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1. 发明申请

WO2010067575A1 光情報処理方法及び光情報処理装置审中-公开
标题翻译：用于处理光信息的方法和处理光信息的装置
公开(公告)号：WO2010067575A1
公开(公告)日：2010-06-17
申请号：PCT/JP2009/006670
申请日：2009-12-07
申请人：三菱電機株式会社 , 金武佑介 , 岸上智 , 清瀬泰広 , 竹下伸夫
发明人：金武佑介 , 岸上智 , 清瀬泰広 , 竹下伸夫
IPC分类号： G11B7/09 , G11B7/125
CPC分类号： G11B7/0945 , G11B7/094 , G11B7/0948 , G11B7/13925
摘要：　ＳＡ量制御装置の移動量及びＦＯ量制御装置の移動量の初期値を点Ａとし、点Ａとｘ座標が異なる点Ｂ，Ｃを設定し、点Ａ～Ｃにおける各性能評価値と各ｘ座標から、性能評価値の２次近似曲線を算出し、予め設定された傾斜を持ち点Ａを通る直線Ｌ上に点Ｄを設定し、２次近似曲線と点Ｄの性能評価値を用いて点Ｅ，Ｆを設定し、点Ｄのｘ座標と等しく点Ａのｙ座標と等しい点Ｊにおける性能評価値を、上記２次近似曲線を基に算出し、点Ｄのｘ座標と等しく点Ｄにおける性能評価値と等しい点Ｇを、予め設定された比ｒ１、及び点Ｊにおける性能評価値を基に算出し、点Ｄ～Ｇを通る楕円５０を算出し、その中心点Ｈを算出し、ＳＡ量制御装置の移動量とＦＯ量制御装置の移動量とによって決まる点が、点Ａから点Ｈに移動するように、ＳＡとＦＯの調整を行う。
摘要翻译：公开了一种方法和装置，其中SA量控制装置的移动程度的初始值和FO量控制装置的移动程度被视为具有不同x轴控制装置的点A，点B和C，来自点A的轴坐标被设置，从各个性能评估值和点A-C的每个相应的x轴坐标计算性能评估值的近似二维曲线，点D设置在具有预设斜率并与点A相交的直线L，使用近似二维曲线和点D的性能评估值来设定点E和F，具有x坐标的点J的性能评估值基于近似的二维线计算相当于点D的x坐标和与点A的y坐标相当的y坐标，具有x坐标等价于x坐标的点G 的D点和基于预设比率r1和点J处的性能评估值计算与点D处的性能评估值相当的性能评估值，计算与点D-G相交的椭圆（50），中心点计算其中的H，并且调整SA和FO，使得根据SA量控制装置的移动程度确定的点和FO量控制装置的移动程度从点A移动到点H.

2. 发明申请

WO2010100826A1 光ディスク判別方法、光ディスク搬送装置、光ディスク装置、光ディスク検査装置及び光ピックアップ検査装置审中-公开
标题翻译：光盘辨别方法，光盘转移方法，光盘装置，光盘检查装置和光拾取检测装置
公开(公告)号：WO2010100826A1
公开(公告)日：2010-09-10
申请号：PCT/JP2010/000678
申请日：2010-02-04
申请人：三菱電機株式会社 , 中原宏勲 , 清瀬泰広 , 的崎俊哉 , 竹下伸夫
发明人：中原宏勲 , 清瀬泰広 , 的崎俊哉 , 竹下伸夫
IPC分类号： G11B7/004 , G11B19/12
CPC分类号： G11B19/128
摘要：　トラックピッチが異なる複数の種類の光ディスクに対応した光ディスク装置であって、発光部（１０３）からの光ビームが入射する光ディスクの記録トラックからの回折光が到来する位置に配された光検出手段（１０４）を有する光ディスク装置において、ローディング中における光ディスク（１０１）と光検出手段（１０４）との位置関係と、光検出手段（１０４）の検出出力とに基づいてローディングされた光ディスクの種類を判別する。簡単な構成で光ディスクの種類の判別が可能となる。
摘要翻译：提供了适用于具有不同轨道间距的多种类型的光盘的光盘装置。光盘装置具有光检测装置（104），该光检测装置被布置在从光发射部分（103）发射的光束进入的光盘的记录轨道入射的衍射光的位置处。光盘装置根据光盘装载时的光盘（101）和光检测装置（104）之间的位置关系以及从光检测装置获得的检测输出来鉴别装载的光盘的类型 104）。可以通过简单的配置来区分光盘的类型。

3. 发明申请

WO2010116734A1 光ディスク再生パワー設定方法、光ディスク再生方法、及び光ディスク装置审中-公开
标题翻译：光盘再现功率设定方法，光盘再现方法和光盘设备
公开(公告)号：WO2010116734A1
公开(公告)日：2010-10-14
申请号：PCT/JP2010/002546
申请日：2010-04-07
申请人：三菱電機株式会社 , 岸上智 , 生田剛一 , 竹下伸夫 , 清瀬泰広 , 金武佑介
发明人：岸上智 , 生田剛一 , 竹下伸夫 , 清瀬泰広 , 金武佑介
IPC分类号： G11B7/005 , G11B7/125
CPC分类号： G11B7/00736 , G11B7/005 , G11B7/1267
摘要：　光ディスクを再生するために照射するレーザーパワーを設定する方法において、光ディスク上の情報が記録された領域を３つ以上のテスト用再生パワーを用いて再生し（Ｓ２２Ｂ）、その再生信号の品質の劣化が所定値に達するまでの再生回数を劣化回数として求め（Ｓ２２Ｆ）、テスト用再生パワーと劣化回数の関係を曲線近似して、所定保証再生回数までの再生信号品質の劣化を所定量以下に抑える再生パワーを求める（Ｓ２５Ｆ）。情報が記録された光ディスクを光学的に再生する際に、光ディスクを再生するために照射するパワーを最適に設定することができ、再生光による情報の劣化を防ぐことができる。
摘要翻译：根据用于设置用于再现记录在光盘上的信息的激光束功率的方法，使用三个或更多个测试再现功率（S22B）再现记录在光盘上的区域中的信息，直到直到劣化的再现次数确定再现信号的质量达到预定值，作为再现的劣化次数（S22F），再现次数与劣化次数之间的关系近似于曲线，再现功率最小化到预定的水平或者降低再现信号质量的劣化，直到再现次数达到预定的保证数量的再现为止（S25F）。当记录在光盘上的信息被光学再现时，可以设置最适合用于再现记录在光盘上的信息的功率，并且可以防止由于再现光引起的信息的劣化。

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