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1. 发明申请

WO2023275309A2 FT-SPEKTROMETER-ANORDNUNG MIT ZUSATZDETEKTOR ZUR KALIBRIERUNG DER FREQUENZACHSE UND ZUGEHÖRIGES MESSVERFAHREN 审中-公开
公开(公告)号：WO2023275309A2
公开(公告)日：2023-01-05
申请号：PCT/EP2022/068176
申请日：2022-06-30
申请人： BRUKER OPTICS GMBH & CO. KG
发明人： HARIG, Roland , SIMON, Arno
IPC分类号： G01J3/02 , G01J3/28 , G01J3/45 , G01J3/453 , G01J2003/4538 , G01J3/021 , G01J3/4535
摘要： Die Erfindung betrifft eine FT-Spektrometer-Anordnung (1), umfassend: - eine Lichtquelle (2) für Licht (3), - ein Interferometer (5) mit wenigstens einem Strahlteiler (6) und zwei Interferometerarmen (9, 10), durch das das Licht (3) der Lichtquelle (2) geleitet wird, wobei die Interferometerarme (9, 10) jeweils einen Reflektor (7, 8) aufweisen, - eine Messprobe (12a) an einer Messposition (12), - einen Detektor (13) für das Licht (3), wobei die Messposition (12) im Strahlengang des Lichts (3) zwischen dem Interferometer (5) und dem Detektor (13) angeordnet ist, - einer Vorrichtung (11) zur Veränderung eines optischen Gangunterschieds (GU) zwischen den zwei Interferometerarmen (9, 10), - einem Referenz-Laser (22), mit dem Referenz-Laserlicht (23) durch das Interferometer (5) geleitet wird, und - wenigstens einen Referenz-Detektor (26) zum Vermessen des Referenz-Laserlichts (23), wobei der Referenz-Detektor (26) im Strahlengang des Referenz-Laserlichts (23) hinter dem Interferometer (5) angeordnet ist, die dadurch gekennzeichnet ist, dass weiterhin ein Zusatz-Detektor (14) vorgesehen ist, mit welchem ein Teilstrahl (17) des Lichts (3) vermessbar ist, welcher das Interferometer (5) passiert hat, nicht aber die Messposition (12) passiert hat, und dass mit dem Detektor (13) ein weiterer Teilstrahl (18) des Lichts (3), welcher das Interferometer (5) passiert hat und die Messposition (12) passiert hat, zeitgleich mit einer Vermessung des Teilstrahls (17) am Zusatz-Detektor (14) vermessbar ist. Mit der Erfindung ist auf einfache Weise eine hohe Messgenauigkeit bei hoher Verfügbarkeit der FT-Spektrometer-Anordnung erreichbar.

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