始信号,定时信号,写入信号和时钟信号,ADC(12)在接收到起始信号时, 测量输入测试图案的被测设备(3)的输出,算术和逻辑单元(13),其在接收到定时信号时输出ADC的输出电压值并输出比较结果 具有期望作为通过/失败信号的输出电压值到模式发生器,以及地址计数器(14),其在接收到时钟信号时更新要输出的地址值,以及历史存储器(15),在接收时 写入信号,将被测量存储在地址中。 因此,可以测量来自被测器件相对于每个AD启动的测试模式的输出电压值。