会员体验
专利管家(专利管理)
工作空间(专利管理)
风险监控(情报监控)
数据分析(专利分析)
侵权分析(诉讼无效)
联系我们
交流群
官方交流:
QQ群: 891211   
微信请扫码    >>>
现在联系顾问~
热词
    • 2. 发明申请
    • DISPOSITIF ET PROCEDE DE MESURE D'UN ECHANTILLON PAR SPECTROSCOPIE PAR CORRELATION
    • 通过相关光谱测量样品的装置和方法
    • WO2003010523A1
    • 2003-02-06
    • PCT/FR2002/002696
    • 2002-07-26
    • CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE (CNRS)RIGNEAULT, HervéLENNE, Pierre-François
    • RIGNEAULT, HervéLENNE, Pierre-François
    • G01N21/64
    • G01N21/6458G01J3/4406G01J3/457G01N15/0211G01N21/6408G02B21/0056G02B21/0076
    • L'invention concerne un dispositif et un procédé de mesure d'un échantillon (2) par spectroscopie par corrélation. Le dispositif comprend un microscope confocal (1) comportant un système optique de focalisation (4) dont le champ (7) définit un volume de collection (9). Une source de lumière (10) produit un faisceau d'excitation (8) qui est envoyé vers des moyens (11) aptes à le diriger sur l'échantillon (2) au travers du microscope. Le dispositif de mesure comporte également des moyens de détection (14) de l'intensité du flux lumineux (13) produit par l'interaction du faisceau d'excitation (8) sur l'échantillon (2) et collecté par le microscope et des moyens de traitement (15) du signal produit par lesdits moyens de détection (14). Une structure photonique (24) augmentant le flux lumineux (13) collecté, est placée au foyer (7) du système optique de focalisation (4) du microscope ou conjuguée de ce foyer (7) par un élément optique (29), pour former des franges d'interférence (25) dans le volume de collection (9).
    • 本发明涉及通过相关光谱测量样品(2)的装置和方法。 该装置包括共聚焦显微镜(1),其包括聚焦光学系统(4),其中场(7)限定收集容积(9)。 光源(10)产生激发光束(8),其被反射到装置(11),用于通过显微镜将其引导到样品(2)上。 测量装置还包括用于检测(14)通过样品上的激发束(8)与显微镜收集的相互作用产生的光通量(13)的强度的装置,以及用于处理(15)由 检测装置(14)。 增加收集的光通量(13)的光子结构(24)被布置在显微镜聚焦光学系统(4)的焦点(7)处或通过光学元件(29)与所述焦点(7)组合以形成 收集容积(9)中的干涉条带(25)。