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    • 4. 发明申请
    • 不揮発性記憶装置、メモリコントローラ及び不良領域検出方法
    • 非易失存储器件,存储器控制器和缺陷区域检测方法
    • WO2007010829A1
    • 2007-01-25
    • PCT/JP2006/313978
    • 2006-07-13
    • 松下電器産業株式会社本多利行真木晋弘小来田重一
    • 本多利行真木晋弘小来田重一
    • G06F12/16
    • G06F11/1068
    •  本発明は、フラッシュメモリ内で固定不良を発生した物理ブロックの使用を制限するために、当該物理ブロックを適確に検出することを目的とする。  ECCエラーレコードに、物理ブロックのエラーの発生履歴や、物理消去の履歴を記録し、発生したエラーが偶発的なものか、固定不良によるものかを判断する。最初の読出しエラー発生後、物理消去して書換えたデータでエラーが再発しないのなら最初のエラーは偶発的であり、なおエラーが発生するのであれば、固定不良によるエラーであると判断する。このようなECCエラーレコードを用いることで、偶発的なエラーか、固定不良によるエラーかを適確に判断できる。その判断にもとづき固定不良の物理ブロックを使わないことで、読出しエラーを低減させるという効果を生む。
    • 可以精确地检测在闪速存储器中造成夹具缺陷的物理块,从而限制物理块的使用。 通过在ECC错误记录中记录生成物理块错误和物理擦除历史的历史,判断发生的错误是偶然的还是由固定缺陷引起的。 在第一次读取错误发生后,在物理擦除重写的数据中没有引起错误时,第一个错误是偶然的,如果发生另一个错误,则判定该错误是由一个夹具缺陷引起的。 通过使用这样的ECC错误记录,可以准确地判断误差是偶然的还是由夹具缺陷引起的。 通过消除被认为具有夹具缺陷的物理块的使用,可以减少读取错误。