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1. 发明申请

WO2003019210A1 検査装置用センサ及び検査装置审中-公开
标题翻译：检验仪器和检验仪器传感器
公开(公告)号：WO2003019210A1
公开(公告)日：2003-03-06
申请号：PCT/JP2002/008599
申请日：2002-08-27
申请人：オー・エイチ・ティー株式会社 , 藤井達久 , 門田和浩 , 笠井幹也 , 石岡聖悟 , 山岡秀嗣
发明人：藤井達久 , 門田和浩 , 笠井幹也 , 石岡聖悟 , 山岡秀嗣
IPC分类号： G01R31/02
CPC分类号： G01R31/312
摘要： A sensor for an inspection instrument for minutely inspecting the shape of a conductor pattern. A sensor element (12a) comprises a MOSFET and an aluminum electrode (AL) as a passive element (80). The aluminum electrode (80), i.e., the passive element (80) is connected to the gate of a MOSFET (81) and the source of a MOSFET (82). A voltage VDD from a power supply circuit part (18) is applied to the drain of the MOSFET (81). The source of the MOSFET (81) is connected to the drain of a MOSFET (83). A reset signal from a column selecting part (14) is inputted to the gate of the MOSFET (82). The voltage VDD from the power supply circuit part (18) is applied to the drain of the MOSFET (82). A selection signal from the column selection part (14) is inputted into the gate of the MOSFET (83), and the output from the source of the MOSFET (83) is inputted into the row selection part (13). An inspection instrument using such a sensor is also disclosed.
摘要翻译：用于检查导体图形形状的检查仪的传感器。传感器元件（12a）包括MOSFET和作为无源元件（80）的铝电极（AL）。铝电极（80）即无源元件（80）连接到MOSFET（81）的栅极和MOSFET（82）的源极。来自电源电路部分（18）的电压VDD被施加到MOSFET（81）的漏极。 MOSFET（81）的源极连接到MOSFET（83）的漏极。来自列选择部分（14）的复位信号被输入到MOSFET（82）的栅极。来自电源电路部分（18）的电压VDD被施加到MOSFET（82）的漏极。来自列选择部分（14）的选择信号被输入到MOSFET（83）的栅极中，并且来自MOSFET（83）的源极的输出被输入到行选择部分（13）。还公开了使用这种传感器的检验仪器。

2. 发明申请

WO2003019209A1 回路配線検査装置並びに回路配線検査方法审中-公开
标题翻译：电路接线检查仪器和电路接线检查方法
公开(公告)号：WO2003019209A1
公开(公告)日：2003-03-06
申请号：PCT/JP2002/008598
申请日：2002-08-27
申请人：オー・エイチ・ティー株式会社 , 藤井達久 , 門田和浩 , 笠井幹也 , 石岡聖悟 , 山岡秀嗣
发明人：藤井達久 , 門田和浩 , 笠井幹也 , 石岡聖悟 , 山岡秀嗣
IPC分类号： G01R31/02
CPC分类号： G01R31/311 , G01R31/2805 , G01R31/309
摘要： A circuit wiring inspecting instrument for inspecting the state of a circuit wiring readily and reliably with a simple structure. An inspecting system 20 supplies an inspection signal to a circuit wiring on a circuit substrate S141, determines a variation of the potential at a specific portion of the circuit wiring in response to the supplied inspection signal by means of sensor elements S142, creates image data representing the shape of the circuit wiring S151 and later if the result of the determination is out of a predetermined range S143-N, and does not create image data representing the shape of the circuit wiring if the result of the determination is in the predetermined range S143-Y.
摘要翻译：一种用简单结构容易可靠地检查电路布线状态的电路布线检测仪。检查系统20向电路基板S141的电路布线提供检查信号，根据所提供的检测信号，通过传感器元件S142确定电路布线的特定部分的电位的变化，生成表示如果确定结果超出预定范围S143-N，则电路布线S151及更高版本的形状，如果确定结果在预定范围S143中，则不产生表示电路布线形状的图像数据 -Y。

3. 发明申请

WO2003027688A1 検査装置並び検査方法审中-公开
标题翻译：测试和测试方法
公开(公告)号：WO2003027688A1
公开(公告)日：2003-04-03
申请号：PCT/JP2002/009545
申请日：2002-09-18
申请人：オー・エイチ・ティー株式会社 , 藤井達久 , 門田和浩 , 笠井幹也 , 石岡聖悟 , 山岡秀嗣
发明人：藤井達久 , 門田和浩 , 笠井幹也 , 石岡聖悟 , 山岡秀嗣
IPC分类号： G01R31/02
CPC分类号： G01R31/312 , G01R31/2834
摘要： A circuit wiring tester for detecting the situation of a circuit wiring with a simple constitution accurately and easily. A testing system 20 fetches image data on all the circuit wirings of a standard circuit pattern before an actual board test to register the data as a standard circuit pattern target data FIG. 14, compares a detection result of an actual test target circuit wiring with the target data by the method of least square S167, judges the condition of the test target circuit wiring by determining their correlation value S168, and displays the comparison result on a display 21a so that the part of difference from the target data as the comparison result may be recognized S169.
摘要翻译：一种用于以简单的结构准确且容易地检测电路布线情况的电路布线测试器。测试系统20在实际板测试之前，将标准电路图案的所有电路布线上的图像数据读取，以将数据注册为标准电路图案目标数据。如图14所示，通过最小二乘法S167的方法将实际测试目标电路布线的检测结果与目标数据进行比较，通过确定测试对象电路布线的相关值S168来判断测试目标电路布线的状态，并将比较结果显示在显示器21a上使得与目标数据的差异部分作为比较结果可以被识别S169。

4. 发明申请

WO2003027687A1 検査装置並びに検査方法审中-公开
标题翻译：测试和测试方法
公开(公告)号：WO2003027687A1
公开(公告)日：2003-04-03
申请号：PCT/JP2002/009544
申请日：2002-09-18
申请人：オー・エイチ・ティー株式会社 , 藤井達久 , 門田和浩 , 笠井幹也 , 石岡聖悟 , 山岡秀嗣
发明人：藤井達久 , 門田和浩 , 笠井幹也 , 石岡聖悟 , 山岡秀嗣
IPC分类号： G01R31/02
CPC分类号： G01R1/07385
摘要： A circuit wiring tester for checking the situation of a circuit wiring securely and accurately. A testing system (20) supplies a testing signal to a circuit wiring on a circuit board (S141), tests a change in potential at a specified part on the circuit wiring which corresponds to the supplied testing signal by means of sensor elements (S142), generates (S151 and after) image data for representing the shape of the circuit wiring, and compares the circuit wiring shape with a registered standard shape (S167), and checks the situation of the circuit wiring (S168/9)
摘要翻译：一种电路布线测试仪，用于牢固准确地检查电路布线的情况。测试系统（20）向电路板上的电路布线提供测试信号（S141），通过传感器元件测试与提供的测试信号相对应的电路布线上的指定部分的电位变化（S142）生成用于表示电路布线的形状的图像数据（S151及以后），并将电路布线形状与登记的标准形状进行比较（S167），并且检查电路布线的情况（S168 / 9）

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