专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明申请

WO2010094751A3 MOBILE PROJECTION SYSTEM FOR SCALING AND ORIENTATION OF SURFACES SURVEYED BY AN OPTICAL MEASURING SYSTEM 审中-公开
标题翻译：通过光学测量系统测量的表面的移动和定向的移动投影系统
公开(公告)号：WO2010094751A3
公开(公告)日：2011-09-22
申请号：PCT/EP2010052081
申请日：2010-02-18
申请人： 3G SOFTWARE & MEASUREMENT GMBH , LENZ GUNTHER , GAICH ANDREAS
发明人： LENZ GUNTHER , GAICH ANDREAS
IPC分类号： G01B11/25
CPC分类号： G01C15/004
摘要： The present invention describes a device for surveying a surface (104) in a real world coordinate system (111). The device comprises a pattern projecting unit (101) adapted for projecting a predefined pattern (105) onto the surface (104), an optical measurement system (102) adapted for determining positional and image data of a projected pattern (106) on the surface (104), wherein the positional and image data are indicative of the predefined pattern (105) in a measuring coordinate system (112), and a processing unit (103) adapted for determining transformation data based on the predefined pattern (105) and the determined positional and image data of the projected pattern (106). The transformation data allow a transformation between the real world coordinate system (111) and the measuring coordinate system (112) to thereby survey the surface (104).
摘要翻译：本发明描述了一种用于测量现实世界坐标系（111）中的表面（104）的装置。该装置包括适于将预定义图案（105）投影到表面（104）上的图案投影单元（101），适于确定表面上的投影图案（106）的位置和图像数据的光学测量系统（102）（104），其中所述位置和图像数据指示测量坐标系（112）中的预定义模式（105）;以及处理单元（103），适于基于所述预定模式（105）和确定投影图案（106）的位置和图像数据。变换数据允许真实世界坐标系（111）和测量坐标系（112）之间的变换，从而测量表面（104）。

2. 发明申请

WO2010094751A2 MOBILE PROJECTION SYSTEM FOR SCALING AND ORIENTATION OF SURFACES SURVEYED BY AN OPTICAL MEASURING SYSTEM 审中-公开
标题翻译：通过光学测量系统测量的表面的移动和定向的移动投影系统
公开(公告)号：WO2010094751A2
公开(公告)日：2010-08-26
申请号：PCT/EP2010/052081
申请日：2010-02-18
申请人： 3G SOFTWARE & MEASUREMENT GMBH , LENZ, Gunther , GAICH, Andreas
发明人： LENZ, Gunther , GAICH, Andreas
CPC分类号： G01C15/004
摘要： The present invention describes a device for surveying a surface (104) in a real world coordinate system (111). The device comprises a pattern projecting unit (101) adapted for projecting a predefined pattern (105) onto the surface (104), an optical measurement system (102) adapted for determining positional and image data of a projected pattern (106) on the surface (104), wherein the positional and image data are indicative of the predefined pattern (105) in a measuring coordinate system (112), and a processing unit (103) adapted for determining transformation data based on the predefined pattern (105) and the determined positional and image data of the projected pattern (106). The transformation data allow a transformation between the real world coordinate system (111) and the measuring coordinate system (112) to thereby survey the surface (104).
摘要翻译：本发明描述了一种用于测量现实世界坐标系（111）中的表面（104）的装置。该装置包括适于将预定义图案（105）投影到表面（104）上的图案投影单元（101），适于确定表面上的投影图案（106）的位置和图像数据的光学测量系统（102）（104），其中所述位置和图像数据指示测量坐标系（112）中的预定义模式（105）;以及处理单元（103），适于基于所述预定模式（105）和确定投影图案（106）的位置和图像数据。变换数据允许真实世界坐标系（111）和测量坐标系（112）之间的变换，从而测量表面（104）。

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式