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    • 9. 发明申请
    • VERFAHREN ZUM OPTIMIERTEN SPURFÜHREN
    • 方法以获得最佳TRACK LEAD
    • WO2003105142A1
    • 2003-12-18
    • PCT/EP2003/005902
    • 2003-06-05
    • THOMSON LICENSING S.A.DIETRICH, ChristophBÜCHLER, Christian
    • DIETRICH, ChristophBÜCHLER, Christian
    • G11B7/09
    • G11B7/094G11B7/0901G11B7/0903
    • Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum optimierten Spurführen eines optischen Abtasters entlang einer Spur (1L, 1G) eines optischen Aufzeichnungsträgers, wobei die Spur in dichter Abfolge angeordnete Informationsmarkierungen (3) aufweist, sowie in wesentlich geringerer Dichte grundlegende Eigenschaftsänderungen (1L/1G, 1G/1L) aufweist. Das Verfahren weist folgende Schritte auf: Bilden eines Spurfehlersignals (TE, TECL, PPTE), Detektieren des Auftretens von grundlegenden Eigenschaftsänderungen der Spur (1L, 1G), Bilden eines Offset-Werts (TO) aus dem Vergleich des Werts des Spurfehlersignals (TE, TECL, PPTE), der kurz vor und der kurz nach der grundlegenden Eigenschaftsänderung auftritt, Bilden des Spurfehlersignals (TE, TECL, PPTE) unter Berücksichtigung des Offset-Werts (TO) und Wiederholen der genannten Schritte.
    • 本发明涉及一种用于优化跟踪沿光学记录介质的轨道(1L,1G)引导的光扫描仪的方法,在靠近连续的轨道排列的信息标记(3),和(在低得多的密度基本性质改变1L / 1G,1G / 1L)了。 该方法包括以下步骤:形成一个跟踪误差信号(TE,TECL,PPTE)检测在(1L,1G)的轨道的性质根本性的变化的发生,形成从所述跟踪误差信号的值的比较的偏移值(TO)(TE, 在性质的根本改变后不久之前和不久发生,形成跟踪误差信号(TE,TECL,PPTE),取偏移值的帐户TECL,PPTE)(TO)和重复所述步骤。