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    • 1. 发明申请
    • POSITIONSERFASSUNGSVORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUR HERSTELLUNG EINER MARKIERUNGSANORDNUNG FÜR EINE POSITIONSERFASSUNGSVORRICHTUNG
    • 位置检测装置及其制造方法标记安排的位置检测装置
    • WO2011131232A1
    • 2011-10-27
    • PCT/EP2010/055220
    • 2010-04-20
    • HAMILTON BONADUZ AGKIRSTE, VinzenzKÖPPEL, Gian, Claudio
    • KIRSTE, VinzenzKÖPPEL, Gian, Claudio
    • G01D5/245G01D5/249G01D5/347
    • G01B7/003G01D5/2455G01D5/2492G01D5/34792Y10T29/49764
    • Die vorliegende Erfindung stellt eine Positionserfassungsvorrichtung zur Erfassung einer Positionsbeziehung zwischen einem ersten Bauteil (10) und einem zweiten Bauteil (12) bereit, umfassend eine Markierungsanordnung (14), welche an dem ersten Bauteil (10) vorgesehen ist und eine Absolutspur (18) sowie eine Inkrementalspur (20) aufweist, wobei die Absolutspur eine Mehrzahl von Absolutmarkierungen (22) aufweist, aus denen eine binäre Absolutcodesequenz (B) auslesbar ist, und wobei die Inkrementalspur (20) eine Mehrzahl von den Absolutmarkierungen (22) zugeordneten Inkrementalmarkierungen (24) aufweist, aus denen eine alternierende Inkrementalsequenz (I) auslesbar ist, und eine Sensoranordnung (16), welche an dem zweiten Bauteil (12) vorgesehen ist und dafür eingerichtet ist, die Absolutmarkierungen (22) und die Inkrementalmarkierungen (24; 24) abzutasten, wobei die Absolutcodesequenz (B) aus einer ersten und einer zweiten De-Bruijn-Sequenz (B1, B2) der Ordnung N gebildet ist, welche aufeinander folgen, wobei die zweite De-Bruijn-Sequenz (B2) eine zyklische Verschiebung der ersten De-Bruijn-Sequenz (B1) ist, und wobei die erste De-Bruijn-Sequenz (B1) mit einer ersten Untersequenz (Ua) der Länge N-1 endet und eine zur ersten Untersequenz (Ua) identische, zweite Untersequenz (Ub) der Länge N-1 enthält, welche zur ersten Untersequenz (Ua) um eine ungerade Stellenanzahl versetzt ist, und wobei die zweite De- Bruijn-Sequenz (B2) gegenüber der ersten De-Bruijn-Sequenz (B1) zyklisch so verschoben ist, dass sie mit der zweiten Untersequenz (Ub) endet.
    • 本发明提供了其上设置有第一部件(10)和绝对轨道(18)上,并且一个位置用于检测第一部件(10),并且包括标签阵列(14)的第二部件(12)之间的位置关系检测装置 具有增量轨道(20),其中,所述绝对轨道包括多个从该一个二进制的绝对码序列(B)被读出的绝对标记(22)的,并且其中,所述增量轨道(20)相关联的多个绝对标记(22)增量标记(24) 具有从其中的交变Inkrementalsequenz(I)可被读取,并且被设置在第二部件(12)上,并适于将所述绝对标记(22)和所述增量标记(24; 24)的传感器装置(16)扫描, 其中,第一和第二解Bruijn的序列(B1,B2)的绝对值的码序列(B)是N阶形成有 彼此跟随,所述第二德布鲁因序列(B2)(B1)是第德布鲁因序列的循环移位,并且其中,具有所述长度的一个第一子序列(UA)的第一德布鲁因序列(B1) N-1的端部和到所述第一子序列(UA)相同的第二子序列(UB)包含长度为N-1,(UA)由奇数个数字的第一子序列偏移量,并且其中,所述第二去Bruijn的序列( B2)从第一德布鲁因序列(B1)循环地移位使得它UB)端部(与第二子序列。